GRM1555C1H682JE01D

Test Sheet of Chip Multilayer Ceramic Capacitor GRM15(1005M/0402) series [Temperature Compensating Type] Typical Murata Global Part No Size (mm/inch) Temp. Chara. Cap.Value GRM1555C1H822JE01 1005M/0402 C0G 8200pF Cap.Tol. Volt. +/-5% 50V Data No.:QMC-GR1-0192 DATE: 2018.5.28 Murata Manufacturing Co., Ltd. Operating Temperature Range / 使用温度範囲 : -55 ~ +125℃ Tested Item/ 試験項目 1.Adhesive Strength of Termination /固着性 2.Vibration/ 振動 3.Substrate Bending Test/ 耐ﾌﾟﾘﾝﾄ板曲げ性 4.Solderability/ はんだ付け性 5.Resistance to Soldering Heat/ はんだ耐熱性 Tested Condition/ 試験条件 Substrate/基板 : Glass-epoxy Pressurization Power / 加圧力 : 10N (GRM03 : 2N / GRM15,18 : 5N) Keeping Time / 保持時間 : 10±1s Solder Type / はんだ種類 : Sn-3.0Ag-0.5Cu Pressuring Speed/加圧速度 : 0.5 mm/s (GRM03 : 0.1mm/s) Oscillation Frequency/振動周波数 : 10Hz to 55Hz to 10Hz for 1min. Total Amplitude/全振幅 : 1.5 mm Time/時間 : A period of 2 hours in each of 3 mutually perpendicular directions. (Total 6 h) Substrate/基板 : Glass-epoxy (100mm × 40mm × 1.6mm*) * GRM03/15 : t=0.8mm Deflection/たわみ量 : 1mm Keeping Time/保持時間 : 5±1s Pressure jig/加圧治具：R5mm Flux/ﾌﾗｯｸｽ : Ethanol solution of rosin 25(wt)% Solder/はんだ : Sn-3.0Ag-0.5Cu Solder Temperature/はんだ温度 : 245±5℃ Immersion Time/浸せき時間 : 2s±0.5s Immersion Position/浸せき位置 : Covering terminal electrode / 端子電極が隠れるところまで。 Preheat/試験前予熱 : 80 to 120℃ for 10-30 s Solder/はんだ : Sn-3.0Ag-0.5Cu Solder Temperature/はんだ温度 : 270±5℃ Immersion Time/浸せき時間 : 10s±0.5s Immersion Position/浸せき位置 : Covering terminal electrode / 端子電極が隠れるところまで。 Preheating/試験前予熱 : 120 to 150℃ for 60 s *Preheating for GRM32/43/55 Step 1 2 6.Temperature Sudden Change/ 温度急変 Result/試験結果 (Rejection Number/Sample Number) Temperature 100 to 120℃ 170 to 200℃ 0/10 0/10 0/10 0/10 0/10 Time 1 min 1 min 1 Cycle condition/1ｻｲｸﾙ条件 step 1: Min. Operating Temp.(+0℃,-3℃) , 30min±3min step 2: Ordinary Temp.,2min to 3 min step 3: Max. Operating Temp.(+3℃,-0℃) , 30min±3min step 4: Ordinary Temp.,2min to 3 min Cycle/回数 : 5 cycles 7.High Temperature High Humidity(Steady)/ 高温高湿(定常) Temperature/温度 : 40℃±2℃ Humidity/湿度 : 90%(RH) to 95%(RH) Voltage/電圧 : The Rated Voltage/定格電圧 Time/時間 : 500±12h 8.Durability/ 耐久性 Temperature/温度 : Max. Operating Temp.±3℃ Voltage/電圧 : Apply 200% of the rated voltage / 定格電圧 x 200% Time/時間 : 1000±12h Note: These test condition and specification are for the typical item. 0/10 0/10 0/10 Test Result/試験結果データ Data No.:QMC-GR1-0192 Typical Murata Global Part No Size (mm/inch) Temp. Chara. Cap.Value GRM1555C1H822JE01 1005M/0402 C0G 8200pF Confirmed Criteria/ 評価項目 OK OK ±2.5% (within) 1000(min.) 10000 (min.) 0 OK Appearance/外観 No defects /著しい異常はありません。 OK ±2.5% (within) 1000(min.) 10000 (min.) No defects/異常ありません。 OK Appearance/外観 No defects /著しい異常はありません。 OK ±7.5% (within) 200(min.) Initial 3000 2000 1000 0 Initial After test Q IR/絶縁抵抗(MΩ) 350(min.) 1000 (min.) 1E+2 3000 2000 1000 0 Initial After test 7.5 5000 5.0 4000 2.5 3000 0.0 0 Initial After test Initial After test Initial After test Initial After test 1E+5 1E+4 1E+3 1E+5 1000 -5.0 After test 1E+6 2000 -2.5 Initial 1E+2 After test 1E+4 1E+3 1E+2 After test OK 3.0 5000 2.0 4000 1.0 3000 1E+6 1E+5 IR (Mohm) 8.Durability/ 耐久性 ±3% (within) 1E+3 1E+6 Q Capacitance Change/ 静電容量変化率(%) No defects /著しい異常はありません。 1E+4 4000 Initial Cap. change [%] Appearance/外観 After test 1E+5 5000 2.5 2.0 1.5 1.0 0.5 0.0 -0.5 -1.0 -1.5 -2.0 -2.5 500 (min.) 1E+6 4000 -7.5 IR/絶縁抵抗(MΩ) After test 5000 2.5 2.0 1.5 1.0 0.5 0.0 -0.5 -1.0 -1.5 -2.0 -2.5 Initial Voltage Proof/ 耐電圧 After test Q No defects/異常ありません。 Capacitance Change/ 7.High 静電容量変化率(%) Temperature High Humidity(Steady)/ Q 高温高湿(定常) 1000 Initial Voltage Proof/ 耐電圧 IR/絶縁抵抗(MΩ) 2000 7995 Q ±5% or ±0.5pF (within) (Whichever is larger) No defects /著しい異常はありません。 Q MIN. 3000 IR (Mohm) Cap.[pF] OK Appearance/外観 Capacitance Change/ 静電容量変化率(%) 6.Temperature Sudden Change/ 温度急変 No defects /著しい異常はありません。 OK IR/絶縁抵抗(MΩ) 4000 8200 Initial Wetting area/ はんだ付き面積 Q 5000 8405 7790 1000 (min.) 95% of the termination is to be soldered evenly and cotinuously./ 端子電極の95％以上に切れ 目なくはんだが付着してい ます。 Capacitance Change/ 静電容量変化率(%) 5.Resistance to Soldering Heat/ はんだ耐熱性 7790 to 8610pF 8610 Q 4.Solderability / はんだ付け性 Capacitance Change/ 静電容量変化率(%) OK IR (Mohm) No defects /著しい異常はありません。 IR (Mohm) Appearance/外観 Appearance/外観 MAX. Q No defects including no peeling of the termination. OK 端子電極のはく離及びその他 異常はありません。 Capacitance/静電容量 AVE. Specification and Result / 規格値 および 試験結果 Appearance/外観 Q 3.Substrate Bending Test/ 耐ﾌﾟﾘﾝﾄ板曲げ性 50V Cap. change [%] 2.Vibration/ 振動 +/-5% Cap. change [%] 1.Adhesive Strength of Termination /固着性 Volt. Cap. change [%] Tested Item/ 試験項目 Cap.Tol. 0.0 2000 -1.0 1000 -2.0 0 -3.0 Initial After test Initial After test 1E+4 1E+3 1E+2