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製品仕様書
Specification of Piezoelectric Ceramic Resonator
決定年月日 Issue Date : May 16, 2019
1. 品番 Part Number
当 社 品 番
Murata Part Number
テーピング品
Taping
バラ品
Bulk
CSTNE16M0V51C000R0
CSTNE16M0V51C000B0
2. 適 用 Scope
当製品仕様書は、車載用マイクロコンピュータ等のクロック発生回路に使用するセラミック発振子(セラ
ロック®)について規定します。この用途以外にご使用の場合には事前に当社へご連絡ください。
This product specification is applied to the piezoelectric ceramic resonator used for time base
oscillator in a microcomputer for automotive application. Please contact us when using this
product for any other applications than described in the above.
3. 外観 及び 寸法
Appearance and Dimensions
3-1 外観
Appearance
: 目視によって表示識別可能であり、汚れ等がありません。
: No illegible marking. No visible dirt.
3-2 セラロック®の外形寸法図
Dimensions of component
: 製品単体の形状を項目6に示します。
: Please refer to item 6 for component dimensions.
3-3 構造
: コンデンサ基板に、圧電セラミック素子を接着し、金属キャッ
プで蓋をしております。
: Resonator element is mounted onto capacitor substrate,
then metal cap covers over the elements.
Construction
4. 定格
Rating
項 目
4-1
4-2
4-3
4-4
4-5
規 格
Item
動作温度範囲
Operating Temperature Range
保存温度範囲
Storage Temperature Range
直流印加電圧
D.C. Voltage
入力信号振幅
A.C. Voltage
耐電圧
Withstanding Voltage
株式会社
村 田
製
Specification
-40 to +125°C
-55 to +125°C
D.C.6V 以下/max.
15Vp-p 以下/max.
D.C.100V 以下/max.
5s 以内/max.
作
所
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5. 電気的性能 Electrical Characteristics
項 目
5-1
5-2
5-3
5-4
5-5
5-6
5-7
規 格
Item
公称発振周波数
Nominal Oscillating Frequency
発振周波数許容偏差 *1 *2
Initial Frequency Tolerance *1 *2
発振周波数温度依存性
(+25゚Cでの発振周波数を基準とする)
Frequency Shift by Temperature
(from initial value at +25°C)
発振周波数エージング *3
Oscillating Frequency Aging *3
共振抵抗 *2
Resonant Impedance *2
内蔵容量 (C1,C2 1MHzにて)
Built-in Load Capacitance (C1,C2 at 1MHz)
絶縁抵抗 (各端子間)
Insulation Resistance (between each terminal)
Specification
16.000MHz
±0.50%以内/max.
±0.30%以内/max.
(-40 to +125°C)
±0.20%以内/max.
(初期値に対し/from initial value)
40Ω以下/max.
5pF±20%以内/max.
(参考値/ ref.)
500MΩ以上/min (D.C.10V 印加時)
(applied D.C.10V)
*1 セラロック®の1番端子と3番端子を逆に接続した場合、±0.60%以内となります。
Terminal (1) and (3) are interchangeable, but if interchange initial tolerance is ±0.60%max.
*2 発振周波数および共振抵抗の測定条件は項目9を参照ください。
Please refer to item 9 for measuring method of oscillating frequency and resonant
impedance.
*3 温度+85±2℃の恒温室中に1000時間保持し、室温に取り出して1時間放置後測定します。
Component shall be left in a chamber at +852°C for 1000 hours, then measured after
leaving at room temperature for 1 hour.
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製
作
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6. 外形寸法図 Dimensions
周波数表示
Frequency Marking
W
L
T
W
周波数表示 : A
Frequency
Marking
1.1max.
L
0.1±0.1
*
: 3.20±0.15
: 1.30±0.15
: 0.90±0.10
: 製造年月度
EIAJ
Monthly Code
*
0.4±0.1
0.1±0.1
3.0max.
: (1)入力
Input
(2)アース
GND
(3)出力
Output
T
端子番号
Terminal
Number
0.50(ref.)
0.50(ref.)
0.50(ref.)
(1)
(3)
(2)
0.4±0.1
0.4±0.1
(推奨ランド寸法)
0.4±0.1
(Recommendable Land Pattern)
1.9
0.4 0.8 0.4 0.8 0.4
0.4±0.1
1.2±0.1
1.2±0.1
単位 : mm
in mm
1.2
1.2
製造年月度
EIAJ Monthly Code
月 Month
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
2011, 2015, 2019, 2023
a
b
c
_
d
e
f
g
j
n
p
q
r
s
t
u
w
k
x
l
y
m
2012, 2016, 2020, 2024
h
v
2013, 2017, 2021, 2025
A
B
C
D
E
F
G
H
J
K
L
M
2014, 2018, 2022, 2026
N
P
Q
R
S
T
U
V
W
X
Y
Z
年 Year
(注) 4年で1サイクルとなります。
(note) The number is cycled by 4years.
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製
作
所
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z
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7. バラ品包装規格 Packaging Standard (Bulk)
最小包装単位(製品500個)毎に包装し、品番、数量及びロット番号を表示します。
Each minimum package unit of components (500 pcs) shall be in a carton box and it shall be
clearly marked with part number, quantity and outgoing inspection number.
8. テーピング品包装規格
Packaging Standard (Taping)
+0.10
3.40 -0.05
(1)
(3)
(2)
(5.2)
3.5±0.05
φ 1.5 +0.1
-0.0
2.0±0.05
8.0±0.2
4.0±0.1
1.75±0.1
8-1 寸法図 Dimensions of Taping
φ 1.0 +0.2
-0.0
4.0±0.1
+0.10
1.50 -0.05
0.1~0.7N
0.1 to 0.7N
The cover film peel strength force
引きはがし
スピード
300mm /分
The cover film peel speed 300mm/min.
(5°)
10゜
引き出し方向
Direction of Feed
(1.40max)
Cover Film
1.10±0.1
カバーテープ
0.25±0.05
引きはがし強度
単位:
mm
in mm
8-1-1
製品の方向は上図の通りとし、裏表反転なきこととします。端子番号は項目6を参照ください。
The direction of component shall be fixed as shown in above dimensions. Please refer to item 6
for the terminal number.
8-1-2
カバーテープの170反転引きはがし強度は0.1~0.7N(参考値)とします。
The peel strength of cover film shall be 0.1 to 0.7N (reference) which measured at 170 degrees
with respect to the carrier tape.
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8-2 リール外形寸法図
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Dimensions of Reel
トレーラー部
Trailer
160~190
160 to 190
空部
Empty
リーダー部
Leader
カバーテープ
Cover Film
チップ装着部
Components
空部
Empty
160 以上/min.
0
180 -1.5
400~560mm
400 to 560mm
Φ
Φ
13.0±0.2
2.0±0.5
9.0 +1.0
0
単位:mm
in mm
13.0±1.0
8-2-1
テープは右巻き(テープの端を手前に取り出した時、送り穴が右側になる向き)とします。
The tape for components shall be wound clockwise. The feeding holes shall be to the right side
as the tape is pulled toward the user.
8-2-2
トレーラー部には160~190mm、リーダー部には160mm以上製品の入っていない部分を設けま
す。リーダー部のテープの長さは製品の入っていない部分を含み400~560mm設けます。
No component shall exist in trailer area of 160 to 190mm and in leader area of 160mm min. at
the tip of the tape. Extended cover film shall exist of 400 to 560 mm including leader area.
8-2-3
テープの巻き終わりは、接着テープ(30~50mm)でカバーテープのリーダー部をリール側面
に貼りつけます。
Leader area at the tip of the cover film shall be attached to the side of reel with adhesive tape
(30 to 50mm).
8-3
1リール3,000個収納とします。
A reel shall contain 3,000pcs of components.
8-4
リール側面に表示ラベルを貼り、当社品番・貴社部品番号・数量及び、検査番号を記入します。
Part Number, Customer's Part Number, Quantity and Outgoing Inspection Number shall be shown
in the label on each reel.
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9. 測定方法 Measuring Method
9-1 発振周波数
: 第1図に示す回路で測定します。測定用回路は当社にて作
製した回路を用います。
: See Figure 1.
The measurement circuit is made by Murata.
Oscillating Frequency
9-2 等価定数
Equivalent Circuit Value
9-3 測定条件
Measuring Condition
: ベクトルインピ-ダンスアナライザ-4294(KEYSIGHT製)ま
たは相当品にて測定します。測定電圧は0.175Vrmsです。
: Vector Impedance Analyzer 4294(KEYSIGHT) or
equivalent is used for the measurement. Applied voltage is 0.175Vrms.
: 温度+25±5℃、湿度20~85%R.H.を標準測定状態とします。
: Standard conditions for the measurement shall be
+25±5°C and 20 to 85%R.H..
VDD
IC:1/6 TC74HCU04 x2
(Toshiba)
出力
Output
5pF
(周波数カウンターへ)
(To Frequency Counter)
VDD:+3.0±0.1V
Rf
1MΩ
CERALOCK
(1)
R
Rf:1MΩ
Rd:68Ω
Rd
(3)
C1
端子番号
Terminal
Number
C2
: (1)入力
Input
(2)アース GND
(3)出力
Output
(2)
第1図
Figure 1.
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発振周波数測定回路図
Measurement circuit of oscillating frequency
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10. 機械的性能 Physical Characteristics
項 目
Item
10-1 衝撃
Mechanical
Shock
10-2 振動
Vibration
10-3 基板たわみ
Board Flex
試験後の規格
Specification
After Test
製 品 を 試 験 用 基 板 に 実 装 し た 状 態 で 、 加 速 度 表1及び5-5を満足しま
100G(980m/s2)、作用時間6msの衝撃を6面に各3回 す。
加えた後、測定します。試験方法はAEC-Q200 REV
Dに準拠します。
Component shall be soldered on the test board. The measured values
Then it shall be measured after being applied 3 shall meet Table 1
successive shocks, 100G(980m/s2) for 6ms in the and Item 5-5.
directions of 6 sides. Testing procedure is in
accordance with AEC-Q200 REV D.
製品を試験用基板に実装した状態で、振動周波数 表1及び5-5を満足しま
10~2000Hz、5G(49m/s2)の振動をX,Y,Zの3方向に す。
各 4 時 間 加 え た 後 、測定します。試験方法はAECQ200 REV Dに準拠します。
Component shall be soldered on the test board. The measured values
Then it shall be measured after being applied shall meet Table 1
vibration of 5G(49m/s2) with 10 to 2000Hz band of and Item 5-5.
vibration frequency to each of 3 perpendicular
direction for 4 hours. Testing procedure is in
accordance with AEC-Q200 REV D.
製品を第 2 図に示すたわみ試験用基板に実装し、下 表1及び5-5を満足しま
図のとおりたわみ量 2mm になるまで毎秒 0.5mm の す。
速さで加圧し、60+5/-0 秒間保持します。試験方法は
AEC-Q200 REV D に準拠します。
Component shall be soldered on the test board The measured values
shown in Figure 2.
shall meet Table 1
Then apply pressure in vertical direction shown in and Item 5-5.
the figure below at a rate of about 0.5mm/s until
bent width reaches 2mm and hold for 60+5/-0
seconds. Testing procedure is in accordance with
AEC-Q200 REV D.
試 験 条 件
Test Condition
加圧棒
20
Stick
加圧
Load
50
PCB
たわみ
φ 5 支持台
φ 5 Supporter
部品
±1センターズレ
±1 Off-Center
Part
45
株式会社
村 田
製
作
所
45
1
Deflection
R340
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10-4 はんだ耐熱
Resistance to
Soldering Heat
(1)リフロー方式
(1) Re-flow
Soldering
製品単品状態でリフロー炉(ピーク温度 260±5℃、 表1及び5-5を満足しま
1.0±0.5 秒、その他条件は 13-4-2 項を参照)に 2 す。
回通した後、室温に取り出し、24 時間放置した後、
測定します。試験方法は IEC60068-2-58 に準拠し
ます。
Component shall be measured after 2 times The measured values
re-flow soldering and leaving at room shall meet Table 1
temperature for 24 hours. For soldering profile, and Item 5-5.
refer to item 13-4-2 (Peak temperature is
260±5°C for 1.0±0.5s). Testing procedure is in
accordance with IEC60068-2-58.
(2)コテ付け方式 PCB上にて温度+350±5℃で5.0±0.5秒間はんだ付 外観に異常がなく、表1
けを行い、室温に24時間放置した後、測定します。 及び5-5を満足します。
但し、はんだこて先は電極部に直接接触しない事と
します。試験方法はIEC60068-2-58に準拠します。
(13-4-3項を参照)
(2)Soldering
Component shall be measured after soldering on No visible damage
with iron
PCB at +350±5°C for 5.0±0.5s and leaving at and the measured
room temperature for 24 hours. The soldering values shall meet
iron shall not touch the component while Table 1 and item 5-5.
soldering. Testing procedure is accordance with
IEC60068-2-58. (Refer to item 13-4-3)
(3)はんだディップ 製品端子部を+260±5゚Cの溶融はんだ中に10±1 表1及び5-5を満足しま
方式
秒間浸した後、室温に取り出し、24時間放置した す。
後、測定します。試験方法はJESD22-B106に準拠
します。
(3)Solder Dip
The terminals of component shall be immersed The measured values
in a soldering bath at +260±5゚C for 10±1s by shall meet Table 1
only to level to cover. Component shall be and Item 5-5.
measured after leaving at room temperature for
24 hours. Testing procedure is in accordance
with JESD22-B106.
10-5 はんだ付性
無鉛はんだ (Sn-3.0Ag-0.5Cu)
端 子 の 90% 以 上 に は
PCT装置にて温度+105℃、湿度100%R.H.の条件 んだが付着します。
で、4時間のエージングをし、端子部分をロジンメタノ
ール液に5秒浸した後、+245±5℃の溶融はんだ中
に3±0.5秒間浸します。試験方法はIEC60068-2-58
に準拠します。
Solderability
Lead free solder (Sn-3.0Ag-0.5Cu)
The solder shall coat
After being kept in pressure cooker at +105°C at least over ninety
and 100%R.H. for 4 hours, and being placed in a (90) % of the terminal
rosin-methanol for 5s, the terminals of compo- surface.
nent shall be immersed in a soldering bath at
+245±5°C for 3±0.5s. Testing procedure is accordance with IEC60068-2-58.
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10-6 固着強度
Terminal
Strength
10-7 耐洗浄性
Washability
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R0.5 の 引 っ か き 治 具 を 使 用 し て 、 矢 印 の 方 向 に 表 1 及び 5-5 を満足し
17.6Nの静荷重を加えて60秒間保持します。試験方 ます。
法はAEC-Q200 REV Dに準拠します。
Component shall be soldered on the test PCB. The measured values
Then a static load of 17.6N using a R 0.5 scratch shall meet Table 1
tool shall be applied on the core of the and Item 5-5.
component and in the direction of the arrow and
held for 60s.Testing procedure is in accordance
with AEC-Q200 REV D.
表2に示します。
外観に異常がなく、表1
及び5-5を満足します。
No visible damage
and the measured
values shall meet Table 1 and 5-5.
See Table 2.
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11. 耐候性能 Environmental Characteristics
試験後の規格
Specification
After Test
11-1 高温放置
製品を試験用基板に実装した状態で、温度+125℃ 表1及び5-5を満足しま
の恒温槽中に1000時間保持した後、室温に取り出 す。
し、24時間放置した後、測定します。試験方法は
AEC-Q200 REV Dに準拠します。
High
Component shall be soldered on the test board. The measured values
Temperature
Then it shall be kept in a chamber at +125°C for shall meet Table 1
Exposure
1000 hours. And then it shall be measured after and Item 5-5.
(Storage)
leaving at room temperature for 24 hours.
Testing procedure is in accordance with AECQ200 REV D.
11-2 低温放置
製品を試験用基板に実装した状態で、温度-55℃の 表1及び5-5を満足しま
恒温槽中に1000時間保持した後、室温に取り出し、 す。
24 時 間 放 置 し た 後 、 測 定 し ま す 。 試 験 方 法 は
IEC60068-2-1に準拠します。
Cold
Component shall be soldered on the test board. The measured values
(Storage)
Then it shall be kept in a chamber at -55C for shall meet Table 1
1000 hours. And then it shall be measured after and Item 5-5.
leaving at room temperature for 24 hours.
Testing procedure is accordance with IEC600682-1.
11-3 高温高湿通電
製品を試験用基板に実装した状態で、温度+85℃, 表1及び5-5を満足しま
湿度85%R.H.の恒温恒湿槽にD.C.6Vを印加しなが す。
ら1000時間保持した後、室温に取り出し、24時間放
置した後、測定します。試験方法はAEC-Q200 REV
Dに準拠します。
Biased Humidity Component shall be soldered on the test board. The measured values
Then it shall be kept in a chamber at +85°C, shall meet Table 1
85%R.H. on loading D.C.6V for 1000 hours. And and Item 5-5.
then it shall be measured after leaving at room
temperature for 24 hours. Testing procedure is in
accordance with AEC-Q200 REV D.
項 目
Item
株式会社
試 験 条 件
Test Condition
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11-4 熱衝撃
製品を試験用基板に実装した状態で、温度-55℃の 表1及び5-5を満足しま
恒温槽中に30分間保持後、温度+125℃の恒温槽 す。
中に直ちに移し、30分間保持する。これを1サイクル
とし、1000サイクル行った後、室温に取り出し、24時
間放置した後、測定します。試験方法はAEC-Q200
REV Dに準拠します。
Temperature
Component shall be soldered on the test board. The measured values
Cycling
After performing 1000 cycles of thermal test (- shall meet Table 1
55℃ for 30 minutes to +125℃ for 30minutes), it and Item 5-5.
shall be measured after leaving at room
temperature for 24 hours. Testing procedure is in
accordance with AEC-Q200 REV D.
11-5 高温通電
製品を試験用基板に実装した状態で、温度+125℃ 表1及び5-5を満足しま
の恒温槽中にD.C,6Vを印加しながら1000時間保持 す。
し、室温に取り出し、24時間放置した後、測定しま
す。試験方法はAEC-Q200 REV Dに準拠します。
Operational Life Component shall be soldered on the test board. The measured values
Then it shall be kept in a chamber at +125°C on shall meet Table 1
loading D.C.6V for 1000 hours. And then it shall and Item 5-5.
be measured after leaving at room temperature
for 24 hours. Testing procedure is in accordance
with AEC-Q200 REV D.
11-6 耐静電性
下記の回路において、電圧EでコンデンサCに蓄えら 表1及び5-5を満足しま
れた電荷を、抵抗Rを介し各端子間に放電した後、 す。
測定します。試験方法はAEC-Q200 REV Dに準拠
します。
Electro Statics
E=±500V , C=150pF , R=2.0kΩ,Direct Contact
The measured values
Discharge
Component shall be measured after applying shall meet Table 1
surge voltage (E) by discharging capacitor (C) and Item 5-5.
through resistor (R). Testing procedure is in
accordance with AEC-Q200 REV D.
E=±500V , C=150pF , R=2.0kΩ,Direct Contact
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表1
Table 1.
項 目
Item
発振周波数
Oscillating Frequency
試験後の変化量
Specification After Test
±0.20%以内(初期値に対し)
±0.20%max. (from initial value)
100
2.8
40
1.2
1.9
0.4
Φ4.5
単位:mm
in mm
基板材質
Board Material
基板厚み
Board Thickness
第2図
Figure 2.
ガラスエポキシ(FR4)
Glass Epoxy(FR4)
1.6mm
たわみ試験用基板
Test Board for Bending Strength Test
8
12
単位:mm
in mm
基板材質
Board Material
基板厚み
Board Thickness
第3図
Figure 3.
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ガラスエポキシ(FR4)
Glass Epoxy(FR4)
1.0mm
試験用基板
Test Board
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表2 Table 2
耐洗浄性 Washability
洗浄液
代替フロン(HCFC)、IPA、純水、
Cleaning
Solvent クリンスルー750H、パインアルファ100S、テクノケアFRW
HCFC, Isopropanol, Tap water, Demineralized water
Cleanthrough750H, Pine alpha 100S, Techno care FRW
項目
Item
製品と洗浄液の
温度差:ΔT
*1
Temperature
Difference: ΔT *1
[ΔT=製品温度
-洗浄液温度]
[ΔT = Component
- solvent]
洗浄条件
Condition
ΔT≦60℃であること。
ΔT≦60°C
(1)
超音波洗浄 液温+60℃以下の上記洗浄液中で周波数28kHz、出力20W/L
の超音波洗浄を1分以下で行います。
Ultrasonic 1 minute max. in above solvent at +60°C max. (Frequency :
Wash
28kHz, Output : 20W/L)
(2)
浸漬洗浄
(3)
(4)
Immersion
Wash
シャワー洗浄
または
すすぎ洗浄
Shower or
Rinse
Wash
乾燥条件
Drying
液温+60℃以下の上記洗浄液中で5分以下の浸漬洗浄を行い
ます。
5 minutes max. in above solvent at +60°C max.
液温+60℃以下の上記洗浄液中で5分以下のすすぎ洗浄また
はシャワー洗浄を行います。
5 minutes max. in above solvent at +60°C max.
+80℃以下のエアーブローで1~5分間乾燥します。
5 minutes max. by air blow at +80°C max.
*1 ex.製品温度+90℃の時、+60℃の洗浄液に浸漬した場合ΔT=30℃となります。
In case the component at +90°C immerses into cleaning solvent at +60°C, then ΔT=30°C.
注意事項 Notice:
1.洗浄を長時間行うと不具合の原因となりますので、トータルで10分以内にして下さい。
Total washing time should be within 10 minutes.
2.実装状態により不具合が発生することがありますので十分評価を行って下さい。
Please insure the component is thoroughly evaluated in your application circuit.
3.塩素系洗浄剤、石油系洗浄剤、アルカリ系洗浄剤での洗浄により不具合が発生すること
がありますので、ご使用はお避け下さい。
The component may be damaged if it is washed with chlorine, petroleum or alkali
cleaning solvent.
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村 田
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12.
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注意 Cautions
12-1 用途の限定 Limitation of Applications
当製品について、その故障や誤動作が人命または財産に危害を及ぼす恐れがある等の理由により、高
信頼性が要求される以下の用途でのご使用をご検討の場合は、必ず事前に当社までご連絡下さい。
①航空機器 ②宇宙機器 ③海底機器 ④発電所制御機器 ⑤医療機器
⑥輸送機器(自動車、列車、船舶等) ⑦交通用信号機器 ⑧防災/防犯機器
⑨情報処理機器 ⑩その他上記機器と同等の機器
Please contact us before using our products for the applications listed below which require
especially high reliability for the prevention of defects which might directly cause damage to the
third party’s life, body or property.
①Aircraft equipment
②Aerospace equipment
③Undersea equipment
④Power plant control equipment
⑤Medical equipment
⑥Transportation equipment (vehicles, trains, ships, etc.)
⑦Traffic signal equipment
⑧Disaster prevention / crime prevention equipment
⑨Data-processing equipment
⑩Applications of similar complexity and/or with reliability requirements to the applications listed
in the above
12-2 フェールセーフ機能の付加 Fail-safe
当製品に万が一異常や不具合が生じた場合でも、二次災害防止のために完成品に適切なフェールセ
ーフ機能を必ず付加して下さい。
Be sure to provide an appropriate fail-safe function on your product to prevent a second damage
that may be caused by the abnormal function or the failure of our product.
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13. 使用上の注意
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Caution for Use
13-1
過大な衝撃が印加された場合、不具合を生じることがありますので取り扱いには 充分ご注意下さい。
The component may be damaged if excess mechanical stress is applied.
13-2
ご使用IC及び発振回路条件により、発振不具合(異常発振あるいは発振停止)が発生する場合がありま
すので、回路条件を充分ご確認の上ご使用下さい。
Irregular or stop oscillation may occur under unmatched circuit conditions.
13-3
当製品は、画像認識タイプの位置決め機構実装機に対応しています。但し、実装条件によっては過大な
衝撃が加わり製品本体を破損する場合がありますので事前に使用される実装機で必ず評価確認をして
下さい。なお、メカチャック機構タイプの実装機での実装は避けて下さい。詳細については事前に当社ま
でお問い合わせ下さい。
The component is recommended with placement machines with employ optical placement
capabilities. The component might be resulted in damage by excessive mechanical force. Please
make sure that you have evaluated by using placement machines before going into mass
production. Do not use placement machines which utilize mechanical positioning. Please contact
Murata for details beforehand.
13-4 はんだ付け Soldering
この製品はリフロー方式で実装をお願いします。フロー方式には対応していません。また、やむを得ずは
んだこてを使用して製品をはんだ付け・修正する場合は、製品に直接こて先がふれないようにしてくださ
い。こて先が製品に直接触れて過剰な熱が加わった場合、圧電素子の特性劣化や製品電極の破損に
つながる恐れがあります。
Please mount component on a circuit board by re-flow soldering. Flow soldering is not acceptable.
Be compelled to mount component by using soldering iron, please do not directly touch the
component with soldering iron. The terminals of component or electrical characteristics may be
damaged if excess thermal stress is applied.
13-4-1 推奨フラックスおよびはんだ
Recommendable Flux and Solder
ロジン系フラックスをお使いください。水溶性フラックスは使用しないでく
フラックス
ださい。
Flux
Please use rosin based flux, but do not use water soluble flux.
はんだ
Solder
Sn-3.0Ag-0.5Cu組成のはんだをご使用ください。
クリームはんだ塗布厚は、0.10~0.15mmの範囲でお願いします。
Please use solder(Sn-3.0Ag-0.5Cu) under the following condition.
Standard thickness of soldering paste : 0.10 to 0.15mm
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13-4-2 推奨はんだ条件
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Recommendable Soldering Profile
温 度 Temperature (°C)
ピーク
Peak
260
245
220
加熱部
Heating
180
150
予熱
Pre-heating
(220°C 以上/min.)
(150-180°C)
60~120s
徐冷
Gradual
Cooling
30~60s
予熱
150°C to 180°C
Pre-heating
60s to 120s
加熱部
220°C 以上/min.
Heating
30s to 60s
ピーク温度
上限/upper limit 260°C 1s 以内/max.
Peak temperature
下限/lower limit 245°C 5s 以内/max.
*温度は部品表面付近で測定します。
*Temperature shall be measured on the surface of component.
13-4-3 推奨こて付け条件
Recommendable Soldering with Iron
はんだこてのこて先温度
Heating of the soldering iron
はんだこてのワット数
Watt
はんだこてのこて先形状
Shape of the soldering iron
はんだ付け時間
Soldering Time
はんだ
Solder
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350°C 以下/max.
30W 以下/max.
φ3mm 以下/max.
1端子あたり5秒 以内
5s max. at one terminal
Sn-3.0Ag-0.5Cu
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13-4-4 はんだ盛り量 Solder Volume
はんだ盛り量は基板の高さ以下にしてください。基板を超えた場合、キャップと基板の封止部
が破損する可能性があります。
Please keep the solder volume less than the height of the substrate. When exceeding the
substrate, the damage of adhesive for sealing between the metal cap and the substrate may
occur.
金属キャップ
Metal Cap
はんだ盛り量
Solder volume
基板
Substrate
13-5
本体を外装樹脂にてコ-ティングする場合は、条件を充分ご確認の上ご使用下さい。
Conformal coating of the component is acceptable. However, the resin material, curing
temperature, and other process conditions should be evaluated to confirm stable electrical
characteristics are maintained.
13-6
実装後に基板から取り外した製品は再使用しないで下さい。
Do not reuse removed component from a circuit board after soldering.
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14. 製品保管上の注意
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Notice on product storage
14-1
温度-10~+40℃、相対湿度15~85%で、急激な温湿度変化のない室内で保管下さい。
Please store the products in room where the temperature / humidity is stable. And avoid such
places where there are large temperature changes. Please store the products under the following
conditions
: Temperature : -10 to +40 °C
Humidity
: 15 to 85% R.H.
14-2
製品保管期限は未開梱、未開封状態にて、納入後6ヶ月間です。納入後6ヶ月以内でご使用下さい。6ヶ
月を越える場合ははんだ付け性等をご確認の上、ご使用下さい。
Expire date (Shelf life) of the products is 6 months after delivery under the conditions of a sealed
and an unopened package. Please use the products within 6 months after delivery.
If you store the products for a long time ( more than 6months ), use carefully because the
products may be degraded in the solder-ability and/or rusty. Please confirm solder-ability and
characteristics for the products regularly.
14-3
酸、アルカリ、塩、有機ガス、硫黄等の化学的雰囲気中で保管されますとはんだ付け性の劣化不良等の
原因となりますので、化学的雰囲気中での保管は避けて下さい。
Please do not store the products in a chemical atmosphere (Acids, Alkali, Bases, Organic gas,
Sulfides and so on), because the characteristics may be reduced in quality, and/or be degraded
in the solder-ability due to the storage in a chemical atmosphere.
14-4
湿気、塵等の影響を避けるため、床への直置きは避けて保管下さい。
Please do not put the products directly on the floor without anything under them to avoid damp
places and/or dusty places.
14-5
直射日光、熱、振動等が加わる場所での保管は避けて下さい。
Please do not store the products in the places under direct sunlight, heat and vibration.
14-6
開梱、開封後、長期保管された場合、保管状況によっては、はんだ付け性等が劣化する可能性がありま
す。開梱、開封後は速やかにご使用下さい。
Please use the products immediately after the package is opened, because the characteristics
may be reduced in quality, and/or be degraded in the solder-ability due to storage under the poor
condition.
14-7
製品落下により、製品内部のセラミック素子の割れ等の原因となりますので、容易に落下しない状態での
保管とお取扱いをお願い致します。
Please do not drop the products to avoid cracking of ceramic element.
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15.
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お願い
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Note:
15-1
ご使用に際しましては、貴社製品に実装された状態で必ず評価して下さい。
Please make sure that your product has been evaluated in view of your specifications with our
product being mounted to your product.
15-2
当製品を当製品仕様書の記載内容を逸脱して使用しないで下さい。
You are requested not to use our product deviating from this product specification.
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