物料型号:
- XX-X55X-1
器件简介:
- Series X55X通用测试插座,适用于0.300到0.600英寸(7.62到15.24毫米)的引脚间距。
- 所有引脚数的插座都可以安装到PCB上,引脚间距为0.300或0.600英寸。
- 接触点通常是闭合的,以消除对塑料保持接触的依赖。
- 插座手柄可以配置为在UP或DOWN位置时闭合接触点,并且可以安装在右侧或左侧。
- 插座可以焊接到PCB上或插入任何插座中,兼容Aries或任何竞争品牌的测试插座接口。
引脚分配:
- 提供了24、28、32、36、40、42、44、48引脚的选项,行间距为0.300英寸(7.62毫米)或0.600英寸(15.24毫米)。
参数特性:
- 插座体:黑色UL94V-0玻璃填充聚苯硫醚(PPS)
- 手柄:不锈钢
- 手柄旋钮:黄铜360,1/2硬度
- 接触点:BeCu,每QQ-C-533或NiB(自旋隙)172个
- 接触点镀层:至少50微米Ni底层镀层,根据QQ-N-290,上层镀层可以是200微米Sn(根据ASTM B545-97),200微米90/10 Sn/Pb(根据MIL-T-10727),或至少10微米Au(根据MIL-G-45204)
- 自旋隙接触点镀层:至少50微米NiB
- 接触电流额定值:1安培
- 绝缘电阻:至少1000 mΩ
- 耐电压:1000 VAC
- 寿命周期:25,000至50,000次
- 工作温度范围:Sn镀层-67°F至221°F,Au镀层-67°F至302°F,NiB镀层-67°F至392°F
- 保持力(闭合):基于0.020英寸直径测试引脚,每引脚55g
功能详解:
- 插座设计用于测试和烧录操作,具有高接触可靠性和耐用性。
- 提供定制设计和生产服务,可以根据数量提供特殊材料、镀层、尺寸和配置。
应用信息:
- 适用于需要高可靠性测试插座的电子制造和测试领域。
封装信息:
- 提供了详细的尺寸和公差信息,单位为英寸和毫米。
- 所有尺寸的公差为±0.005英寸(0.13毫米)。