1. 物料型号:
- 型号为XX-X55X-1。
2. 器件简介:
- 这是一个通用零插入力(Zero-Insertion-Force, ZIF)DIP测试插座,适用于0.300到0.600英寸(7.62到15.24毫米)的引脚间距。
3. 引脚分配:
- 提供了不同行间距的引脚配置,包括24、28、32、36、40、42、44、48引脚,行间距为0.300英寸(7.62毫米)或0.600英寸(15.24毫米)。
4. 参数特性:
- SOCKET BODY: 黑色UL94V-0玻璃填充聚苯硫醚(PPS)。
- HANDLE: 不锈钢。
- HANDLE KNOB: 黄铜360,1/2硬度。
- CONTACTS: BeCu,根据QQ-C-533或NiB(自旋隙)标准,每QQ-C-533有172个接触点。
- CONTACT PLATING: 最小50μm镍底层,根据QQ-N-290,外层镀锡、锡铅或金,具体厚度和标准依据不同材料有所不同。
- CONTACT CURRENT RATING: 1安培。
- INSULATION RESISTANCE: 最小1000 mΩ。
- DIELECTRIC WITHSTANDING VOLTAGE: 1000 VAC。
- LIFE CYCLE: 25,000到50,000次循环。
- OPERATING TEMPERATURE: 锡镀层操作温度范围为-67°F至221°F,金镀层为-67°F至302°F,NiB镀层为-67°F至392°F。
- RETENTION FORCE (closed): 基于0.020英寸直径测试引脚,每引脚55g。
5. 功能详解:
- 插座手柄可以配置为在UP或DOWN位置时闭合接触点,可以安装在右侧或左侧。
- 插座可以焊接到PCB上或插入任何插座中,兼容Aries或任何竞争品牌的测试插座接口。
6. 应用信息:
- 适用于需要零插入力和高可靠性的DIP器件测试场合。
7. 封装信息:
- 提供了详细的尺寸和公差信息,以及定制选项,可以根据客户需要提供特殊材料、镀层、尺寸和配置。