1. 物料型号:
- 型号:MKT 1826
- 质量评估标准:IEC 60384-2, CECC 30 401-059
2. 器件简介:
- 该器件为金属化聚酯膜电容器,用于阻塞、旁路、滤波和计时,适用于高频数字电路的高速耦合和去耦,低压应用中的干扰抑制,高脉冲负载和高温操作。
3. 引脚分配:
- 引脚材料:镀锡线
4. 参数特性:
- 介质:聚酯膜
- 电极:真空沉积铝
- 涂层:阻燃塑料外壳(UL-class 94 V-0),绿色,环氧树脂密封
- 构造:堆叠金属化聚酯膜
- 额定电压:40 VDC, 50 VDC, 63 VDC, 100 VDC, 250 VDC
- 电容范围:1000pF至4.7µF
- 电容公差:±20%(M),±10%(K),±5%(J)
- 工作温度范围:-55°C至+125°C(4.7µF/40 VDC时为-55°C至+100°C)
- 测试电压:电极/电极间1.6 × U_R,持续2秒
- 绝缘电阻:100 VDC下测量(50 VDC和63 VDC系列在50 VDC下测量),对于C ≤ 0.33 µF和U_R > 100 VDC,最小值30,000 MΩ(典型值100,000 MΩ);对于C ≤ 0.33 µF和U_R ≤ 100 VDC,最小值15,000 MΩ(典型值100,000 MΩ)
5. 功能详解:
- 时间常数:100 VDC下测量(50 VDC和63 VDC系列在50 VDC下测量,40 VDC在U_R下测量),对于0.33 µF < C ≤ 3.3 µF和U_R ≤ 100 VDC,最小值5000秒(典型值15,000秒);对于C > 3.3 µF和U_R ≤ 100 VDC,最小值1250秒(典型值10,000秒)
- 电容漂移:在+40°C下,±1.5%,为期两年
- 直流和交流降额:工作温度+85°C时U_C = 1.0 U_R;+100°C时U_C = 0.8 U_R;+125°C时U_C = 0.5 U_R(最长1000小时)
- 自感:约6 nH,测量时引线长度为2mm
- 引线拉力测试:≥ 30 N,按照IEC 60068-2-21标准
- 可靠性:工作寿命>300,000小时,失效率<2 FIT(40°C和0.5 × U_R)
6. 应用信息:
- 主要应用:高频数字电路的高速耦合和去耦,低压应用中的干扰抑制,高脉冲负载和高温操作。
7. 封装信息:
- 封装类型包括AMMO和REEL,具体尺寸和订货代码示例已在文档中提供。