深圳市华昕电子有限公司
SHENZHEN HUAXIN ELECTRONICS CO.,LTD.
:
Checked
地址: 深圳市龙华区龙胜路融创智汇大厦C座1401-1402室
Office add:Room 1401-1402,Building C,Rongchuang,Longhua District,shenzhen
TEL: 0755-21044642
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1
1
首次制定
2020.04.28
万力阳
蔡勤
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NO.
Content
Page
1
石英晶体参数规格 QUARTZ CRYSTAL UNIT SPECIFICATION
4
2
CMOS负载输出波形 LOAD OUTPUT WAVEFORM
5
3
CMOS负载电路测试 LOAD CIRCUT TEST
5
4
外 形尺 寸 BOUNDARY DIMENSION
6
5
印字内容 MARKING
6
6
内部结构 INSIDE STRUCTURE
7
7
包装 PACKING
7
8
回流焊温度曲线 REFLOW PROFILES
8
9
可靠性试验 RELIABILITY SPECIFICATIOND
9
10
包装数量 NUMBER OF PACKAGES
11
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电气特性 Electrical Characteristics
项目
Item
1
2
3
标准频率
Nominal Frequency
震荡模式
Oscillation Mode
频率偏差
Frequency Tolerance
4
温度频差
Equivalent Series
Resistance
5
工作温度
Operating Temperature
储存温度范围
Storage temperature
range
老化率
7 Aging rate
供电电压
8 For the pressure
6
9
电流
current
10
上升,下降时间
Rise, fall time
11
输出波形
Output waveform
符号
Symb
ol
FL
FT
TC
T_stg
-
-10
-
10
ppm
-30
-
30
ppm
85
℃
125
℃
-55
F_age
-
-
ppm
±2
1.8 ~ 3.3
Vdd
V
7.0
Icc
5
At 25℃±℃
First
year
±10%
mA
Ns
10%~90% Level
CMOS
TH/T
输出负载
13 The output load
CL
15 三态
Output Disable
Fundamental
-40
备注
Notes
MHz
40.000
-
占空比
12 Duty ratio
14 三态
Output Enable
电气特性规格
Electrical Specification
单位
下限
中心
上限
Min.
Typ.
Max.
Units
45
55
%
pF
15
V
70%Vdd
Pin 1 Tri-state
30%Vdd
V
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CMOS
LOAD OUTPUT WAVEFORM
LOAD CIRCUT TEST
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BOUNDARY DIMENSION
(单位: mm)
Notes:PIN 1 connected to Vdd or floating,the product is working properly;connected to GND,stops working.
HX-C
. 40.0V3Z
HX-C -------- LOGO
.
-------- Pin1
40.0 -------- 频率
V -------- 电压
3 -------- 年份
Z -------- 月份
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A
基座
Al2O3
D
晶片
SiO2
B
芯片
硅
E
电极
Cr+Ag
C
导电胶
Ag + 硅树脂
F
上盖
Kovar
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BRAID PACKAGING
(单位: mm)
L1
2.00±0.1
L2
4.00±0.1
L3
4.00±0.1
D0
1.50±0.1
D1
1.00±0.1
W0
8.30±0.2
W1
1.75±0.1
W2
3 50±0 1
W3
8 00±0 1
A0
2.72±0.1
B0
3.46±0.1
K0
1.00±0.1
T
0.22±0.05
牵引方向
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Preheat/Soak
Temperature Min (Ts min)
Temperature Max (Ts max)
Time (Ts) from (Ts min to Ts max)
Ramp-up rate (TL to TP)
Liquidous temperature (TL)
Time (TL) maintained above TL
Peak/Classification Temperature (TP)
Time within 5℃ of actual Peak
Temperature (TP)
Ramp-down rate (TP to TL)
Time 25 °C to peak temperature
Suggest reflow times
150℃
200℃
60-120 seconds
3℃/second max.
217℃
60-150 seconds
260±5℃
20~40 seconds
6℃/second max.
8 minutes max.
3 Times max
TP
TP
Ramp Up Rate
Ramp Down Rate
TL
Ts max
TL
Ts min
Ts
Preheat Area
25℃
Time 25℃ to Peak
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NO.
1
2
项目
ITEM
跌落
FREE FALL
振动
VIBRATION
测试条件
CONDITIONS
从150cm位置高度,自由跌落在木板上,连续3次.
FREE DROPPING FROM 150 cm HEIGHT 3 TIMES ON A HARD
振动频率: 10~2000 Hz, 振幅: 1.52mm, 时间: 每个方位三面
(X、 Y、 Z) 各振动2小时
判定标准
Criteria
FREQUENCY: 10 2000Hz;AMPLITUDE (TOTAL EXCURSION):
1.5mm SWEEP TIME: 2-3MIN, 3 DIRECTION(X, Y, Z) EACH FOR
2 Hrs.
〜
晶体放入试验箱中, 高、低温循环10次
THE CRYSTAL UNIT SHALL BE SUBJECTED TO 10 SUCCESSIVE
CHANGE OF TEMPERATURE CYCLE
3
温度循环
TEMPERATURE
CYCLE
电器性能
满足规格要求
4
5
6
7
8
冲击
IMOACT
THE
ELECTRICAL
PREFORMAN
CE MEET
温度: 245±5℃, 浸锡时间: 3±0.5 秒
THE LEAD IS IMMERSED IN A 245±5℃ SOLDER BATH WITHIN THESPECIFIC
ATONN
半正弦波冲击(1000G): 持续时间:0.5ms,X,Y,Z三
轴各三次时间: 2 小时 HELIUM BOMBING:3 T I M E
可焊性
SOLDERABILI
3±0.5 SECONDS.
TY
稳态湿热
温度: 8 5 ±3℃, 湿度: 8 5 %, 保持时间: 500个小时
HIGH TEMP. & STORED AT 8 5 ±3℃ AND HUMIDITY 8 5 % FOR 500±12H.
HUMIDITY
高温温度: 125±2℃, 时间: 500±12 个小时
高温存储
STORED AT 125±2℃ FOR 500±12H.
如果客户的温度要求是高于标准,则必须根据客户的要求测试
HIGH
TEMPERATURE If Customer's temperature request is higher than the
standard,Temperature test must be done for customer
STORAGE
requirements
低温温度: -40±2℃, 时间: 500±12 个小时
低温存储
STORED AT –40±2℃ FOR 500±12H.
如果客户的温度要求是低于标准,则必须根据客户的要求测试
LOW
TEMPERATURE If Customer's temperature request is lower than the
standard,Temperature test must be done for customer
STORAGE
requirements
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包装盒
Packaging
包装箱
Packing cases
180*20*180
3000pcs
240*200*200
30000pcs
Page:11
很抱歉,暂时无法提供与“3Y040000VP”相匹配的价格&库存,您可以联系我们找货
免费人工找货- 国内价格
- 5+1.63443
- 50+1.31510
- 150+1.17824
- 500+1.00743
- 3000+0.93140
- 6000+0.88578