SVF5N60T/F/D/MJ 说明书
5A、600V N沟道增强型场效应管
描述
2
SVF5N60T/F/D/MJ N沟道增强型高压功率MOS场效应晶体
管采用士兰微电子的F-CellTM平面高压VDMOS 工艺技术制造。
1
先进的工艺及条状的原胞设计结构使得该产品具有较低的导通电
阻、优越的开关性能及很高的雪崩击穿耐量。
TO-252-2L
3
该产品可广泛应用于 AC-DC 开关电源,DC-DC 电源转换
1.栅极 2.漏极 3.源极
器,高压 H 桥 PWM 马达驱动。
TO-251J-3L
特点
∗
5A,600V,RDS(on)= 1.88Ω@VGS=10V
∗
低栅极电荷量
∗
低反向传输电容
∗
开关速度快
∗
提升了 dv/dt 能力
1
2
1
3
TO-220F-3L
23
TO-220-3L
命名规则
产品规格分类
产 品 名 称
封装形式
打印名称
材料
包装形式
SVF5N60T
TO-220-3L
SVF5N60T
无铅
料管
SVF5N60F
TO-220F-3L
SVF5N60F
无铅
料管
SVF5N60D
TO-252-2L
SVF5N60D
无铅
料管
SVF5N60DTR
TO-252-2L
SVF5N60D
无铅
编带
SVF5N60MJ
TO-251J-3L
SVF5N60MJ
无铅
料管
杭州士兰微电子股份有限公司
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版本号:1.2
2011.09.13
共10页 第1页
SVF5N60T/F/D/MJ 说明书
极限参数(除非特殊说明,TC=25°C)
参数名称
参数范围
符号
SVF5N60T/D/MJ
单位
SVF5N60F
漏源电压
VDS
600
V
栅源电压
VGS
±30
V
漏极电流
TC=25°C
TC=100°C
漏极浪涌电流
5
ID
IDM
耗散功率(TC=25°C)
20
PD
- 大于 25°C 每摄氏度减少
单脉冲雪崩能量(注 1)
A
3.1
A
120
40
W
0.96
0.32
W/°C
EAS
242
mJ
工作结温范围
TJ
-55~+150
°C
贮存温度范围
Tstg
-55~+150
°C
热阻特性
参数名称
符号
参数范围
SVF5N60T
SVF5N60D
SVF5N60MJ
SVF5N60F
单位
芯片对管壳热阻
RθJC
1.04
1.04
1.00
3.13
°C/W
芯片对环境的热阻
RθJA
62.5
110
110
120
°C/W
关键特性参数(除非特殊说明,TC=25°C)
参数名称
符号
测试条件
最小值
典型值
最大值
单位
BVDSS
VGS=0V, ID=250µA
600
--
--
V
漏源漏电流
IDSS
VDS=600V,VGS=0V
--
--
10
µA
栅源漏电流
IGSS
VGS=±30V,VDS=0V
--
--
±100
nA
栅极开启电压
VGS(th)
VGS= VDS,ID=250µA
2.0
--
4.0
V
导通电阻
RDS(on)
VGS=10V,ID=2.5A
--
1.88
2.15
Ω
输入电容
Ciss
--
479.8
--
输出电容
Coss
--
62.7
--
反向传输电容
Crss
--
2.1
--
开启延迟时间
td(on)
VDD=300V,ID=5.0A,
--
14.93
--
开启上升时间
tr
RG=25Ω
--
28.40
--
关断延迟时间
td(off)
--
28.27
--
关断下降时间
tf
--
21.73
--
漏源击穿电压
B
VDS=25V,VGS=0V,
f=1.0MHZ
(注 2,3)
栅极电荷量
Qg
VDS=480V,ID=5.0A,
--
9.27
--
栅极-源极电荷量
Qgs
VGS=10V
--
2.79
--
栅极-漏极电荷量
Qgd
--
3.37
--
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(注 2,3)
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pF
ns
nC
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源-漏二极管特性参数
参数名称
符 号
测试条件
最小值
典型值
最大值
单位
源极电流
IS
MOS 管中源极、漏极构成的反偏
--
--
5
源极脉冲电流
ISM
P-N 结
--
--
20
源-漏二极管压降
VSD
IS=5.0A,VGS=0V
--
--
1.4
V
反向恢复时间
Trr
IS=5.0A,VGS=0V,
--
190
--
ns
反向恢复电荷
Qrr
dIF/dt=100A/µs
--
0.53
--
µC
A
注:
1.
L=30mH,IAS=3.78A,VDD=70V,RG=25Ω,开始温度 TJ=25°C;
2.
脉冲测试: 脉冲宽度≤300μs,占空比≤2%;
3.
基本上不受工作温度的影响。
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典型特性曲线
图1. 输出特性
图2. 传输特性
100
变量
VGS=4.5V
VGS=5V
VGS=5.5V
VGS=6V
VGS=7V
-55°C
25°C
150°C
漏极电流 – ID(A)
漏极电流 – ID(A)
10
VGS=8V
1
VGS=10V
VGS=15V
10
1
注:
1.250µS 脉冲测试
2.TC=25°C
0.1
0.1
1
10
0.1
100
注:
1.250µS脉冲测试
2.VDS=50V
0
1
2
漏源电压 – VDS(V)
图3. 导通电阻vs.漏极电流
VGS=10V
VGS=20V
2.4
2.2
2.0
1.8
8
9
10
10
注:
1.250µS脉冲测试
2.VGS=0V
1
注:TJ=25°C
4
2
6
8
0.1
10
0
0.2
0.4
1.0
0.8
0.6
1.2
源漏电压 – VSD(V)
图5. 电容特性
图6. 电荷量特性
12
1200
Ciss=Cgs+Cgd(Cds=shorted)
Coss=Cds+Cgd
Crss=Cgd
800
600
Ciss
Coss
Crss
注:
1. VGS=0V
2. f=1MHz
200
VDS=480V
VDS=300V
VDS=120V
10
栅源电压 – VGS(V)
1000
电容(pF)
7
-55°C
25°C
150°C
漏极电流 – ID(A)
400
6
图4. 体二极管正向压降vs. 源极电流、温度
2.6
1.6
0
5
100
反向漏极电流 – IDR(A)
漏源导通电阻 – RDS(ON)(Ω)
2.8
4
栅源电压 – VGS(V)
3.2
3.0
3
8
6
4
2
注:ID=5A
0
0.1
1
10
漏源电压 – VDS(V)
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100
0
0
2
4
6
8
10
总栅极电荷 – Qg(nC)
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典型特性曲线(续)
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典型测试电路
栅极电荷量测试电路及波形图
VGS
与待测器件
参数一致
50KΩ
VDS
200nF
12V
Qg
10V
300nF
Qgs
Qgd
VGS
待测器件
3mA
电荷量
开关时间测试电路及波形图
RL
VDS
VDS
90%
VGS
VDD
RG
待测器件
10%
VGS
10V
td(on)
tr
ton
td(off)
tf
toff
EAS测试电路及波形图
EAS =
L
VDS
BVDSS
1
2
2 LIAS BVDSS - VDD
BVDSS
ID
IAS
RG
待测器件
10V
tp
ID(t)
VDD
VDS(t)
VDD
tp
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Time
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封装外形图
TO-220F-3L(1)
单位: mm
TO-220F-3L(2)
单位: mm
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封装外形图(续)
TO-252-2L
单位:mm
6.60±0.3
2.30±0.20
5.10~5.46
0.45~0.65
6.1±0.3
10.10±0.50
Eject pin(note1)
2.30 TYP
0.76±0.10
1.4~1.7
2.90REF
0.80±0.20
0.0~0.127
0.45~0.65
该位置分有顶针孔和无顶针孔两种情况。
单位: mm
TO-220-3L
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封装外形图(续)
TO-251J-3L
声明:
•
•
•
单位:mm
士兰保留说明书的更改权,恕不另行通知!客户在下单前应获取最新版本资料,并验证相关信息是否完
整和最新。
任何半导体产品特定条件下都有一定的失效或发生故障的可能,买方有责任在使用 Silan 产品进行系统
设计和整机制造时遵守安全标准并采取安全措施,以避免潜在失败风险可能造成人身伤害或财产损失情
况的发生!
产品提升永无止境,我公司将竭诚为客户提供更优秀的产品!
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附:
修改记录:
日 期
版本号
描
2011.02.11
1.0
原版
2011.07.04
1.1
增加TO-251J-3L封装
2011.09.13
1.2
更新TO-220-3L尺寸图
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