1. 物料型号:
- 型号为XX-X55X-1。
2. 器件简介:
- 该器件是Series X55X通用零插入力(Zero-Insertion-Force,简称ZIF)DIP测试插座,适用于7.62到15.24毫米的引脚间距。
3. 引脚分配:
- 提供了不同排间距的引脚配置,包括24、28、32、36、40、42、44、48引脚,行间距为0.300英寸(7.62毫米)或0.600英寸(15.24毫米)。
4. 参数特性:
- 插座体材料:黑色UL94V-0玻璃填充聚苯硫醚(PPS)。
- 手柄材料:不锈钢。
- 手柄旋钮材料:黄铜360,1/2硬度。
- 接触材料:BeCu,符合QQ-C-533或NiB(自旋隙)。
- 接触镀层:至少50微米镍底层,外镀200微米锡或90/10锡铅或10微米金。
- 接触电流额定值:1安培。
- 绝缘电阻:至少1000兆欧。
- 耐电压:1000伏交流电。
- 寿命周期:25,000至50,000次。
- 工作温度范围:-55°C至105°C(锡镀层),150°C(金镀层),200°C(NiB镀层)。
- 保持力(闭合状态):基于0.020英寸直径测试引脚,每引脚55克。
5. 功能详解:
- 该插座可以接受0.300或0.600英寸的引脚间距,并且接触通常是闭合的,以消除对塑料保持接触的依赖。
- 插座手柄可以配置为在UP或DOWN位置时闭合接触(on),并且可以安装在右侧或左侧。
- 插座可以焊接到PCB上或插入任何插座中,兼容Aries或任何竞争性测试插座接口。
6. 应用信息:
- 适用于需要零插入力和高可靠性的DIP器件测试。
7. 封装信息:
- 提供了详细的尺寸和公差信息,以及定制选项,可以根据客户需要提供特殊材料、镀层、尺寸和配置。