1. 物料型号:
- XX-X55X-1
2. 器件简介:
- 该PDF文档描述的是Series X55X通用零插入力(Zero-Insertion-Force,简称ZIF)双列直插测试座。它能够接受中心距为0.300至0.600英寸(7.62至15.24毫米)的器件。
3. 引脚分配:
- 提供了行间距(Row-to-Row Spacing)信息,3为0.300英寸(7.62毫米),6为0.600英寸(15.24毫米)。
4. 参数特性:
- 插座体材料:黑色UL 94V-0玻璃填充聚苯硫醚(PPS)
- 手柄:不锈钢
- 手柄旋钮:黄铜360,1/2硬
- 接触材料:BeCu,符合QQ-C-533或NiB(自旋隙)
- 接触镀层:Ni底层至少50微米,Sn镀层至少200微米,或90/10 Sn/Pb镀层,或Au镀层至少10微米
- 接触电流额定值:1安培
- 绝缘电阻:至少1000兆欧
- 耐电压:1000 VAC
- 寿命周期:25,000至50,000次
- 工作温度范围:Sn镀层-67°F至221°F,Au镀层-67°F至302°F,NiB镀层-67°F至392°F
- 保持力(闭合时):每针55克,基于0.020英寸直径测试引脚
- 接受引脚尺寸:宽0.015至0.045英寸,长0.110至0.280英寸
5. 功能详解:
- Aries通用测试座可以接受0.300或0.600英寸中心距的引脚插座。
- 接触通常闭合,以消除对塑料保持接触的依赖。
- 插座手柄可以配置为在UP或DOWN位置时闭合接触(on),并且可以安装在右侧或左侧。
- 插座可以焊接到PCB上或插入任何插座。插座适配Aries或任何竞争性测试插座接口。
6. 应用信息:
- 除了页面上显示的标准产品外,Aries还专门提供定制设计和生产。根据数量,可以提供特殊材料、镀层、尺寸和配置。
7. 封装信息:
- 提供了详细的尺寸信息和公差,以及针对不同引脚数量的计算公式。