### 物料型号
- 型号：MKT 1826
### 器件简介
- 这是一种金属化聚酯膜电容器，符合IEC 60384-2和CECC 30 401-059的质量评估标准。主要用于阻塞、旁路、滤波和计时，以及快速数字电路的高频耦合和去耦，低压应用中的干扰抑制，高脉冲负载和高温操作。
### 引脚分配
- 引脚：镀锡线
### 参数特性
- 介质：聚酯膜
- 电极：真空沉积铝
- 涂层：阻燃塑料外壳（UL-class 94 V-0），绿色，环氧树脂密封
- 构造：堆叠金属化聚酯膜
- 操作温度范围：-55°C至+125°C（对于4.7µF/40 VDC为-55°C至+100°C）
- 电容范围：1000pF至4.7µF
- 电容公差：±20%（M），±10%（K），±5%（J）
- 额定电压：40 VDC, 50 VDC, 63 VDC, 100 VDC, 250 VDC
- 允许的AC电压（RMS）至60Hz：25 VAC, 30 VAC, 40 VAC, 63 VAC, 160 VAC
- 测试电压（电极/电极）：$1.6 × U_{R}$ 持续2秒
- 绝缘电阻：在100 VDC下测量（50 VDC和63 VDC系列在50 VDC下测量）
- 对于$C ≤ 0.33 \mu F$和$U_{R} > 100 VDC$：最小值30,000 MΩ（典型值100,000 MΩ）
- 对于$C ≤ 0.33 \mu F$和$U_{R} ≤ 100 VDC$：最小值15,000 MΩ（典型值100,000 MΩ）
### 功能详解
- 时间常数：在100 VDC下测量（50 VDC和63 VDC系列在50 VDC下测量，40 VDC使用$U_{R}$测量）
- 对于$0.33 \mu F < C ≤ 3.3 \mu F$和$U_{R} ≤ 100 VDC$：最小值5000秒（典型值15,000秒）
- 对于$C > 3.3 \mu F$和$U_{R} ≤ 100 VDC$：最小值1250秒（典型值10,000秒）
- 电容漂移：在+40°C下，±1.5%，为期两年
- 直流和交流的降额类别电压$U_{C}$：
- 在+85°C时：$U_{C} = 1.0 U_{R}$
- 在+100°C时：$U_{C} = 0.8 U_{R}$
- 在+125°C时：$U_{C} = 0.5 U_{R}$（最大1000小时）
### 应用信息
- 适用于需要高脉冲负载和高温操作的场合，如数字电路的高频耦合和去耦，以及低压应用中的干扰抑制。
### 封装信息
- 尺寸：以毫米为单位，具体尺寸图见文档中的图示。
- 自感：约6 nH，使用2mm长的引脚测量。
- 引脚拉力测试：根据IEC 60068-2-21，引脚方向上的拉力≥30 N。
- 可靠性：操作寿命>300,000小时，故障率<2 FIT（在40°C和$0.5 × U_{R}$下）。
