SCANPSC100FSC

物料型号：SCANPSC100FSC 封装信息：28-Lead Small Outline Integrated Circuit (SOIC), JEDEC MS-013, 0.300 Wide

器件简介： SCANPSC100F是一款嵌入式边界扫描控制器，符合IEEE 1149.1标准。它设计用于将通用并行处理器总线与串行扫描测试总线相连。该设备通过将并行总线上的数据串行化，并通过1149.1兼容组件（即扫描链）进行移位，从而提高扫描吞吐量，并减少与并行处理器一起应用串行模式时的软件开销。

引脚分配： - RST：复位输入 - SCK：系统时钟输入 - OE：输出使能输入 - CE：芯片使能输入 - R/W：读/写选择输入 - STB：总线转换输入 - A(2:0)：地址输入 - D(7:0)：双向数据端口 - INT：中断输出 - RDY：就绪状态输出 - TDO：测试数据输出 - TMS(1:0)：测试模式选择输出 - TCK：测试时钟输出 - TDI：测试数据输入 - FRZ：冻结模式输入

参数特性： - 支持IEEE Std. 1149.1 (JTAG) 测试访问端口和边界扫描架构 - 支持高达25 MHz的TCK频率 - TTL兼容输入；全摆幅CMOS输出，具有24 mA的源/汇能力 - 支持多达两个1149.1扫描链 - 在TDI端口支持16位串行签名压缩（SSC） - 自动在TDO端口产生伪随机模式

功能详解： SCANPSC100F具备多种功能，包括但不限于： - 通过串行扫描接口（SSI）进行数据串行化和去串行化 - 通过并行处理器接口（PPI）进行数据读写操作 - 支持伪随机模式生成和串行签名压缩 - 提供测试时钟控制，以防止溢出和下溢 - 通过32位计数器（CNT32）控制TCK周期数，以完成边界扫描链中的扫描操作或进行内置自测试（BIST）

应用信息： SCANPSC100F适用于需要进行系统级测试的应用，特别是在需要对电路板上的集成电路进行边界扫描测试时。它可以通过Fairchild的SCAN Ease软件工具进行配置和编程，以实现自动化测试。