1. 物料型号:
- 型号为XX-X55X-1,具体型号后缀根据选择的镀层和手柄选项有所不同。
2. 器件简介:
- Series X55X是一款通用零插入力(Zero-Insertion-Force, ZIF)DIP测试插座,适用于0.300到0.600英寸(7.62到15.24毫米)的引脚间距。它支持不同引脚数量的插座,并能在PCB上以0.300或0.600英寸的间距安装。
3. 引脚分配:
- 提供了不同行间距的引脚配置,包括24、28、32、36、40、42、44、48引脚,行间距为0.300英寸(7.62毫米)或0.600英寸(15.24毫米)。
4. 参数特性:
- 插座体材料:黑色UL94V-0玻璃填充聚苯硫醚(PPS)。
- 手柄材料:不锈钢。
- 手柄旋钮材料:黄铜360,1/2硬度。
- 接触材料:BeCu,根据QQ-C-533或NiB(自旋隙)。
- 接触镀层:至少50微米镍底层,上层镀层有锡、锡铅或金的选择。
- 接触电流额定值:1安培。
- 绝缘电阻:至少1000兆欧。
- 耐电压:1000VAC。
- 寿命周期:25,000至50,000次。
- 工作温度范围:-67°F至221°F(锡镀层),302°F(金镀层),392°F(NiB镀层)。
5. 功能详解:
- 插座手柄可以配置为在UP或DOWN位置时接触闭合(ON),并且可以安装在PCB的右侧或左侧。
- 插座可以焊接到PCB上或插入任何插座中,兼容Aries或任何竞争品牌的测试插座接口。
6. 应用信息:
- 适用于需要零插入力操作的DIP器件测试,特别是在自动化测试环境中。
7. 封装信息:
- 提供了详细的尺寸和公差信息,所有尺寸单位为英寸[毫米],公差为±0.005英寸[0.13毫米],除非另有规定。