物料型号:
- XX-X55X-1
器件简介:
- Series X55X Universal Zero-Insertion-Force DIP Test Socket是一种通用零插入力DIP测试插座,适用于0.300到0.600英寸(7.62到15.24毫米)的引脚中心间距。
引脚分配:
- 提供了24、28、32、36、40、42、44、48引脚的版本,行间距分别为0.300英寸(7.62毫米)和0.600英寸(15.24毫米)。
参数特性:
- 插座体:黑色UL94V-0玻璃填充聚苯硫醚(PPS)
- 手柄:不锈钢
- 手柄旋钮:黄铜360,1/2硬度
- 接触材料:BeCu,根据QQ-C-533或NiB(自旋隙)
- 接触镀层:50微米(1.27微米)最小Ni底层镀层,根据QQ-N-290,上层镀层为200微米(5.08微米)最小Sn,根据ASTM B545-97,或200微米(5.08微米)90/10 Sn/Pb,根据MIL-T-10727,或10微米(0.254微米)最小Au,根据MIL-G-45204
- 电流额定值:1安培
- 绝缘电阻:1000兆欧最小
- 耐电压:1000伏交流电
- 寿命周期:25,000至50,000次
- 工作温度范围:-67°F(-55°C)至221°F(105°C)对于Sn镀层;302°F(150°C)对于Au镀层;392°F(200°C)对于NiB镀层
- 保持力(闭合时):基于0.020英寸(0.51毫米)直径测试引脚的55克/引脚
功能详解:
- 该插座接受0.015至0.045英寸(0.38至1.14毫米)宽和0.110至0.280英寸(2.79至7.11毫米)长的引脚。
- 插座手柄可以配置为在UP或DOWN位置时闭合接触(on),并且可以安装在右侧或左侧。
- 插座可以焊接到PCB上或插入任何插座中,插座适配Aries或任何竞争性测试插座接口。
应用信息:
- 适用于需要零插入力测试插座的应用,特别是在需要高可靠性和耐用性的测试环境中。
封装信息:
- 提供了详细的尺寸和公差信息,所有尺寸以英寸[毫米]表示,公差为±0.005英寸[0.13毫米],除非另有说明。