1. 物料型号:
- 型号为Series X55X Universal Zero-Insertion-Force DIP Test Socket。
2. 器件简介:
- 该器件是一个通用的零插入力(ZIF)DIP测试插座,适用于0.300到0.600英寸(7.62到15.24毫米)的引脚间距。
3. 引脚分配:
- 提供了不同引脚数量的插座,包括24、28、32、36、40、42、44、48引脚,行间距为0.300英寸(7.62毫米)或0.600英寸(15.24毫米)。
4. 参数特性:
- 插座体:黑色UL94V-0玻璃填充聚苯硫醚(PPS)。
- 手柄:不锈钢。
- 手柄旋钮:黄铜360,1/2硬度。
- 接触点:BeCu 172,符合QQ-C-533或NiB(自旋隙)。
- 接触点镀层:至少50微米镍底层,符合QQ-N-290,上层镀层为至少200微米亚光锡,符合ASTM B545-97,或200微米90/10锡/铅,符合MIL-T-10727,或至少10微米金,符合MIL-G-45204。
- 电流额定值:1安培。
- 绝缘电阻:至少1000兆欧。
- 耐电压:1000VAC。
- 寿命:25,000至50,000次。
- 工作温度:-67°F(-55°C)至221°F(105°C)适用于锡镀层;302°F(150°C)适用于金镀层;392°F(200°C)适用于NiB镀层。
- 保持力(闭合):基于0.020英寸(0.51毫米)测试引脚,每引脚55克。
5. 功能详解:
- 该插座可以接受0.015到0.045英寸(0.38到1.14毫米)宽,0.110到0.280英寸(2.79到7.11毫米)长的引脚。
- 插座手柄可以配置为在UP或DOWN位置时闭合接触点,并且可以安装在右侧或左侧。
- 插座可以焊接到PCB上或插入任何插座中,适用于Aries或任何竞争性测试插座接口。
6. 应用信息:
- 除了页面上显示的标准产品外,Aries还专门从事定制设计和生产。根据数量,可以提供特殊材料、镀层、尺寸和配置。
7. 封装信息:
- 提供了详细的尺寸和公差信息,所有尺寸单位为英寸[毫米],公差为±0.005英寸[0.13毫米],除非另有规定。
- 提供了订购信息,包括不同的镀层选项和手柄选项。