SVF5N65D/F 说明书
士兰微电子
5A、650V N沟道增强型场效应管
描述
2
SVF5N65D/F
兰微电子的 F-Cell
TM
N 沟道增强型高压功率 MOS 场效应晶体管采用士
平面高压 VDMOS 工艺技术制造。先进的工艺及原
1
胞结构使得该产品具有较低的导通电阻、优越的开关性能及很高的雪崩
3
击穿耐量。
1.栅极 2.漏极 3.源极
该产品可广泛应用于 AC-DC 开关电源,DC-DC 电源转换器,高压
H 桥 PWM 马达驱动。
特点
1
5A,650V,RDS(on)(典型值)= 2.1@VGS=10V
低栅极电荷量
低反向传输电容
开关速度快
提升了 dv/dt 能力
3
TO-252-2L
1
2
3
TO-220F-3L
产品规格分类
产 品 名 称
SVF5N65DTR
SVF5N65F
封装形式
打印名称
环保等级
包装形式
TO-252-2L
SVF5N65D
无卤
编带
TO-220F-3L
SVF5N65F
无铅
料管
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士兰微电子
极限参数(除非特殊说明,TC=25C)
参 数 名 称
参数范围
符号
SVF5N65D
单位
SVF5N65F
漏源电压
VDS
650
V
栅源电压
VGS
±30
V
TC=25C
漏极电流
TC=100C
漏极冲击电流
5.0
ID
IDM
耗散功率(TC=25C)
-大于 25C 每摄氏度减少
单脉冲雪崩能量(注 1)
A
3.1
20
PD
A
79
30
W
0.53
0.24
W/C
EAS
242
mJ
工作结温范围
TJ
-55~+150
C
贮存温度范围
Tstg
-55~+150
C
热阻特性
参 数 名 称
参数范围
符 号
SVF5N65D
SVF5N65F
单位
芯片对管壳热阻
RθJC
1.90
4.17
C/W
芯片对环境的热阻
RθJA
62.0
62.5
C/W
电气参数(除非特殊说明,TC=25C)
参 数 名 称
漏源击穿电压
符号
测试条件
最小值
典型值
最大值
单位
BVDSS
VGS=0V, ID=250µA
650
--
--
V
漏源漏电流
IDSS
VDS=650V,VGS=0V
--
--
1
µA
栅源漏电流
IGSS
VGS=±30V,VDS=0V
--
--
±100
nA
栅极开启电压
VGS(th)
VGS= VDS,ID=250µA
2.0
--
4.0
V
导通电阻
RDS(on)
VGS=10V,ID=2.5A
--
2.1
2.5
输入电容
Ciss
--
471
--
输出电容
Coss
--
58
--
--
5.5
--
--
13.87
--
--
31.93
--
--
43.53
--
--
33.73
--
--
13.63
--
--
2.96
--
--
6.86
--
反向传输电容
开启延迟时间
Crss
td(on)
开启上升时间
tr
关断延迟时间
td(off)
关断下降时间
tf
栅极电荷量
栅极-源极电荷量
栅极-漏极电荷量
Qg
Qgs
Qgd
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VDS=25V,VGS=0V,f=1.0MHZ
VDD=325V,ID=5.0A,RG=24
(注 2,3)
VDS=520V,ID=5.0A,
VGS=10V
(注 2,3)
pF
ns
nC
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士兰微电子
源-漏二极管特性参数
参 数 名 称
符号
测试条件
最小值
典型值
最大值
单位
源极电流
IS
MOS 管中源极、漏极构成的反偏
--
--
5
源极脉冲电流
ISM
P-N 结
--
--
20
源-漏二极管压降
VSD
IS=5.0A,VGS=0V
--
--
1.4
V
反向恢复时间
Trr
IS=5.0A,VGS=0V,
--
476
--
ns
反向恢复电荷
Qrr
dIF/dt=100A/µs
--
2.3
--
µC
A
注:
1.
L=30mH,IAS=3.78A,VDD=100V,RG=25,开始温度 TJ=25C;
2.
脉冲测试: 脉冲宽度≤300μs,占空比≤2%;
3.
基本不受工作温度的影响。
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士兰微电子
典型特性曲线
图1. 输出特性
图2. 传输特性
100
VGS=4.5V
VGS=5V
VGS=5.5V
VGS=6V
VGS=7V
1
-55°C
25°C
150°C
漏极电流 – ID(A)
漏极电流 – ID(A)
10
0.1
VGS=8V
0.01
0.1
VGS=15V
1
10
1
注:
1.250µS脉冲测试
2.VDS=50V
注:
1.250µS 脉冲测试
2.TC=25°C
VGS=10V
10
0.1
100
0
1
2
漏源电压 – VDS(V)
图3. 导通电阻vs.漏极电流
6
7
8
9
10
图4. 体二极管正向压降vs. 源极电流、温度
VGS=10V
VGS=20V
3.50
反向漏极电流 – IDR(A)
漏源导通电阻 – RDS(ON)(Ω)
5
100
3.00
2.50
2.00
1.50
-55°C
25°C
150°C
10
注:
1.250µS脉冲测试
2.VGS=0V
1
注:TJ=25°C
0.1
0
4
2
6
8
0
0.2
图5. 电容特性
栅源电压 – VGS(V)
Ciss
Coss
Crss
400
300
注:
1. VGS=0V
2. f=1MHz
200
8
6
4
2
100
注:ID=5A
0
1
10
漏源电压 – VDS(V)
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1.2
VDS=480V
VDS=300V
VDS=120V
10
700
0
0.1
1.0
图6. 电荷量特性
Ciss=Cgs+Cgd(Cds=shorted)
Coss=Cds+Cgd
Crss=Cgd
800
500
0.8
0.6
12
900
600
0.4
源漏电压 – VSD(V)
漏极电流 – ID(A)
电容(pF)
4
栅源电压 – VGS(V)
4.00
1.00
3
100
0
3
6
9
12
15
总栅极电荷 – Qg(nC)
版本号:1.1
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士兰微电子
典型特性曲线(续)
图8. 导通电阻vs.温度特性
漏源导通电阻(标准化) – RDS(ON)
漏源击穿电压(标准化)– BVDSS
图7. 击穿电压vs.温度特性
1.2
1.1
1.0
0.9
注:
1. VGS=0V
2. ID=250µA
0.8
-100
-50
0
50
150
100
3.0
2.5
2.0
1.5
1.0
注:
1. VGS=10V
2. ID=2.5A
0.5
0.0
-100
200
结温 – TJ(°C)
图9-1. 最大安全工作区域(SVF5N65D)
50
100
150
200
图9-2. 最大安全工作区域(SVF5N65F)
102
此区域工作受限于RDS(ON)
此区域工作受限于RDS(ON)
100µs
1ms
10ms
100
DC
10-1
注:
1.TC=25°C
2.Tj=150°C
3.RDS(ON)[max]=2.5Ω
100
101
102
100µs
101
漏极电流 - ID(A)
101
漏极电流 - ID(A)
0
结温 – TJ(°C)
102
10-2
-50
103
漏源电压 - VDS(V)
1ms
10ms
100
DC
10-1
10-2
100
注:
1.TC=25°C
2.Tj=150°C
3.RDS(ON)[max]=2.5Ω
101
102
103
漏源电压 - VDS(V)
图10. 最大漏极电流vs. 壳温
5
漏极电流 - ID(A)
4
3
2
1
0
25
50
75
100
125
150
壳温 – TC(°C)
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典型测试电路
栅极电荷量测试电路及波形图
与待测器件
参数一致
VGS
Qg
10V
50KΩ
VDS
200nF
12V
300nF
Qgs
Qgd
VGS
待测器件
3mA
电荷量
开关时间测试电路及波形图
RL
VDS
VDS
90%
VGS
VDD
RG
待测器件
10%
VGS
10V
td(on)
tr
ton
td(off)
tf
toff
EAS测试电路及波形图
EAS =
L
VDS
BVDSS
1
2
2 LIAS BVDSS - VDD
BVDSS
ID
IAS
RG
待测器件
10V
ID(t)
VDD
VDS(t)
VDD
tp
tp
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Time
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士兰微电子
封装外形图
TO-252--2L
单位:毫米
MIN
NOM
MAX
A
SYMBOL
2.10
2.30
2.50
A1
0
---
0.127
b
0.66
0.76
0.89
b3
5.10
5.33
5.46
c
0.45
---
0.65
c2
0.45
---
0.65
D
E
5.80
6.30
6.10
6.60
6.40
6.90
e
Eject pin(note1)
2.30TYP
H
9.60
10.10
10.60
L
1.40
1.50
1.70
L1
2.90REF
0.60
0.80
1.00
L4
L4
NOTE1:There are two conditions for this position:has an eject pin or has no eject pin.
TO-220F-3L
单位:毫米
1
4.42
4.70
5.02
2.30
2.54
2.80
2.50
2.76
3.10
0.70
0.80
0.90
0.35
0.50
0.65
15.25
15.87
16.25
15.30
15.75
16.30
9.30
9.80
10.30
9.73
10.16
10.36
1
1.47
2.54BCS
6.40
6.68
7.00
12.48
12.98
13.48
/
/
3.50
3.00
3.18
3.40
3.05
3.30
3.55
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士兰微电子
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士兰保留说明书的更改权,恕不另行通知!客户在下单前应获取最新版本资料,并验证相关信息是否完整和最
新。
任何半导体产品特定条件下都有一定的失效或发生故障的可能,买方有责任在使用 Silan 产品进行系统设计和整
机制造时遵守安全标准并采取安全措施,以避免潜在失败风险可能造成人身伤害或财产损失情况的发生!
产品提升永无止境,我公司将竭诚为客户提供更优秀的产品!
产品名称:
SVF5N65D/F
文档类型:
说明书
版
权:
杭州士兰微电子股份有限公司
公司主页:
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版
本:
1.1
修改记录:
1.
版
增加 TO-220F-3L
本:
1.0
修改记录:
1.
正式版本发布
杭州士兰微电子股份有限公司
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