SVF4N65RD/M/MJ/F/T 说明书
士兰微电子
4A、650V N沟道增强型场效应管
描述
2
SVF4N65RD/M/MJ/F/T N 沟道增强型高压功率 MOS 场效应晶体
管采用士兰微电子的 F-CellTM 平面高压 VDMOS 工艺技术制造。先进的
1
1
工艺及元胞结构使得该产品具有较低的导通电阻、优越的开关性能及很
3
TO-252-2L
高的雪崩击穿耐量.
3
该产品可广泛应用于 AC-DC 开关电源,DC-DC 电源转换器,高压
1.栅极 2.漏极 3.源极
H 桥 PWM 马达驱动.
1
特点
23
1
TO-251D-3L
4A,650V,RDS(on)(典型值)=2.3@VGS=10V
低栅极电荷量
低反向传输电容
开关速度快
提升了 dv/dt 能力
12
3
TO-220F-3L
2
3
TO-251J-3L
12
3
TO-220-3L
命名规则
S V F X N X X R X
士兰F-Cell工艺VDMOS产品标识
额定电流标识,采用1-2位数字;
例如:4代表 4A
封装外形标识
例如:FJH:TO-220FJH;
F:TO-220F
版本
额定耐压值,采用2位数字
例如:60表示600V
沟道极性标识,N代表N 沟道
产品规格分类
产品名称
封装形式
打印名称
环保等级
包装方式
TO-252-2L
4N65RD
无卤
编带
SVF4N65RM
TO-251D-3L
4N65RM
无卤
料管
SVF4N65RMJ
TO-251J-3L
4N65RMJ
无卤
料管
SVF4N65RF
TO-220F-3L
SVF4N65RF
无卤
料管
SVF4N65RT
TO-220-3L
SVF4N65RT
无铅
料管
SVF4N65RDTR
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士兰微电子
极限参数(除非特殊说明,TC=25C)
参数名称
符号
参数范围
SVF4N65RM/D/MJ
SVF4N65RF
SVF4N65RT
单位
漏源电压
VDS
650
V
栅源电压
VGS
±30
V
TC=25C
漏极电流
TC=100C
漏极脉冲电流
耗散功率(TC=25C)
- 大于 25C 每摄氏度减少
单脉冲雪崩能量(注 1)
4.0
ID
IDM
PD
A
2.5
16
A
77
30
100
W
0.62
0.24
0.80
W/C
EAS
215
mJ
工作结温范围
TJ
-55~+150
C
贮存温度范围
Tstg
-55~+150
C
热阻特性
参数名称
符号
参数范围
SVF4N65RM/D/MJ
SVF4N65RF
SVF4N65RT
单位
芯片对管壳热阻
RθJC
1.62
4.17
1.25
C/W
芯片对环境的热阻
RθJA
62.0
62.5
62.5
C/W
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共 10 页 第 2 页
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士兰微电子
关键特性参数(除非特殊说明,TC=25C)
参数名称
漏源击穿电压
符号
测试条件
最小值
典型值
最大值
单位
BVDSS
VGS=0V,ID=250µA
650
--
--
V
漏源漏电流
IDSS
VDS=650V,VGS=0V
--
--
1.0
µA
栅源漏电流
IGSS
VGS=±30V,VDS=0V
--
--
±100
nA
栅极开启电压
VGS(th)
VGS= VDS,ID=250µA
2.0
--
4.0
V
导通电阻
RDS(on)
VGS=10V,ID=2.0A
--
2.3
2.7
输入电容
Ciss
--
440
--
--
50
--
--
4.0
--
--
10
--
--
26
--
--
25
--
--
26
--
--
13
--
--
3.0
--
--
6.3
--
输出电容
Coss
反向传输电容
Crss
开启延迟时间
td(on)
开启上升时间
tr
关断延迟时间
td(off)
关断下降时间
tf
栅极电荷量
栅极-源极电荷量
栅极-漏极电荷量
Qg
Qgs
VDS=25V,VGS=0V,
f=1.0MHz
VDD=325V,VGS=10V,
RG=25Ω,ID=4A
(注 2,3)
VDD=520V,VGS=10V,ID=4A
(注 2,3)
Qgd
pF
ns
nC
源-漏二极管特性参数
参数名称
符号
测试条件
最小值
典型值
最大值
单位
源极电流
IS
MOS 管中源极、漏极构成的反偏 P-N
--
--
4.0
源极脉冲电流
ISM
结
--
--
16
源-漏二极管压降
VSD
IS=4.0A,VGS=0V
--
--
1.4
V
反向恢复时间
Trr
IS=4.0A , VGS=0V , dIF/dt=100A/µs
--
450
--
ns
反向恢复电荷
Qrr
(注 2)
--
1.9
--
µC
A
注:
1.
L=30mH,IAS=3.6A,VDD=100V,RG=25,开始温度 TJ=25C;
2.
脉冲测试: 脉冲宽度≤300μs,占空比≤2%;
3.
基本上不受工作温度的影响。
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士兰微电子
典型特性曲线
图1. 输出特性
图2. 传输特性
100
VGS=4.5V
VGS=5V
VGS=5.5V
VGS=6V
VGS=7V
1
-55°C
25°C
150°C
漏极电流 – ID(A)
漏极电流 – ID(A)
10
VGS=8V
VGS=10V
VGS=15V
0.1
10
1
注:
1.250µS 脉冲测试
2.TC=25°C
注:
1.250µS脉冲测试
2.VDS=50V
0.1
0.01
0.1
1
10
100
0
1
2
漏源电压 – VDS(V)
图3. 导通电阻vs.漏极电流
6
7
8
9
10
图4. 体二极管正向压降vs. 源极电流、温度
4.50
VGS=10V
VGS=20V
反向漏极电流 – IDR(A)
漏源导通电阻 – RDS(ON)(Ω)
5
100
4.00
3.50
3.00
2.50
2.00
-55°C
25°C
150°C
10
1
注:
1.250µS脉冲测试
2.VGS=0V
注:TJ=25°C
0
1
2
3
4
5
6
7
0.1
0.2
8
0.4
0.6
图5. 电容特性
1.4
1.6
图6. 电荷量特性
Ciss=Cgs+Cgd(Cds=shorted)
Coss=Cds+Cgd
Crss=Cgd
700
栅源电压 – VGS(V)
500
Ciss
Coss
Crss
注:
1. VGS=0V
2. f=1MHz
200
6
4
注:ID=4.0A
0
1
10
漏源电压 – VDS(V)
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8
2
100
0
0.1
VDS=520V
VDS=325V
VDS=130V
10
600
300
1.2
1.0
12
800
400
0.8
源漏电压 – VSD(V)
漏极电流 – ID(A)
电容(pF)
4
栅源电压 – VGS(V)
5.00
1.50
3
100
0
3
6
12
9
15
总栅极电荷 – Qg(nC)
版本号:1.2
共 10 页 第 4 页
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士兰微电子
典型特性曲线(续)
图8. 导通电阻vs.温度特性
漏源导通电阻(标准化) – RDS(ON)
漏源击穿电压(标准化)– BVDSS
图7. 击穿电压vs.温度特性
1.2
1.1
1.0
0.9
注:
1. VGS=0V
2. ID=250µA
0.8
-100
-50
0
50
150
100
3.0
2.5
2.0
1.5
1.0
注:
1. VGS=10V
2. ID=2.0A
0.5
0.0
-100
200
-50
结温 – TJ(°C)
10
10
100µs
漏极电流 - ID(A)
漏极电流 - ID(A)
此区域工作受限于RDS(ON)
1
1ms
0
10ms
DC
10-1
10-2
注:TC=25°C
100
101
102
1
10ms
100
DC
10-1
10-2
103
100µs
1ms
注:TC=25°C
100
101
漏源电压 - VDS(V)
图9-3. 最大安全工作区域(SVF4N65RT)
103
图 10. 最大漏极电流vs. 壳温
4.5
4.0
此区域工作受限于RDS(ON)
3.5
101
100µs
漏极电流 - ID(A)
漏极电流 - ID(A)
102
漏源电压 - VDS(V)
102
1ms
10ms
100
DC
10-1
10
200
2
此区域工作受限于RDS(ON)
10
150
100
图9-2. 最大安全工作区域(SVF4N65RF)
2
10
50
结温 – TJ(°C)
图9-1. 最大安全工作区域(SVF4N65RD/M/MJ)
10
0
0.5
注:TC=25°C
0
101
102
漏源电压 - VDS(V)
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2.5
2.
0
1.5
1.0
-2
100
3.0
103
25
50
75
100
125
150
壳温 – TC(°C)
版本号:1.2
共 10 页 第 5 页
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士兰微电子
典型测试电路
与待测器件
参数一致
VGS
Qg
10V
VDS
VGS
Qgs
待测
器件
Qgd
Vgs(th)
Ig
Qg(th)
Charge
栅极电荷量测试电路及波形图
RL
VDS
VDS
90%
VGS
待测
器件
RG
VDD
10%
VGS
VGS
td(on)
td(off)
tr
ton
tf
toff
开关时间测试电路及波形图
L
EAS =
VDS
BVDSS
1
2
2 LIAS BVDSS VDD
BVDSS
ID
RG
VGS
IAS
待测
器件
VDD
ID(t)
VDS(t)
VDD
tp
tp
Time
EAS测试电路及波形图
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士兰微电子
封装外形图
TO-252-2L
单位:毫米
MIN
NOM
MAX
A
SYMBOL
2.10
2.30
2.50
A1
0
---
0.127
b
0.66
0.76
0.89
b3
5.10
5.33
5.46
c
0.45
---
0.65
c2
0.45
---
0.65
D
E
5.80
6.30
6.10
6.60
6.40
6.90
e
Eject pin(note1)
2.30TYP
H
9.60
10.10
10.60
L
1.40
1.50
1.70
L1
2.90REF
0.60
0.80
1.00
L4
L4
NOTE1:There are two conditions for this position:has an eject pin or has no eject pin.
TO-251D-3L
单位:毫米
E
SYMBOL
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MIN
NOM
MAX
A
2.20
2.40
b
0.66
2.30
---
b2
0.72
---
0.86
0.90
b3
5.10
c2
0.46
---
0.60
D
6.00
6.10
6.20
E
6.50
6.60
6.70
e
2.186
2.286
2.386
H
10.40
10.70
11.00
5.33
L1
3.50 REF
L2
0.508 BSC
5.46
版本号:1.2
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士兰微电子
封装外形图(续)
TO-251J-3L
单位:毫米
MIN
NOM
MAX
A
SYMBOL
2.18
2.30
2.39
4
A1
0.89
1.00
1.14
b
0.56
---
0.89
b4
4.95
5.33
5.46
b5
---
---
1.05
c
0.46
---
0.61
D
5.97
6.10
6.27
E
6.35
6.60
6.73
e
2.29 BCS
L
8.89
9.30
9.65
L1
0.95
---
1.50
L2
0.89
---
1.27
TO-220F-3L
单位:毫米
1
4.42
4.70
5.02
2.30
2.54
2.80
2.50
2.76
3.10
0.70
0.80
0.90
0.35
0.50
0.65
15.25
15.87
16.25
15.30
15.75
16.30
9.30
9.80
10.30
9.73
10.16
10.36
1
1.47
2.54BCS
6.40
6.68
7.00
12.48
12.98
13.48
/
/
3.50
3.00
3.18
3.40
3.05
3.30
3.55
3
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共 10 页 第 8 页
士兰微电子
SVF4N65RD/M/MJ/F/T 说明书
封装外形图(续)
TO-220-3L
单位:毫米
4.30
4.50
4.70
1.00
1.30
1.50
1.80
2.40
2.80
0.60
0.80
1.00
1.00
1.60
0.30
15.10
0.70
15.70
16.10
8.10
9.20
10.00
9.60
9.90
10.40
2.54BSC
6.10
6.50
7.00
12.60
13.08
13.60
3.40
3.70
3.95
2.60
3.90
3.20
重要注意事项:
士兰保留说明书的更改权,恕不另行通知。客户在下单前应获取我司最新版本资料,并验证相关信息是否最新
和完整。
我司产品属于消费类和/或民用类电子产品。
在应用我司产品时请不要超过产品的最大额定值,否则会影响整机的可靠性。任何半导体产品特定条件下都有
一定的失效或发生故障的可能,买方有责任在使用我司产品进行系统设计、试样和整机制造时遵守安全标准并
采取安全措施,以避免潜在失败风险可能造成人身伤害或财产损失情况的发生。
购买产品时请认清我司商标,如有疑问请与本公司联系。
转售、应用、出口时请遵守中国、美国、英国、欧盟等国家、地区和国际出口管制法律法规。
产品提升永无止境,我公司将竭诚为客户提供更优秀的产品!
我司网站 http: //www.silan.com.cn
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士兰微电子
SVF4N65RD/M/MJ/F/T 说明书
产品名称:
SVF4N65RD/M/MJ/F/T
文档类型:
说明书
版
权:
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公司主页:
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版
本:
1.2
修改记录:
1.
添加 SVF4N65RT(TO-220-3L)封装
2.
修改电气图和典型电路图
3.
添加 SVF4N65RT 的 SOA 曲线见附件
4.
更新 SVF4N65RD(M)(MJ)的 SOA 曲线
5.
修改产品规格分类
6.
修改典型测试电路
7.
修改重要注意事项
版
本:
1.1
修改记录:
1.
新增 TO-220F-3L
2.
根据李敏意见优化参数
版
本:
1.0
修改记录:
1.
正式版本发布
杭州士兰微电子股份有限公司
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版本号:1.2
共 10 页 第 10 页
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- 10+2.24640
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