GDT选型指南
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1 GDT 工作原理
GDT(Gas Discharge Tubes)
,即陶瓷气体放电管。GDT 是由封装在充满惰性气体的陶瓷管中具有一
个或一个以上的放电间隙组成的器件。GDT 电气性能取决于气体种类、气体压力、内部电极结构、制作工
艺等因素。GDT 可以承受高达数十甚至数百千安培的浪涌电流冲击,具有极低的结电容,应用于保护电子
设备和人身免遭瞬态高电压的危害。图 1 为典型的 GDT 伏安特性图。
V
U1—直流火花放电电压
U2— 辉光电压
U3—弧光电压
i1—辉光至弧光转变电流
i2—— 峰值电流
i3——弧光至辉光转变电流
U1
U2
U3
i3
i1
图1
i2 I
GDT 伏安特性曲线
2 GDT 特点
■
结电容低,大部分系列产品结电容不超过 2pF,特大通流量产品结电容在十几至几十皮法;
■
通流量大。
■
直流击穿电压范围为 75V~6000V,脉冲击穿电压范围为 600V~7800V;
■
绝缘阻抗高,一般在 1GΩ 以上,不易老化,可靠性高;
封装多样,有贴片器件及插件器件,两端器件及三端器件,圆形及方形电极,满足不同应用需求。
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GDT 参数说明
3
DC Spark-over Voltage 直流火花放电电压(直流击穿电压)
GDT 的直流火花放电电压是指施加缓慢升高的直流电压时,GDT 火花放电时的电压,也称直流击穿电
压。GDT 的直流击穿电压是在不大于 100V/s 的上升速率下测量的。测量 GDT 的直流击穿电压时,GDT
应不施加电压在黑暗中放置至少 24 小时,并在这种情况下采用图 6 所示的试验回路进行测量,电压上升率
为 100(1±10%)V/s。每种极性下,每个 GDT 的 A 极和 C 极之间的两次测量值都要记录,两次测量的时
间间隔应不小于 1s。对于三极 GDT 的每对端子分别测量,而另一端子悬空。所有测量值应符合产品规范。
DC Spark-over Voltage:直流击穿电压,测量电压应以不大于 100V/s 的上升速率施加;
Maximum Impulse Spark-over Voltage:脉冲击穿电压,1000V/μs 的电压上升速率施加电压;
Nominal Impulse Discharge Current:标称放电电流,一般施加 8/20μs 脉冲电流,10 次,间隔 1min;
Alternating Discharge Current:工频耐受电流,施加 50Hz,1s;
Impulse Life:耐冲击电流寿命,一般施加 10/1000μs 的脉冲电流若干次;
Minimum Insulation Resistance:最小绝缘电阻,施加一定的直流电压测量;
Maximum Capacitance:最大结电容;
Maximum Impulse Spark over Voltage 最大冲击火花放电电压(脉冲击穿电压)
最大冲击火花放电电压也称脉冲击穿电压,是指施加规定上升率和极性的冲击电压,在放电电流流过
GDT 之前,其两端子间的电压最大值。一般在 1000(1±10%)V/μs 的电压上升率下测量该电压值。该参
数在后面的 GDT 选型注意事项有介绍与直流击穿电压的区别。测量 GDT 的脉冲击穿电压时,GDT 应在没
有施加电压的情况下在黑暗中放置至少 15 分钟,并在这种情况下采用图 7 所示的试验回路进行测量,电压
上升率为 1000(1±10%)V/μs。每种极性下,每个 GDT 的 A 极和 C 极之间的两次测量值都要记录,两次
测量的时间间隔应不小于 1s。对于三极 GDT 的每对端子分别测量,而另一端子悬空。所有测量值应符合
产品规范。
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51KΩ
R1
+
A
2μF
U
S
GDT
C
U:直流电压源
S:峰值电压表,阻抗大于10MΩ的示波器
U和R1的数值调整到dU/dt=100(1±10%)V/s
避免震荡操作。
例如:直流击穿电压=230V,U=500V,R1=2MΩ
图6
GDT 直流击穿电压测试回路
50 Ω
1 kΩ
+
10MΩ
U 5kV
A
2μF
0.1μF
S
GDT
C
-
U:直流电压源
S:峰值电压表,阻抗大于10MΩ的示波器
U和所有的电阻电容数值调整到dU/dt=1000V/μs,且是GDT直流火花放电电压达
1000V的示例。
图7
1000V/μs 下的冲击火花放电电压回路
Nominal Impulse Discharge Current 标称冲击放电电流
标称冲击放电电流是指给定波形的冲击电流峰值,一般为 8/20μs 的脉冲电流波形,为 GDT 的额定值。
标称冲击放电电流是衡量 GDT 脉冲电流耐受能力的一个参数。测量时,应采用未使用过的 GDT 试品,施
加的冲击电流数值大小根据 GDT 规格书规定的值。对于两极的 GDT,产生 8/20μs 波形的试验回路如图 8
所示。冲击电流测量应有足够长的时间间隔不至于 GDT 内部过热。规定的标称冲击放电电流及其时间可用
短路来代替 GDT 校核。对于三极 GDT,每个电极应同时向公共电极放电(如图 8)
,各自标称冲击放电电
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流的规定值如规格书所规定。完成规定的电流次数后,GDT 就应冷却到环境温度。在施加最后一次电流的
1h 内,测量 GDT 的直流击穿电压、脉冲击穿电压及绝缘阻抗应符合规格书的范围。
1.5 μH
0.75 μH
0.21 Ω
I
I
U
0.21 Ω
+
+
48 μF
A
U
GDT
96 μF
GDT
0.21 Ω
A
I
C
B
C
-
-
二极GDT回路(用于标称冲击电流试验)
三极GDT回路(用于标称冲击电流试验)
元件
U——5kV直流电压
I——峰值电流10kA,8/20μs波形
图 8 标称冲击放电电流试验回路
Impulse Life 耐冲击电流寿命
该参数是衡量 GDT 耐受多次冲击电流的能力,在一定程度上反应了 GDT 的稳定性及可靠性。 测量
GDT 的冲击电流寿命试验时,采用未使用过的 GDT,施加的冲击电流大小按照 GDT 规格书所规定的值施
加。规定试验次数的一半用一种极性,另一半用相反的极性,或选用一半 GDT 用一种极性,另一半用相反
极性的试验方法。冲击的重复频度应适当以防止 GDT 内部热积累。
电源的电压应超过 GDT 的最大冲击火花放电电压至少 50%以上。 规定的冲击电流及波形应采用短路
来代替 GDT 测量。对于三极 GDT,其每个电极应同时向公共电极放电,各自的冲击电流的规定值如 GDT
规格书所规定。例如图 9 为产生峰值电流为 100A,波形为 10/1000μs 的试验回路。每次通过冲击电流试验
后对 GDT 进行试验或经用户和制造商同意后减少试验频度,以确保 GDT 满足规格书要求。
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~ 5 μH
~80 Ω
~10 μH
+
I
I
U
~5 Ω
+
80 μF
A
U
GDT
160 μF
GDT
~5 Ω
A
I
C
B
C
-
-
三极GDT回路(用于寿命试验)
二极GDT回路(用于寿命试验)
元件:
U——2kV直流电压或按需要
I——每路峰值电流100A,10/1000μs波形
图 9 冲击电流寿命试验回路
4
GDT 选型注意事项
直流击穿电压(DC-Spark-over Voltage)与脉冲击穿电压(Impulse Spark-over Voltage)
选型时要注意直流击穿电压与脉冲击穿电压的区别,直流击穿电压选取应参考电路的工作电压,直流
击穿电压应大于被保护线路的最大工作电压,否则会影响线路的正常工作。脉冲击穿电压要考虑浪涌测试
等级,一般浪涌测试波形的上升时间为微秒级的脉冲波形,如 8/20μs 电流波和 10/700μs 电压波,与 GDT
脉冲击穿电压测量电压上升速率 1000V/μs 为一个数量级,例如采用 10/700μs 的波形测试 4000V,GDT
的脉冲击穿电压要小于 4000V,这样在测试时 GDT 才能导通。图 10 为 GDT 在不同电压上升速率下的导
通状态示意图,从图中可以看出,电压上升速率越高,GDT 的击穿电压也越高。
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V
1000
1000V/μs
800
100V/μs
600
静态响应
动态响应
400
100V/s
200
0
2
图 10
4
6
8 μs
0.5
1
1.5
2s
2.5
t
GDT 在不同上升速率下的导通电压示意图
GDT 的续流问题
如图 1 所示,GDT 是一种开关型过电压保护器件,导通后电压较低,不能单独应用于较高的电源线保
护。常说的 GDT 会续流,是指 GDT 在导通后,如果被保护电路的工作电压高于 GDT 的通态电压,GDT
会一直处于导通状态,如果线路中长时间通过安培级别的大电流,会对 GDT 和电路造成损坏。
封装形式
根据电路设计布局选择合适的封装形式。GDT 器件封装的大小从一定程度上可以反应器件的防护等级
大小,一般封装越大的器件耐冲击电流的能力也越强,防护等级也越高,反之亦然。
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