SVF14N65CFJ 说明书
14A、650V N沟道增强型场效应管
描述
SVF14N65CFJ
微电子的 F-Cell
TM
N 沟道增强型高压功率 MOS 场效应晶体管采用士兰
平面高压 VDMOS 工艺技术制造。先进的工艺及原胞
结构使得该产品具有较低的导通电阻、优越的开关性能及很高的雪崩击穿
耐量。
该产品可广泛应用于 AC-DC 开关电源,DC-DC 电源转换器,高压 H
桥 PWM 马达驱动。
特点
14A,650V,RDS(on)(典型值)=0.6@VGS=10V
低栅极电荷量
低反向传输电容
开关速度快
提升了 dv/dt 能力
命名规则
产品规格分类
产品名称
SVF14N65CFJ
封装形式
打印名称
环保等级
包装
TO-220FJ-3L
14N65CFJ
无卤
料管
杭州士兰微电子股份有限公司
http: //www.silan.com.cn
版本号:1.0
共7页 第1页
SVF14N65CFJ 说明书
极限参数(除非特殊说明,TC=25C)
参 数 名 称
符号
参数范围
单位
漏源电压
VDS
650
V
栅源电压
VGS
±30
V
TC=25°C
漏极电流
TC=100°C
漏极脉冲电流
14
ID
A
8.9
IDM
56
A
45
W
0.36
W/C
EAS
820
mJ
工作结温范围
TJ
-55~+150
C
贮存温度范围
Tstg
-55~+150
C
参数范围
单 位
耗散功率(TC=25C)
- 大于 25C 每摄氏度减少
单脉冲雪崩能量(注 1)
PD
热阻特性
参 数 名 称
符
号
芯片对管壳热阻
RθJC
2.78
C/W
芯片对环境的热阻
RθJA
62.5
C/W
电气参数(除非特殊说明,TC=25C)
参 数 名 称
漏源击穿电压
符号
测试条件
最小值
典型值
最大值
单位
BVDSS
VGS=0V,ID=250µA
650
--
--
V
漏源漏电流
IDSS
VDS=650V,VGS=0V
--
--
1.0
µA
栅源漏电流
IGSS
VGS=±30V,VDS=0V
--
--
±100
nA
VGS(th)
VGS= VDS,ID=250µA
2.0
--
4.0
V
导通电阻
RDS(on)
VGS=10V,ID=7.0A
--
0.60
0.70
输入电容
Ciss
--
1670
--
--
169
--
--
6.2
--
VDD=325V,ID=14A,
--
25.80
--
RG=24
--
44.60
--
--
88.53
--
--
44.40
--
栅极开启电压
输出电容
Coss
反向传输电容
Crss
开启延迟时间
td(on)
开启上升时间
tr
关断延迟时间
td(off)
关断下降时间
tf
VDS=25V,VGS=0V,
f=1.0MHz
(注 2,3)
栅极电荷量
Qg
VDS=520V,ID=14A,
--
32.5
--
栅极-源极电荷量
Qgs
VGS=10V
--
11.6
--
栅极-漏极电荷量
Qgd
--
12.3
--
杭州士兰微电子股份有限公司
http: //www.silan.com.cn
(注 2,3)
pF
ns
nC
版本号:1.0
共7页 第2页
SVF14N65CFJ 说明书
源-漏二极管特性参数
参 数 名 称
符号
测试条件
最小值
典型值
最大值
单位
源极电流
IS
MOS 管中源极、漏极构成的反偏
--
--
14
源极脉冲电流
ISM
P-N 结
--
--
56
源-漏二极管压降
VSD
IS=14A,VGS=0V
--
--
1.3
V
反向恢复时间
Trr
IS=14A,VGS=0V,
--
570
--
ns
反向恢复电荷
Qrr
dIF/dt=100A/µS (注 2)
--
6.01
--
µC
A
注:
1.
L=30mH,IAS=6.66A,VDD=100V,RG=25,开始温度 TJ=25C;
2.
脉冲测试: 脉冲宽度≤300μs,占空比≤2%;
3.
基本上不受工作温度的影响。
典型特性曲线
杭州士兰微电子股份有限公司
http: //www.silan.com.cn
版本号:1.0
共7页 第3页
SVF14N65CFJ 说明书
典型特性曲线(续)
杭州士兰微电子股份有限公司
http: //www.silan.com.cn
版本号:1.0
共7页 第4页
SVF14N65CFJ 说明书
典型测试电路
栅极电荷量测试电路及波形图
与待测器件
参数一致
VGS
Qg
10V
50KΩ
VDS
200nF
12V
300nF
Qgs
Qgd
VGS
待测器件
3mA
电荷量
开关时间测试电路及波形图
RL
VDS
VDS
90%
VGS
VDD
RG
待测器件
10%
VGS
10V
td(on)
tr
ton
td(off)
tf
toff
EAS测试电路及波形图
EAS =
L
VDS
BVDSS
1
2
2 LIAS BVDSS - VDD
BVDSS
ID
IAS
RG
待测器件
10V
ID(t)
VDD
VDS(t)
VDD
tp
tp
杭州士兰微电子股份有限公司
http: //www.silan.com.cn
Time
版本号:1.0
共7页 第5页
SVF14N65CFJ 说明书
封装外形图
TO-220FJ-3L
单位: mm
声明:
士兰保留说明书的更改权,恕不另行通知!客户在下单前应获取最新版本资料,并验证相关信息是否完整和最
新。
任何半导体产品特定条件下都有一定的失效或发生故障的可能,买方有责任在使用 Silan 产品进行系统设计和整
机制造时遵守安全标准并采取安全措施,以避免潜在失败风险可能造成人身伤害或财产损失情况的发生!
产品提升永无止境,我公司将竭诚为客户提供更优秀的产品!
杭州士兰微电子股份有限公司
http: //www.silan.com.cn
版本号:1.0
共7页 第6页
SVF14N65CFJ 说明书
产品名称:
SVF14N65CFJ
文档类型:
说明书
版
权:
杭州士兰微电子股份有限公司
公司主页:
http: //www.silan.com.cn
版
本:
1.0
修改记录:
1.
正式发布版本
杭州士兰微电子股份有限公司
http: //www.silan.com.cn
版本号:1.0
共7页 第7页
很抱歉,暂时无法提供与“SVF14N65CFJ”相匹配的价格&库存,您可以联系我们找货
免费人工找货