SVF20N50F/PN 说明书
士兰微电子
20A、500V N沟道增强型场效应管
描述
2
SVF20N50F/PN 是 N 沟道增强型高压功率 MOS 场效应晶体管,
采用士兰微电子的 F-CellTM 平面高压 VDMOS 工艺技术制造。先进的
1
工艺及条状的原胞设计结构使得该产品具有较低的导通电阻、优越的开
3
关性能及很高的雪崩击穿耐量。
1.栅极 2.漏极 3.源极
该产品可广泛应用于 AC-DC 开关电源,DC-DC 电源转换器,高
压 H 桥 PWM 马达驱动。
特点
20A,500V,RDS(on)(典型值)=0.20@VGS=10V
低栅极电荷量
低反向传输电容
开关速度快
提升了 dv/dt 能力
12
3
12
TO-220F-3L
3
TO-3P
产品规格分类
产 品 名 称
SVF20N50F
SVF20N50PN
封装形式
打印名称
材料
包装
TO-220F-3L
SVF20N50F
无铅
料管
TO-3P
20N50
无铅
料管
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版本号:1.6
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SVF20N50F/PN 说明书
士兰微电子
极限参数(除非特殊说明,TC=25C)
参 数 名称
符号
参数范围
SVF20N50F
单位
SVF20N50PN
漏源电压
VDS
500
V
栅源电压
VGS
±30
V
漏极电流
TC=25C
20.0
ID
TC=100C
漏极脉冲电流
IDM
耗散功率(TC=25C)
80.0
PD
- 大于 25C 每摄氏度减少
单脉冲雪崩能量(注 1)
A
12.6
A
72
252
W
0.58
2.02
W/C
EAS
1596
mJ
工作结温范围
TJ
-55~+150
C
贮存温度范围
Tstg
-55~+150
C
热阻特性
参 数 名 称
符号
参数范围
SVF20N50F
SVF20N50PN
单位
芯片对管壳热阻
RθJC
1.74
0.50
C/W
芯片对环境的热阻
RθJA
62.5
50
C/W
电气参数(除非特殊说明,TC=25C)
参 数 名 称
漏源击穿电压
符 号
测 试 条 件
最小值
典型值
最大值
单位
BVDSS
VGS=0V,ID=250µA
500
--
--
V
漏源漏电流
IDSS
VDS=500V,VGS=0V
--
--
1.0
µA
栅源漏电流
IGSS
VGS=±30V,VDS=0V
--
--
±100
nA
栅极开启电压
VGS(th)
VGS= VDS,ID=250µA
2.0
--
4.0
V
导通电阻
RDS(on)
VGS=10V,ID=10.0A
--
0.20
0.27
输入电容
Ciss
--
2687.7
--
--
355.0
--
输出电容
Coss
VDS=25V,VGS=0V,
f=1.0MHz
反向传输电容
Crss
--
10.3
--
开启延迟时间
td(on)
--
27.2
--
开启上升时间
tr
--
47.5
--
关断延迟时间
td(off)
--
78.7
--
关断下降时间
tf
--
41.1
--
--
49.50
--
--
14.28
--
--
16.95
--
栅极电荷量
栅极-源极电荷量
栅极-漏极电荷量
Qg
Qgs
Qgd
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VDD=250V,RG=10Ω,ID =20.0A
(注 2,3)
VDD=400V,ID=20.0A, VGS=10V
(注 2,3)
pF
ns
nC
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士兰微电子
源-漏二极管特性参数
参 数 名 称
符 号
测试条件
最小值
典型值
最大值
单位
源极电流
IS
MOS 管中源极、漏极构成的反偏
--
--
20.0
源极脉冲电流
ISM
P-N 结
--
--
80.0
源-漏二极管压降
VSD
IS=20.0A,VGS=0V
--
--
1.4
V
反向恢复时间
Trr
IS=20.0A,VGS=0V,
--
570.3
--
ns
反向恢复电荷
Qrr
dIF/dt=100A/µs (注 2)
--
7.35
--
µC
A
注:
1.
L=30mH,IAS=9.9A,VDD=50V,RG=25,开始温度 TJ=25C;
2.
脉冲测试: 脉冲宽度≤300μs,占空比≤2%;
3.
基本上不受工作温度的影响。
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士兰微电子
典型特性曲线
图1. 输出特性
图2. 传输特性
100
变量
VGS=4.5V
VGS=5V
VGS=5.5V
VGS=6V
VGS=7V
10
-55°C
25°C
150°C
漏极电流 – ID(A)
漏极电流 – ID(A)
100
VGS=8V
VGS=10V
VGS=15V
1
1
10
1
注:
1.250µS脉冲测试
2.VDS=50V
注:
1.250µS 脉冲测试
2.TC=25°C
0.1
0.1
10
0.1
100
0
1
2
漏源电压 – VDS(V)
图3. 导通电阻vs.漏极电流、栅极电压
5
VGS=10V
VGS=20V
0.22
0.21
8
4
12
16
注:
1.250µS脉冲测试
2.VGS=0V
0.4
0.6
0.8
1.0
1.2
1.4
源漏电压 – VSD(V)
图5. 电容特性
图6. 电荷量特性
12
Ciss=Cgs+Cgd(Cds=shorted)
Coss=Cds+Cgd
Crss=Cgd
4000
3000
Ciss
Coss
Crss
注:
1. VGS=0V
2. f=1MHz
1000
VDS=400V
VDS=250V
VDS=100V
10
栅源电压 – VGS(V)
5000
电容(pF)
10
1
0.1
0.2
20
6000
8
6
4
注:ID=20.0A
2
0
1
10
漏源电压 – VDS(V)
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9
10
漏极电流 – ID(A)
0
0.1
8
-55°C
25°C
150°C
注:TJ=25°C
2000
7
图4. 体二极管正向压降vs. 源极电流、温度
0.23
0.20
0
6
100
反向漏极电流 – IDR(A)
漏源导通电阻 – RDS(ON)(Ω)
4
栅源电压 – VGS(V)
0.25
0.24
3
100
0
10
20
30
40
50
60
总栅极电荷 – Qg(nC)
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士兰微电子
典型特性曲线(续)
图8. 导通电阻vs.温度特性
漏源导通电阻(标准化) – RDS(ON)
漏源击穿电压(标准化)– BVDSS
图7. 击穿电压vs.温度特性
1.2
1.1
1.0
0.9
注:
1. VGS=0V
2. ID=250µA
0.8
-100
-50
0
50
100
150
3.0
2.5
2.0
1.5
1.0
注:
1. VGS=10V
2. ID=10.0A
0.5
0.0
-100
200
结温 – TJ(°C)
0
50
100
10
2
100µs
100µs
1ms
1ms
漏极电流 - ID(A)
漏极电流 - ID(A)
DC
此区域工作受限于RDS(ON)
注:
1.TC=25°C
2.Tj=150°C
3.单个脉冲
10-1
10-2
101
10ms
100
101
102
103
漏源电压 - VDS(V)
10ms
DC
100
10-1
10-2
100
200
图9-2. 最大安全工作区域(SVF20N50PN)
2
101
150
结温 – TJ(°C)
图9-1. 最大安全工作区域(SVF20N50F)
10
-50
100
此区域工作受限于RDS(ON)
注:
1.TC=25°C
2.Tj=150°C
3.单个脉冲
101
102
103
漏源电压 - VDS(V)
图10. 最大漏极电流vs. 壳温
20
漏极电流 - ID(A)
16
12
8
4
0
25
50
75
100
125
150
壳温 – TC(°C)
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典型测试电路
栅极电荷量测试电路及波形图
与待测器件
参数一致
VGS
12V
Qg
10V
50KΩ
VDS
200nF
300nF
Qgs
Qgd
VGS
待测器件
3mA
电荷量
开关时间测试电路及波形图
RL
VDS
VDS
90%
VGS
VDD
RG
待测器件
10%
VGS
10V
tr
ton
td(on)
td(off)
tf
toff
EAS测试电路及波形图
EAS =
L
VDS
BVDSS
1
2
2 LIAS BVDSS - VDD
BVDSS
ID
IAS
RG
VDD
10V
ID(t)
待测器件
VDS(t)
VDD
tp
tp
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Time
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士兰微电子
封装外形图
TO-220F-3L
单位:毫米
A
A1
E
MILLIMETER
SYMBOL
P
Q
H1
MIN
NOM
MAX
A
4.42
4.70
5.02
A1
2.30
2.54
2.80
A3
2.50
2.76
3.10
b
0.70
0.80
0.90
b2
D
D1
L1
1.47
c
0.35
0.50
0.65
D
15.25
15.87
16.25
D1
15.30
15.75
16.30
D2
9.30
9.80
10.30
E
9.73
10.16
10.36
e
b2
L
D2
2.54BSC
H1
6.40
6.68
7.00
L
12.48
12.98
13.48
L1
P
e
c
A3
Q
b
3.50
3.00
3.18
3.40
3.05
3.30
3.55
TO-3P
单位:毫米
D
A
c1
F2
SYMBOL
A
L2
L
L1
C1
A1
b1
b2
b
MILLIMETER
MIN
4.4
1.2
http: //www.silan.com.cn
1.8
b
0.7
1
1.3
b1
2.7
3
3.3
b2
1.7
2
2.3
D
15
15.5
16
C
0.4
0.8
F2
8.5
0.6
__
L
杭州士兰微电子股份有限公司
__
5.2
1.2
L1
c
__
MAX
A1
e
e
NOM
__
L2
22.6
39
19.5
5.45typ
__
__
__
2
10
23.6
41.5
21
版本号:1.6
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SVF20N50F/PN 说明书
士兰微电子
重要注意事项:
士兰保留说明书的更改权,恕不另行通知。客户在下单前应获取我司最新版本资料,并验证相关信息是否最新
和完整。
我司产品属于消费类和/或民用类电子产品。
在应用我司产品时请不要超过产品的最大额定值,否则会影响整机的可靠性。任何半导体产品特定条件下都有
一定的失效或发生故障的可能,买方有责任在使用我司产品进行系统设计、试样和整机制造时遵守安全标准并
采取安全措施,以避免潜在失败风险可能造成人身伤害或财产损失情况的发生。
购买产品时请认清我司商标,如有疑问请与本公司联系。
转售、应用、出口时请遵守中国、美国、英国、欧盟等国家、地区和国际出口管制法律法规。
产品提升永无止境,我公司将竭诚为客户提供更优秀的产品!
我司网站 http: //www.silan.com.cn
产品名称:
SVF20N50F/PN
文档类型:
说明书
版
权:
杭州士兰微电子股份有限公司
公司主页:
http: //www.silan.com.cn
版
本:
1.6
修改记录:
1.
版
删除命名规则
本:
1.5
修改记录:
1.
版
修改 TO-220F-3L 封装信息
本:
1.4
修改记录:
1.
版
修改热阻特性
本:
1.3
修改记录:
1.
版
修改产品规格分类
本:
1.2
修改记录:
1.
版
修改 MOS 管符号的示意图
本:
1.1
修改记录:
1.
增加 TO-3PN 封装
2.
修改“电性参数”和“典型特性曲线”
版
本:
1.0
修改记录:
1.
原版
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- 10+1.86429
- 30+1.83322
- 100+1.74000