HLX6228ASN

HLX6228ASN

  • 厂商:

    ETC

  • 封装:

  • 描述:

    HLX6228ASN - 128K x 8 STATIC RAM-Low Power SOI - List of Unclassifed Manufacturers

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HLX6228ASN 数据手册
Military & Space Products HLX6228 128K x 8 STATIC RAM—Low Power SOI FEATURES RADIATION • Fabricated with RICMOS™ IV Silicon on Insulator (SOI) 0.7 µm Low Power Process (Leff = 0.55 µm) • Total Dose Hardness through 1x106 rad(Si) • Neutron Hardness through 1x1014 cm-2 • Dynamic and Static Transient Upset Hardness through 1x109 rad(Si)/s • Dose Rate Survivability through 1x1011 rad(Si)/s • Soft Error Rate of
HLX6228ASN
物料型号: - 型号为HLX6228。

器件简介: - HLX6228是一款128K x 8位的静态随机存取存储器(SRAM),采用Honeywell的辐射硬化技术制造,适用于在辐射环境中工作的低电压系统。该存储器在全军事温度范围内运行,仅需要一个3.3V±0.3V的电源供应。与JEDEC标准的低电压CMOS I/O兼容。在操作中,功耗通常小于9mW/MHz,未选中时小于2mW。读操作完全异步,典型的访问时间为33ns。

引脚分配: - 引脚包括地址输入引脚A(0-16),双向数据引脚DQ(0-7),负芯片选择NCS,负写使能NWE,负输出使能NOE,芯片使能CE等。

参数特性: - 总剂量硬度达到1x10^6 rad(Si),中子硬度达到1x10^14 n/cm^2,动态和静态瞬态翻转硬度达到1x10^9 rad(Si)/s,剂量率存活能力达到1x10^11 rad(Si)/s。软错误率小于1x10^-10次/位-日,在地球同步轨道上。无锁存效应。

功能详解: - 该SRAM在推荐操作条件下,能够读写数据,并在暴露于瞬态辐射脉冲后保留存储的数据。在辐射脉冲期间,由RAM输入、输出和电源供应传导的电流可能会显著超过正常操作水平,应用设计必须适应这些影响。

应用信息: - HLX6228适用于需要在辐射环境中运行的军事和空间应用,如卫星和航天器的电子系统。

封装信息: - 该SRAM提供32引脚和40引脚的平封装选项。封装由多层陶瓷构成,并具有内部电源和地平面。用户可以在封装上安装陶瓷芯片电容器,以最大化电源噪声解耦和提高板包装密度。
HLX6228ASN 价格&库存

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