Silizium-PIN-Fotodiode mit Tageslichtsperrfilter Silicon PIN Photodiode with Daylight Filter
SFH 235 FA
Maße in mm, wenn nicht anders angegeben/Dimensions in mm, unless otherwise specified.
Wesentliche Merkmale
q Speziell geeignet für Anwendungen bei
Features
q Especially suitable for applications of
880 nm q Kurze Schaltzeit (typ. 20 ns) q 5 mm-Plastikbauform im LED-Gehäuse q Auch gegurtet lieferbar Anwendungen
q IR-Fernsteuerung von Fernseh- und
880 nm q Short switching time (typ. 20 ns) q 5 mm LED plastic package q Also available on tape Applications
q IR-remote control of hi-fi and TV sets, video
Rundfunkgeräten, Videorecordern, Lichtdimmern und Gerätefernsteuerungen q Lichtschranken für Gleich- und Wechsellichtbetrieb
tape recorders, dimmers, remote control of various equipment q Photointerrupters
Typ (*vorher) Type (*formerly) SFH 235 FA (*SFH 235)
Bestellnummer Ordering Code Q62702-P273
Semiconductor Group
1
1998-04-20
feo06422
SFH 235 FA
Grenzwerte Maximum Ratings Bezeichnung Description Betriebs- und Lagertemperatur Operating and storage temperature range Löttemperatur (Lötstelle 2 mm vom Gehäuse entfernt bei Lötzeit t ≤ 3 s) Soldering temperature in 2 mm distance from case bottom (t ≤ 3 s) Sperrspannung Reverse voltage Verlustleistung, TA = 25 °C Total power dissipation Symbol Symbol Wert Value – 40 ... + 80 230 Einheit Unit °C °C
Top; Tstg TS
VR Ptot
32 150
V mW
Kennwerte (TA = 25 °C, λ = 870 nm) Characteristics Bezeichnung Description Fotoempfindlichkeit Spectral sensitivity VR = 5 V, Ee = 1 mW/cm2 Wellenlänge der max. Fotoempfindlichkeit Wavelength of max. sensitivity Spektraler Bereich der Fotoempfindlichkeit S = 10 % von Smax Spectral range of sensitivity S = 10 % of Smax Bestrahlungsempfindliche Fläche Radiant sensitive area Abmessung der bestrahlungsempfindlichen Fläche Dimensions of radiant sensitive area Abstand Chipoberfläche zu Gehäuseoberfläche Distance chip front to case surface Halbwinkel Half angle Symbol Symbol Wert Value 50 (≥ 40) Einheit Unit µA
S
λS max λ
900 740 ... 1120
nm nm
A L×B L×W H
7 2.65 × 2.65
mm2 mm × mm
0.6 ... 0.8
mm
ϕ
± 65
Grad deg.
Semiconductor Group
2
1998-04-20
SFH 235 FA
Kennwerte (TA = 25 °C, λ = 870 nm) Characteristics (cont’d) Bezeichnung Description Dunkelstrom, VR = 10 V Dark current Spektrale Fotoempfindlichkeit Spectral sensitivity Quantenausbeute Quantum yield Leerlaufspannung, Ee = 0.5 mW/cm2 Open-circuit voltage Kurzschlußstrom, Ee = 0.5 mW/cm2 Short-circuit current Anstiegs- und Abfallzeit des Fotostromes Rise and fall time of the photocurrent RL = 50 Ω; VR = 5 V; λ = 850 nm; Ip = 800 µA Durchlaßspannung, IF = 100 mA, E = 0 Forward voltage Kapazität, VR = 0 V, f = 1 MHz, E = 0 Capacitance Temperaturkoeffizient von VO Temperature coefficient of VO Temperaturkoeffizient von ISC Temperature coefficient of ISC Rauschäquivalente Strahlungsleistung Noise equivalent power V R = 10 V Nachweisgrenze, VR = 10 V Detection limit Symbol Symbol Wert Value 2 (≤ 30) 0.63 0.9 320 (≥ 250) 22 20 Einheit Unit nA A/W Electrons Photon mV µA ns
IR Sλ
η
VO ISC tr, tf
VF C0 TCV TCI NEP
1.3 72 – 2.6 0.03 4.0 × 10– 14
V pF mV/K %/K W √Hz cm · √Hz W
D*
6.6 × 1012
Semiconductor Group
3
1998-04-20
SFH 235 FA
Relative spectral sensitivity Srel = f (λ)
100
OHF01430
Photocurrent IP = f (Ee), VR = 5 V Open-circuit voltage VO = f (Ee)
ΙP
10 3 µA
OHF01428
Total power dissipation Ptot = f (TA)
10 4 mV
Srel %
80 70 60 50 40 30 20 10 0 400
VO
10 3
160 mW Ptot 140 120 100
OHF00398
10 2
VO
10 1 10 2
80 60
ΙP
10 0 10 1
40 20
10
600 800 1000 nm 1200 λ
-1
10 0
10 1
10 2
µW/cm 2
Ee
10 10 4
0
0
0
20
40
60
80 ˚C 100 TA
Dark current IR = f (VR), E = 0
4000
OHF00080
Capacitance C = f (VR), f = 1 MHz, E = 0
100
OHF00081
Dark current IR = f (TA), VR = 10 V, E = 0
10 3
OHF00082
ΙR
pA
C
pF 80
Ι R nA
10 2
3000
70 60
2000
50 40 30
10 1
1000
10 0
20 10
0 0 5 10 15 V VR 20
0 -2 10
10 -1
10 0
10 1
V 10 2
10 -1
0
20
40
60
VR
80 ˚C 100 TA
Directional characteristics Srel = f (ϕ)
Semiconductor Group
4
1998-04-20
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- 1+14.45599
- 10+13.34399
- 30+13.12159