IS61C67-L15N

IS61C67-L15N

  • 厂商:

    ISSI(芯成半导体)

  • 封装:

  • 描述:

    IS61C67-L15N - 16K X 1 HIGH SPEED CMOS STATIC RAM - Integrated Silicon Solution, Inc

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IS61C67-L15N 数据手册
IS61C67-L15N
物料型号: - IS61C67-15N(15ns速度,低功耗) - IS61C67-L15N(15ns速度,低功耗,L版本) - IS61C67-20N(20ns速度,低功耗) - IS61C67-L20N(20ns速度,低功耗,L版本) - IS61C67-25N(25ns速度,低功耗) - IS61C67-L25N(25ns速度,低功耗,L版本)

器件简介: IS61C67是一款高速、低功耗的16384字节x1位CMOS静态RAM。使用ISSI高性能CMOS双金属技术制造,具有快速访问时间(最大15ns),低功耗(典型工作状态下200mW,待机状态下55mW),TTL待机状态下10uW(L版本),全静态操作无需时钟或刷新,TTL兼容的输入输出,2V数据保持功能用于电池备份(L版本),单5V电源供电。

引脚分配: - $A_0$至$A_{12}$:14个地址输入,选择16384个1位字节中的一个。 - CE:芯片使能输入,低电平有效。 - GND:地。 - WE:写使能输入,低电平有效。 - DIN:数据输入端口,用于写入数据到RAM。 - DOUT:数据输出端口,用于从RAM读取数据。 - Vcc:电源。

参数特性: - 访问时间:15ns、20ns、25ns(最大值) - 工作电压:5V - 工作电流:典型值200mW,待机55mW,TTL待机10uW(L版本) - 数据保持:2V(L版本)

功能详解: IS61C67通过低电平有效的芯片使能输入(CE)和写使能输入(WE)进行读写操作。当CE为高电平时,设备进入待机模式,此时功耗可降至10uW(CMOS输入水平,L版本)。该器件支持通过活动低芯片使能输入进行内存扩展,活动低写使能控制内存的读写。

应用信息: 适用于需要高速访问和低功耗内存的应用场合,如计算机内存、高速缓存等。

封装信息: - 封装类型:Plastic DIP - 300 mil - 温度范围:0°C至+70°C
IS61C67-L15N 价格&库存

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