DFE322520FD-2R2M=P2

Spec No.J(E)TE243A-9104C-01 参考図 Reference Only Reference Specifications 型名 1/11 Type DFE3225RFD 外形寸法 Physical Dimensions ■部品質量（参考値） Unit Mass(Typical value) 0.0913 g ※製品本体への表示はありません。 No Marking 単位 Unit ： mm 優先言語 Priority language 優先言語は日本語とする。 Let a priority language be Japanese. MURATA MFG.CO., LTD. Reference Only Spec No.J(E)TE243A-9104C-01 2/11 DFE3225RFD Type 電気的個別性能 Electrical specifications 部品番号 ｲﾝﾀﾞｸﾀﾝｽ Inductance 公称値 許容差 Nominal Tolerance 品番 Part No. Customer's Part No. Value 直流抵抗 定格電流 定格電流 （インダクタンス変 （温度上昇に基づく 化に基づく場合） 場合） Rated Current Based on Based on Inductance Change Temperature rise (mΩ) (Max.) (A) (Max.) (A) (Max.) DC Resistance Rated Current (μＨ) （％） DFE322520FD-1R0M=P2 1.0 ±20 22 7.5 4.1 DFE322520FD-1R5M=P2 1.5 ±20 31 6.0 3.4 DFE322520FD-2R2M=P2 2.2 ±20 46 5.0 2.9 DFE322520FD-3R3M=P2 3.3 ±20 65 4.2 2.3 DFE322520FD-4R7M=P2 4.7 ±20 98 3.4 2.0 （1）ｲﾝﾀﾞｸﾀﾝｽ Inductance ： LCRﾒｰﾀ 4284A(KEYSIGHT）または同等品により測定。（測定周波数 1MHz ､ﾚﾍﾞﾙ 0.5V） ： Measured with a LCR meter 4284A(KEYSIGHT) or equivalent.（Test Freq. 1MHz、Level 0.5V） （2）直流抵抗 DC Resistance ： 抵抗計 3541(HIOKI)または同等品により測定。 ： Measured with a Resistance Hitester 3541(HIOKI) or equivalent. （3）定格電流 ： 定格電流（ｲﾝﾀﾞｸﾀﾝｽ変化に基づく場合）又は定格電流（温度上昇に基づく場合）の 何れか小さい方の直流電流値とします。 ： Value defined when DC current flows and Rated Current (Based on Inductance change) or when DC current flows and Rated Current (Based on Temperature rise) whichever is smaller. Rated Current ・定格電流 ： 定格電流（ｲﾝﾀﾞｸﾀﾝｽ変化に基づく場合）とはｲﾝﾀﾞｸﾀﾝｽが初期値より30%低下した時の 電流値。 ： The saturation allowable DC current value is specified when the decrease of the initial Inductance value at 30%. （ｲﾝﾀﾞｸﾀﾝｽ変化に基づく場合） ・Rated Current (Based on Inductance change) ・定格電流 （温度上昇に基づく場合） ・Rated Current ： 定格電流（温度上昇に基づく場合）とは、試験基板(6層基板)に実装したｲﾝﾀﾞｸﾀに直流を 　 流した時の製品温度上昇が 40℃ に達する電流値。 (Based on Temperature rise) ： Rated Current (Based on Temperature rise) is specified when temperature of the inductor on our PCB(6 layers) for test purpose is raised 40℃ by DC current. （4）絶対最大電圧 Withstand voltage ： 絶対最大電圧は20V DC です。 ： Withstand voltage　20Ｖ DC. *特に指定がない限り、測定は標準状態で行う。 　Unless otherwise specified, measurements are the standard atmospheric condition. MURATA MFG.CO., LTD. Reference Only Spec No.J(E)TE243A-9104C-01 3/11 DFE3225RFD Type 一般仕様 General Specifications 項 目 Item 1 使用温度範囲 規 格 Specification -40 ～ +125℃ 自己温度上昇を含む。(⊿T=40℃ Max.) Including self temperature rise.(⊿T=40℃ Max.) Operating temperature range 2 保存温度範囲 条 件 Condition -40 ～ +85℃ Storage temperature range MURATA MFG.CO., LTD. Spec No.J(E)TE243A-9104C-01 Reference Only DFE3225RFD Type 一般仕様 General Specifications 標準状態 Standard atmospheric conditions 特に指定が無い限り、測定は常温(温度 5～35℃)、常湿(湿度45～85%)、常気圧(気圧86～106kPa)にて行う。 ただし、判定に疑義を生じた場合は温度20±2℃、湿度65±5%、気圧86～106kPaにて行う。 Unless otherwise specified, the standard range of atmospheric conditions in making measurements and test as follows; Ambient temperature : 5℃ to 35℃ , Relative humidity : 45% to 85% , Air pressure : 86kPa to 106kPa If more strict measurement is required, measurement shall be made within following limits; Ambient temperature : 20±2℃ , Relative humidity : 65±5% , Air pressure : 86kPa to 106kPa ﾘﾌﾛｰはんだ条件 Reflow soldering condition ＊ﾘﾌﾛｰ回数 ： 2回まで Reflow times ： 2 times max ＊ﾘﾌﾛｰ炉の熱源には、遠赤外線を推奨致します。 熱源としてﾊﾛｹﾞﾝﾗﾝﾌﾟを使用されますと、輻射熱が 高く、耐熱範囲を超える場合があり推奨できません。 We recommend infrared ray as heat source of reflow bath. However halogen lamp shall be used, side heat will be beyond range of resistance heat, so we can’t recommend it. 推奨ﾊﾟﾀｰﾝ図 Recommended PCB pattern 単位 Unit : mm MURATA MFG.CO., LTD. 4/11 Reference Only Spec No.J(E)TE243A-9104C-01 5/11 DFE3225RFD Type 信頼性試験項目一覧 Reliability Test Item List [1/2] 項 目 Item 1 耐熱性 High temperature exposure AEC-Q200 Test No.3 2 温度ｻｲｸﾙ Temperature cycling 規 格 Specification 初期値に対する Lの変化率 ± 10%以内 Change from an initial value L : within ± 10% 初期値に対する Lの変化率 ± 10%以内 AEC-Q200 Test No.4 Change from an initial value L : within ± 10% 3 耐湿性 Biased humidity 初期値に対する Lの変化率 ± 10%以内 Change from an initial value AEC-Q200 Test No.7 L : within ± 10% 4 高温負荷 Operational life 温度+125±2℃中に 1000±12時間放置後、常温常湿中に 放置し、24±2時間以内に測定。 The specimen shall be stored at a temperature of 125±2℃ for 1000±12 h. Then it shall be stabilized under standard atmospheric conditions. Measurement shall be made within 24±2 h. -40℃(30分)→常温(2分以内)→+125℃(30分)→常温 (2分以内)を1ｻｲｸﾙとし、これを 1000ｻｲｸﾙ行い、 常温常湿中に放置し、24±2時間以内に測定。 The specimen shall be subjected to 1000 continuous cycles of temperature change of -40℃ for 30 min and 125℃ for 30 min with the transit period of 2min or less. Then it shall be stabilized under standard atmospheric conditions. Measurement shall be made within 24±2 h. 温度+85±2℃、湿度85%中に 1000±12時間放置後、 常温常湿中に放置し、24±2時間以内に測定。 The specimen shall be stored at a temperature of 85±2℃ with relative humidity of 85% for 1000±12 h. Then it shall be stabilized under standard atmospheric conditions. Measurement shall be made within 24±2 h. 初期値に対する Lの変化率 ± 10%以内 温度85±2℃中に 1000±12時間定格電流印加後、 常温常湿中に放置し、24±2時間以内に測定。 Change from an initial value L : within ± 10% The specimen shall be stored attime-rating current in temperature 85 ±2 ℃ after 1000±12. Then it shall be stabilized under standard atmospheric conditions. Measurement shall be made within 24±2 h. 外形寸法仕様による デジタルノギスおよび光学顕微鏡を用いて測定 According to specification Measures using digital slide calipers and an optical microscope. 初期値に対する Lの変化率 ± 10%以内 加速度 Peak acceleration ： 981 m/s2 （≒100G） 作用時間 Duration of pulse ： 6 ms 6方向に各3 回（計 18回） ： 3 times in each of 6(±X, ±Y, ±Z) axes. AEC-Q200 Test No.8 5 外形寸法 Physical Dimension 条 件 Condition AEC-Q200 Test No.10 6 耐衝撃性 Mechanical shock AEC-Q200 Test No.13 Change from an initial value L : within ± 10% 7 耐振性 Vibration AEC-Q200 Test No.14 Three successive shock shall be applied in the perpendicular direction of each surface of the specimen. 初期値に対する Lの変化率 ± 10%以内 掃引割合10～2000～10Hz、掃引時間20分、全振幅1.5mm、 5G X･Y･Z 方向に各 4時間（計 12時間）加える。 Change from an initial value L : within ± 10% The specimen shall be subjected to a vibration of 1.5mm amplitude , sweep time 20min , 5G , sweep frequency 10～2000Hz (10Hz to 2000Hz to 10Hz) for 4 h in each of 3(X, Y, Z) axes. MURATA MFG.CO., LTD. Reference Only Spec No.J(E)TE243A-9104C-01 6/11 DFE3225RFD Type 信頼性試験項目一覧 Reliability Test Item List [2/2] 項 目 Item 8 はんだ耐熱性 Resistance to soldering heat 規 格 Specification 条 件 Condition 初期値に対する Lの変化率 ± 10%以内 AEC-Q200 Test No.15 Change from an initial value L : within ± 10% 試験方法 Test method MIL-STD-202G METHOD 210F Test condition Kに基づく。 ﾘﾌﾛｰはんだ Reflow soldering method 温度条件 ・183℃以上　above 183℃ ,　 90～120 s Temperature condition ・250±5℃ , 30±5s 試料を板厚0.8mmｶﾞﾗｽｴﾎﾟｷｼ基板に置き、上記 条件にてﾘﾌﾛｰ炉を3回通す。 Based on MIL-STD-202G METHOD 210F Test condition K. The specimen shall be subjected to the reflow process under the above condition 3 times. Test board shall be 0.8 mm thick. Base material shall be glass epoxy resin. 測定 Measurement 常温常湿中に1時間放置後測定。 The specimen shall be stored at standard atmospheric conditions for 1 h in prior to the measurement. 9 ESD ESD AEC-Q200 Test No.17 10 はんだ付け性 Solderability 初期値に対する Lの変化率 ± 10%以内 Change from an initial value L : within ± 10% 浸漬した電極面の 90% 以上新しいはんだで覆わ れている事。 AEC-Q200 Test No.18 New solder shall cover 90% minimum of the surface immersed. 11 電気的評価 Electrical 電極を常温にてﾌﾗｯｸｽを塗布し下記条件にて ﾌﾟﾘﾋｰﾄ後試料全体をはんだ槽に浸漬する。 J-STD-002 Condition SMD)C Method D Electrode shall be immersed in flux at room temperature and then shall be immersed in solder bath after preheat. ・はんだ付け Soldering 245±5℃ , 5s According to specification To be measured in the range of -40℃ to 125℃. Parametrically test per lot and sample size requirements, summary to show Min, Max, Mean and Standard deviation at roomas well as Min and Max operating temperatures. 初期値に対する Lの変化率 ± 10%以内 矢印の方向に曲げ幅 2mmになるまで毎秒約 0.5mmの速さで 加圧し 60秒間保持する。 Change from an initial value L : within ± 10% Apply pressure gradually in the direction of the arrow at a rate of about 0.5mm/s until bent depth reaches 2mm and hold for 60 s. AEC-Q200 Test No.19 AEC-Q200 Test No.21 Test conditions： 3 times in each of terminals and top side of component. Direct contact discharge：