SVF4N60RD(M)说明书
4A、600V N沟道增强型场效应管
描述
SVF4N60RD(M)
用士兰微电子的 F-Cell
N 沟道增强型高压功率 MOS 场效应晶体管采
TM
平面高压 VDMOS 工艺技术制造。先进的工
艺及原胞结构使得该产品具有较低的导通电阻、优越的开关性能及很高
的雪崩击穿耐量。
该产品可广泛应用于 AC-DC 开关电源,DC-DC 电源转换器,高
压 H 桥 PWM 马达驱动。
特点
4A,600V,RDS(on)(典型值)=2.0@VGS=10V
低栅极电荷量
低反向传输电容
开关速度快
提升了 dv/dt 能力
产品规格分类
产 品 名 称
封装形式
打印名称
环保等级
包装
SVF4N60CADTR
TO-252-2L
4N60RD
无卤
编带
SVF4N60CAMN
TO-251D-3L
4N60RD
无卤
料管
杭州士兰微电子股份有限公司
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版本号:1.0
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SVF4N60RD(M)说明书
极限参数(除非特殊说明,TC=25C)
参 数 名称
参数范围
符号
单位
SVF4N60RD\M
漏源电压
VDS
600
V
栅源电压
VGS
±30
V
漏极电流
TC=25C
TC=100C
漏极脉冲电流
4.0
ID
A
2.5
16
A
77
W
0.62
W/C
EAS
217
mJ
工作结温范围
TJ
-55~+150
C
贮存温度范围
Tstg
-55~+150
C
耗散功率(TC=25C)
- 大于 25C 每摄氏度减少
单脉冲雪崩能量(注 1)
IDM
PD
热阻特性
参 数 名 称
参数范围
符号
单位
SVF4N60RD\M
芯片对管壳热阻
RθJC
1.61
C/W
芯片对环境的热阻
RθJA
62.0
C/W
电气参数(除非特殊说明,TC=25C)
参 数 名 称
漏源击穿电压
符 号
测 试 条 件
最小值
典型值
最大值
单位
BVDSS
VGS=0V,ID=250µA
600
--
--
V
漏源漏电流
IDSS
VDS=600V,VGS=0V
--
--
1.0
µA
栅源漏电流
IGSS
VGS=±30V,VDS=0V
--
--
±100
nA
栅极开启电压
VGS(th)
VGS= VDS,ID=250µA
2.0
--
4.0
V
导通电阻
RDS(on)
VGS=10V, ID=2.0A
--
2.0
2.4
输入电容
Ciss
--
450
--
--
50
--
--
4.0
--
VDD=300V,ID=4A,
--
10.53
--
RG=25
--
26.36
--
--
24.62
--
--
25.36
--
输出电容
Coss
反向传输电容
Crss
开启延迟时间
td(on)
开启上升时间
tr
关断延迟时间
td(off)
关断下降时间
tf
VDS=25V,VGS=0V,
f=1.0MHz
(注 2,3)
栅极电荷量
Qg
VDS=480V,ID=4A,
--
12.8
--
栅极-源极电荷量
Qgs
VGS=10V
--
3.82
--
栅极-漏极电荷量
Qgd
--
5.88
--
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(注 2,3)
pF
ns
nC
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源-漏二极管特性参数
参 数 名 称
符 号
测试条件
最小值
典型值
最大值
单位
源极电流
IS
MOS 管中源极、漏极构成的反偏
--
--
4.0
源极脉冲电流
ISM
P-N 结
--
--
16
源-漏二极管压降
VSD
IS=4.0A,VGS=0V
--
--
1.4
V
反向恢复时间
Trr
IS=4.0A,VGS=0V,
--
486
--
ns
反向恢复电荷
Qrr
dIF/dt=100A/µs (注 2)
--
1.75
--
µC
A
注:
1.
L=30mH,IAS=3.75A,VDD=100V,RG=25,开始温度 TJ=25C;
2.
脉冲测试: 脉冲宽度≤300μs,占空比≤2%;
3.
基本上不受工作温度的影响。
典型特性曲线
图1.输出特性
图2.传输特性
100
VGS=4.5V
VGS=5V
VGS=5.5V
VGS=6V
VGS=7V
VGS=8V
VGS=10V
VGS=15V
1
-55°C
25°C
150°C
漏极电流 – ID(A)
漏极电流 – ID(A)
10
0.1
10
1
注:
1.250µS 脉冲测试
2.TC=25°C
0.01
0.1
1
10
注:
1.250µS脉冲测试
2.VDS=50V
0.1
100
0
1
2
漏源电压 – VDS(V)
图3. 导通电阻vs.漏极电流和栅极电压
5
6
7
8
9 10
图4. 体二极管正向压降vs.源极电流、温度
100
2.8
VGS=10V
VGS=20V
2.6
反向漏极电流 – IDR(A)
漏源导通电阻 – RDSON)(Ω)
4
栅源电压– VGS(V)
3.0
2.4
2.2
2.0
1.8
1.6
1.4
3
-55°C
25°C
150°C
10
注:
1.250µS脉冲测试
2.VGS=0V
1
注:TJ=25°C
0
1
2
3
漏极电流 – ID(A)
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4
5
0.1
0.2
0.4
0.6
0.8
1.0
1.2
1.4
源漏电压 – VSD(V)
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典型特性曲线(续)
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典型测试电路
栅极电荷量测试电路及波形图
与待测器件
参数一致
VGS
Qg
10V
50KΩ
VDS
200nF
12V
300nF
Qgs
Qgd
VGS
待测器件
3mA
电荷量
开关时间测试电路及波形图
RL
VDS
VDS
90%
VGS
VDD
RG
待测器件
10%
VGS
10V
td(on)
tr
ton
td(off)
tf
toff
EAS测试电路及波形图
EAS =
L
VDS
BVDSS
1
2
2 LIAS BVDSS - VDD
BVDSS
ID
IAS
RG
待测器件
10V
ID(t)
VDD
VDS(t)
VDD
tp
tp
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Time
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封装外形图(续)
单位:毫米
L4
TO-252-2L
TO-251D-3L
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单位:毫米
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声明:
士兰保留说明书的更改权,恕不另行通知!客户在下单前应获取最新版本资料,并验证相关信息是否完整和最
新。
任何半导体产品特定条件下都有一定的失效或发生故障的可能,买方有责任在使用 Silan 产品进行系统设计和整
机制造时遵守安全标准并采取安全措施,以避免潜在失败风险可能造成人身伤害或财产损失情况的发生!
产品提升永无止境,我公司将竭诚为客户提供更优秀的产品!
产品名称:
SVF4N60RD(M)
文档类型:
说明书
版
权:
杭州士兰微电子股份有限公司
公司主页:
http: //www.silan.com.cn
版
本:
1.0
修改记录:
1.
正式版本发布
杭州士兰微电子股份有限公司
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版本号:1.0
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