1. 物料型号:
- 型号为Series X55X。
2. 器件简介:
- Series X55X是一个通用零插入力(ZIF)DIP测试插座,适用于0.300到0.600英寸(7.62到15.24毫米)的引脚间距。
3. 引脚分配:
- 提供了不同引脚数量的插座,包括24、28、32、36、40、42、44、48引脚版本,行间距为0.300英寸(7.62毫米)或0.600英寸(15.24毫米)。
4. 参数特性:
- 插座体:黑色UL94V-0玻璃填充聚苯硫醚(PPS)。
- 手柄:不锈钢。
- 手柄旋钮:黄铜360,1/2硬度。
- 接触点:BeCu,172个/QQ-C-533或NiB(自旋隙)。
- 接触点镀层:50微米(1.27微米)最小Ni底层镀层/QQ-N-290,上层镀层为200微米(5.08微米)最小Sn(ASTM B545-97)或200微米(5.08微米)90/10 Sn/Pb(MIL-T-10727)或10微米(0.254微米)Au(MIL-G-45204)。
- 接触电流额定值:1安培。
- 绝缘电阻:1000 mΩ最小。
- 耐电压:1000 VAC。
- 寿命周期:25,000到50,000次。
- 工作温度:Sn镀层-67°F(-55°C)至221°F(105°C);Au镀层-302°F(150°C);NiB镀层-392°F(200°C)。
- 保持力(闭合):基于0.020英寸(0.51毫米)测试引脚的55g/引脚。
5. 功能详解:
- 插座手柄可以配置为在UP或DOWN位置时闭合接触点,可以安装在右侧或左侧。
- 插座可以焊接到PCB上或插入任何插座中,兼容Aries或任何竞争品牌的测试插座接口。
6. 应用信息:
- 适用于需要零插入力操作的DIP器件测试。
7. 封装信息:
- 提供了详细的尺寸和公差信息,所有尺寸单位为英寸[毫米],公差为±0.005英寸[0.13毫米],除非另有说明。