### 物料型号
- 型号:MCU30P06Y
### 器件简介
- MCU30P06Y是一款采用Split Gate Trench MOSFET技术的P沟道MOSFET。
- 特点包括优秀的稳定性和均匀性,无卤素,符合“绿色”设备标准(注1)。
- 环氧树脂符合UL 94 V-0可燃性等级,无铅表面处理/符合RoHS标准("P"后缀表示RoHS合规,详见订购信息)。
### 引脚分配
- Gate(门极):2
- Drain(漏极):3
- Source(源极):1
### 参数特性
- 最大额定值:
- 工作结温范围:-55°C至+150°C
- 存储温度范围:-55°C至+150°C
- 热阻:50°C/W(结到环境)
- 热阻:1.7°C/W(结到外壳)
### 功能详解
- 电气特性(25°C,除非另有说明):
- 漏源击穿电压(V(BR)DSS):-60V
- 栅源漏电流(IGss):±100nA
- 零栅压漏电流(Ipss):-1A
- 栅阈值电压(VGs(th)):-1.5V至-2.7V
- 漏源导通电阻(Rds(on)):39mΩ至55mΩ
- 栅电阻(RG):12pΩ
- 连续体二极管电流(Is):-30A
- 二极管正向电压(VSD):-1.3V
- 反向恢复时间(trr):24ns
- 反向恢复电荷(Qr):15.4nC
- 输入电容(Ciss):1057pF
- 输出电容(Coss):402pF
- 反向传输电容(Crss):23pF
- 总栅电荷(Qg):19nC
- 栅源电荷(Qgs):4.3nC
- 栅漏电荷(Qgd):2.7nC
- 导通延迟时间(td(on)):8ns
- 导通上升时间(t):4.6ns
- 关闭延迟时间(td(off)):51ns
- 关闭下降时间(t):18ns
### 应用信息
- 该型号适用于需要高稳定性和均匀性的P沟道MOSFET的应用场合。
### 封装信息
- 封装类型:DPAK(TO-252)
- 尺寸:详细的尺寸信息请参考PDF文档中的标记代码部分。