SL201625M12P

SL201625M12P SMD2016石英晶体谐振器 25.000MHz/TOL:±10ppm/CL:12PF 1.产品特点 小型、超薄式表面贴装 宽温度、高稳定特性、高可靠信赖 2.概要 参数 最小 典型 最大 25.000 输出频率 单位 MHz 工作温度 -40 +85 ℃ 存储温度 -40 +85 ℃ 12 负载 条件 TC 温测设备 PF 注： 仪器可采用等同 250B 的测试设备； 在测量频率公差特性值时需在温度稳定的常温环境 25±2℃下进行测试。 3.频率与电性能 参数 标示 最小 典型 最大 单位 条件 1 输出频率 FL 25.000 2 振荡模式 OT AT 切，基频 3 负载电容 CL 12 pf 4 频率公差 ±10 ppm 常温偏差 ±20 ppm 温度频差 MHz △ F/F 5 频率温度特性 △ F/F 6 工作温度范围 TOPR -40 +85 ℃ 7 储存温度范围 TSTR -40 +85 ℃ 8 静态电容 C0 ≤3 pf 9 等效电阻 Rr ≤40 Ω www.slkormicro.com 1 SL201625M12P 10 驱动电平 DL 11 绝缘电阻 IR 12 年老化 Fag ≤100 500 ±3 4.外形尺寸 www.slkormicro.com 2 uW MΩ DC 100V ppm 1st year SL201625M12P 5. 结构及材料 NO. 组 件 材 质 数 量 1 上盖 kovar 1 2 基座 Al2O3 1 3 引脚 Au 4 4 导电胶 Ag + 硅树脂 4 5 电极 Cr + Ag 2 6 晶片 SiO2 1 www.slkormicro.com 3 SL201625M12P 6.可靠性实验 序号 RELIABILITY 试验名称 可靠性实验规范 RELIABILITY SPECIFICATION 1 ELECTRODE TERMINAL PULL 电极端子拉力 2 ELECTRODE WIRELEAD BEND 电极端子弯曲拉力 3 SOLDERABILITY 产品可焊性 RELIABILITY CONDITIONS 可靠度试验条件 1KG FORCE IN AXES OF ELECTRODE TERMINATION 10±1sec 1KG力垂直施于电极端子上10±1秒 2.5mm FROM ELECTRODE TERMINAL,BEND 90°, ' 0.45KG MASS APPLIED 3TIMES. 2.5毫米处电极端子弯曲90° SOLDER:235±5℃,DIPPING:5±0.5sec. 焊接温度:235±5℃,浸渍时间:5±0.5秒 SOLDER:260+5℃,DIPPING:10±1sec. 焊接温度:260±5℃,浸渍时间:10±1秒 SPECIFICATION 规格说明 1.GLASS HERMETICITY & VISUAL. 玻璃密封性和外观检视 2. LEAD CRACKED or BROKEN NOT ALLOWED' 不允许引线断裂或破裂 AT LEAST 95% COATING. 至少覆盖率为95% Max260℃ 4 RESISTANCE TO 产品可焊耐热时间 200℃ Max150℃ 2 3 1.max 180 sec 2.max 10 sec 3.max 80 sec 4.max 90 sec 1 4 5 VIBRATION TEST 振动测试 10g,10～55～10hz 1MINUTE,X、Y、Z PLANE EACH 2hrs. 10G, 10～55～10赫兹 1分钟,X、Y、Z 水 平面,每 2小时 6 DROP TEST 跌落测试 75CM HIGH,3 TIMES ON HARD BOARD 75厘米高，3次坠落在硬木质板上 7 AGING TEST 老化测试 85℃ Dynamic 1000hrs 85℃ 动态测试1000小时 8 CCELERATED AGING 加速老化测试 125℃±3℃,TIME:168 hrs. Dynamic 125℃±3℃,的动态下:168小时. SALT SPRAY 盐水喷雾试验 5%NaCL 35℃±2℃CHAMBER,48hrs.PH 值:6.5~7.2 5% NaCL(碳酸钠),35℃±2℃的温箱里,48 小时 PH值:6.5～7.2 9 www.slkormicro.com 1.AT LEAST 95% COATING. 至少覆盖率为95% 2.△F/F≤±5ppm △F/Rr≤±10% or 2Ω BETTER,20% 4 △F/F≤±5ppm △F/Rr≤±10% or 2Ω BETTER,20% F/F≤±5ppm △F/Rr≤±10% Oor 2Ω BETTER,20% F/F≤±5ppm △F/Rr≤±10% or 2Ω BETTER,20% F/F≤±5ppm △F/Rr≤±10% or 2Ω BETTER,20% 1.NO CORROSION ON LEAD&CAN 1.基座和外壳无腐蚀 F/F≤±5ppm △F/Rr≤±10% or 2Ω BETTER,20% SL201625M12P 10 11 HIGH-LOW TEM. STORAGE(STATIC) 高低温储存（静态 测试） HIGH TEM. & HUM. STORAGE TEST 高温高湿储存试验 12 TEM. & HUM. CYCLING TEST 温湿度循环测试 13 HIGH-LOW TEM. OPERATING TEST 高-低温运行测试 14 FREQUENCY/Rr V.S OPERATING TEM.. 频率/电阻在操作 温度下之变化测试 HIGH TEM:125℃±2℃,1000hrs 高温:125℃±2℃,1000小时 LOW TEM:-40℃±3℃,1000hrs 低温:-40℃±3℃,1000小时 TEM:40℃±2℃ HUM:83%-88%,96hrs 温度:40℃±2 湿度:83%-88% ,储存96 小时 TEM:-10℃±2℃～65℃±2℃ 24hrs 1 cycle' HUM:93±3% 5 cycles 温度:-10℃±2℃～65℃±2℃,湿度:93 ±3%, 24小时为1循环, 运行5个循环 HIGH TEM:85℃±2℃,2hrs 高温:85℃±2℃,运行2小时 LOW TEM:-30℃±2℃,2hrs 低温:-30℃±2℃运行2小时 TEM:-10℃～+60℃、-20℃～+70℃、 0℃～70℃ 'MEASURE POINT: EVERY 10℃ DEVIATION. 温度:-10℃～+60℃、-20℃～+70℃ 0℃～70℃ 测试点:依每10℃测试一值 F/F≤±5ppm △F/Rr≤±10% or 2Ω BETTER,20% F/F≤±5ppm △F/Rr≤±10% or 2Ω BETTER,20% F/F≤±5ppm △F/Rr≤±10% or 2Ω BETTER,20% F/F≤±5ppm △F/Rr≤±10% or 2Ω BETTER,20% AS SPECIFICATION 依客户要求 15 1. 150℃ 60--120Sec Max 2. 200℃ 20--30Sec Max HIGH LOW SHOCK 高低温冲击 260℃ MAX 150± 5℃ 120 SEC 10 SEC SPECIFICATION 规格说明: www.slkormicro.com △F/F≤±5ppm △F/Rr≤±10% or 2Ω BETTER,20% 5