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文件编码： 新品 MDH3-03-002 版次： A MDH202009012 变更 产 品 规 格 书 SPECIFICATION FOR APPROVAL 产品名称 石英晶体谐振器 Product Name： Quart crystal unit 产品型号 Product Type： 标称频率 Nominal Freq： 明德亨料号 MDH P/N： SMD3225 40.000000 MHz 2.3.3.400000919 客户料号 Customer P/N： 客户承认 Approved By Customer 日期 签章 Date： Signature： Date: 2020年9月10日 批准 Accepted 审核 Checked 拟制 Issued 林宗宏 马赛 乔润国 烟台明德亨电子科技有限公司 四川明德亨电子科技有限公司 YanTai MDH Technology Co.,Ltd SiChuan MDH Technology Co.,Ltd ADD.：中国山东烟台开发区黑龙江路6号 ADD.：中国四川泸州纳溪区东兴路1号 No.6 Heilongjiang Road Yantai Development Zone, Shandong, China TEL：86-535-6372640 FAX：86-535-6394876 E-Mail：dynamic@public.ytptt.sd.cn No.1 Dongxing Road Naxi Zone, Luzhou, Sichuan,China TEL：86-830-2800890 http://www.mingdeheng.com RoHS Compliant Revision Record VER 修订页面 Rev.page 变更内容 Revise Contents 修改日期 Revise Date 修订者 Reviser 01 N/A Initial released N/A Jack Lin SMD3225 QUARTZ CRYSTAL UNIT MDH P/N REV. 2.3.3.400000919 01 PAGE CONTENT ITEM N0. 1 2 3 4 5 石英晶体一般规格及特性 PAGE 4 Product specification and features 石英晶体外观尺寸 5 Product outline dimension 石英晶体内部结构及印字 6 Product internal structure and marking 石英晶体之可靠性 7-9 Product reliability 生产商及产地说明 Manufacturer and origin 10 3/10 SMD3225 MDH P/N QUARTZ CRYSTAL UNIT REV. 2.3.3.400000919 PAGE 01 1 石英晶体产品规格及特性 / Product specification and features 1.1 一般特性 / General characteristics Items Electrical spec. Unit Notes 40.000000 MHz - Fundamental - - AT-CUT - Min. 1.Frequency(FL) 2.Mode of oscillation 3.Crystal Cutting Type 4.Frequency tolerance -8 5.Loading capacitance(CL) Typ. ~ Max. 8 9 ppm Thickness shear mode At 25℃±3℃ - pF - - 40 Ω 7.Drive Level（DL) 0.01 100 150 uW 8.Temperature stability -10 ~ 10 ppm 9.Operating temperature range -30 ~ 85 ℃ - 10.Storage temperature range -55 ~ 125 ℃ - 11.Shut Capacitance(C0) - - 3 pF - 12.RLD2 - - 40 Ω - 13.SPDB - - -3 dB - 14.Aging - - 3 ppm/Year 500 - - MΩ 6.Equivalent resistance(RR) 15.Insulation Resistance Series(ESR) Ref. to 25℃ Per Year DC 100±10V 4/10 SMD3225 QUARTZ CRYSTAL UNIT MDH P/N 2.0 外形尺寸、外观 / Outline dimensions、Appearances 2.1 产品外形尺寸(mm)/ Product outline dimension(mm) 2.2 载带外形尺寸图（mm）/Carrier Dimensional Drawing (mm) 2.3编带盘外形尺寸图(mm) /Reel Dimensional Drawing (mm) REV. 2.3.3.400000919 01 PAGE 5/10 SMD3225 QUARTZ CRYSTAL UNIT MDH P/N REV. 2.3.3.400000919 01 PAGE 2.4 印字 Marking M40.00 AA 33 ⑴ ⑶ ⑴ ⑵ ⑶ 代表公司Logo 代表标称频率 代表批次号 ⑵ 3.0 内部构造图 / Product internal structure 封装方式/Seal NO. 材料名/Matenal 激光封装 备注/Notes 质量（参考值） NO. 材料/Matenal 备注/Notes / 形状例/Form isexample 1 金属盖板/LID Fe－Ni－Co 5 导电胶 /Conductive achesive 2 陶瓷/Ceramics 黑色/Color black 6 银/Ag 3 引脚 /Pad 镀镍/镀金 Ni plating/Au plating 4 晶片/Crystal（SiO2) 晶片 /Crystal Water 0.0144g 6/10 SMD3225 QUARTZ CRYSTAL UNIT MDH P/N REV. 2.3.3.400000919 01 PAGE 4.0 石英晶体之可靠性 / Product reliability 项目 (Item) 结 果 (Result) 条 件 (Condition) 耐低温性（耐寒性）测试 （Cold resistance） （Ⅰ） A.1 Stored at -40±2℃ for 500±2 hrs then 25±2℃ 2 hrs before testing 耐高温性（耐热性）测试 （Heat resistance） （Ⅰ） A.2 Stored at 125±2℃ for 500±2 hrs then 25±2℃ 2 hrs before testing 耐湿热性 (Humidity Resistance Result) A.3 稳态温度：85±2℃；湿度：85±3％RH；时间：500±2 hrs （Ⅰ） Steady temperature: 85±2℃;humidity: 85±3％RH; time:500±2 hrs 老化测试（Aging） A.4 （Ⅰ） Stored at 85±2℃ for 720±2Hrs then 25±2℃ 2 Hrs before testing Stored at 25±2℃ for 1year 气密性 (Leakage) A.5 2 细漏Fine leak: Put the product in the Helium pressure tank, 4 ~ 5kgf/cm , 0.5hrs. （Ⅳ） 冷热冲击实验 温度循环 （Temperature Cycle） –55℃ ～ 125℃，Retain 15Min， 100 cycles 15 min +125℃ （Ⅰ） A.6 +25℃ -55℃ 15 min 15s 温度循环 （Temperature Cycle） 7/10 SMD3225 QUARTZ CRYSTAL UNIT MDH P/N REV. 2.3.3.400000919 01 PAGE 4.1机械性能 / Mechanism characteristics 跌落测试（Drop Test） B.1 Device are dropped from a height of 150 cm onto 20mm thickness stainless plate executing 3 times of random drops. （Ⅰ） 耐振性（Resistance of Vibration） B.2 Frequency：10~55Hz，amplitude(total excursion)：1.5mm±15%,3 direction (X,Y,Z) each 2 hrs then 25±2℃ 2 hrs before testing （Ⅰ） 可焊性试验（Solderability) （Ⅲ） B.3 245±5℃，5±1s 耐焊接热（Reflow）Resistance to soldering heat（Reflow） B.4 参考曲线图（Reference Curve）： （Ⅰ） 8/10 SMD3225 QUARTZ CRYSTAL UNIT 项目 结果编号Result NO. Item 规格要求 MDH P/N REV. 2.3.3.400000919 01 PAGE Specification Requirements （Ⅰ） 频率变化