CM1341-DAT
4 串带均衡功能电池保护 IC
www.icm-semi.com
CM1341-DAT 是一款专用于 4 串锂/铁电池的保护芯片,内置有高精度电压检测电路和电流检测电路。通过检测各节电
池的电压、充放电电流及温度等信息,实现电池过充电、过放电、均衡、断线、低压禁充、放电过电流、短路、充电过电流
和过温保护等功能,放电过流保护延时外置电容可调,其他保护延时内置。
功能特点
1) 高精度电池电压检测功能
过充电保护电压
4.250 V
精度 ±15 mV
过充电恢复电压
4.150 V
精度 ±30 mV
均衡开启电压
4.125 V
精度 ±25 mV
过放电保护电压
2.700 V
精度 ±50 mV
过放电解除电压
3.000 V
精度 ±80 mV
2) 三段放电过流保护功能
过电流 1 保护电压
0.050 V
精度 ±5 mV
过电流 2 保护电压
0.100 V
精度 ±15 mV
短路保护电压
0.200 V
精度 ±40 mV
-0.025 V
精度 ±5 mV
3) 充电过流保护功能
充电过流保护电压
4) 充电器检测及负载检测功能
5) 充、放电高温保护功能
6) 充、放电低温保护功能
有
7) 电池断线保护功能
8) NTC 电阻断线保护功能
9) 低压禁止充电功能
有
10) 低电流消耗
工作时
10 μA (典型值)
(Ta = +25°C)
休眠时
5.0 μA (典型值) (Ta = +25°C)
11) RoHS、无铅、无卤素
应用领域
吸尘器、电动工具
UPS 后备电源
4 串可充电锂电池组
封装
Rev 1.1
TSSOP16
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系统功能框图
VCC
稳压源
负载/充电器
检测
基准电压
VM
CO
+
-
DO
过充检测
VC1
+
VC2
电压、断线、低压
禁充检测电路
逻辑处理
过放检测
过流检测
VC3
+
RTV
VC4
VINI
均衡检测
过温检测
RTS
过流延时
TEC
VSS
图 1
Rev 1.1
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CM1341-DAT
命名规则
CM1341-DAT
封装形式,T 代表 TSSOP
产品序列号,从 AA ~ZZ
产品系列
印字说明
CM1341-DAT
XXXX
第一行:LOGO
第二行:产品型号
图 2
第三行:生产批次
产品目录
1. 检测电压表
产品名称
CM1341-DAT
过充电
过充电
均衡
过放电
过放电
放电
放电
短路
充电
保护电压
解除电压
启动电压
保护电压
解除电压
过流 1
过流 2
保护
过流
VOC
VOCR
VBAL
VOD
VODR
VEC1
VEC2
VSHORT
VCHA
4.250 V
4.150 V
4.125 V
2.700 V
3.000 V
0.050 V
0.100 V
0.200 V
-0.025 V
表 1
2. 产品功能表
产品名称
充、放电低温保护功能
低压禁充功能
CM1341-DAT
有
有
表 2
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引脚排列图
1
VCC
VM
16
2
VNC
CO
15
3
VNC
DO
14
4
VNC
VINI
13
5
VC1
RTV
12
6
VC2
RTS
11
7
VC3
TEC
10
8
VC4
VSS
9
CM1341
图 3
引脚号
符号
描述
1
VCC
正电源输入端子、电池 1 的正电压连接端子
2
VNC
电池 1 的正电压连接端子
3
VNC
电池 1 的正电压连接端子
4
VNC
电池 1 的正电压连接端子
5
VC1
电池 1 的正电压连接端子
6
VC2
电池 1 的负电压、电池 2 的正电压连接端子
7
VC3
电池 2 的负电压、电池 3 的正电压连接端子
8
VC4
电池 3 的负电压、电池 4 的正电压连接端子
9
VSS
芯片地、电池 4 的负电压连接端子
10
TEC
放电过流延时调节端子
11
RTS
接 NTC,用于温度检测
12
RTV
接电阻到 RTS 端子,用于设置保护温度
13
VINI
过流检测端子
14
DO
放电 MOS 控制端子
15
CO
充电 MOS 控制端子
16
VM
充电器及负载检测端子
表 3
Rev 1.1
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绝对最大额定值
(除特殊注明以外:Ta = +25°C)
项目
符号
适用端子 (n=1 ~ 4)
绝对最大额定值
单位
电源电压
VCC
VCC
VSS-0.3 ~ VSS+40
V
输入电压 0
VCELL
VCn
VSS-0.3 ~ VSS+40
V
输入电压 1
VIN1
RTV, TEC
VSS-0.3 ~ VSS+5.5
V
输入电压 2
VIN2
VM, CO
VSS-15 ~ VCC+0.3
V
输入电压 3
VIN3
DO, RTS, VINI
VSS-0.3 ~ VCC+0.3
V
工作环境温度
TOPR
−
-40 ~ +85
°C
保存温度范围
TSTG
−
-55 ~ +125
°C
表 4
注意:所加电压超过绝对最大额定值,可能导致芯片发生不可恢复性损伤。
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电气特性
(除特殊注明以外:Ta = +25°C)
最小值
典型值
最大值
单
位
VCn - VCn+1 = 3.5V,
VC4-VSS = 3.5V
-
10
15
μA
ISTB
VCn - VCn+1 = 1.5V,
VC4-VSS = 1.5V
-
5.0
-
μA
保护电压
VOC
VCn - VCn+1 = 3.5V,
VC4-VSS = 3.5 → 4.4V
4.235
4.250
4.265
V
解除电压
VOCR
VCn - VCn+1 = 3.5V,
VC4-VSS = 4.4 → 3.5V
4.120
4.150
4.180
V
保护延时
TOC
VCn - VCn+1 = 3.5V,
VC4-VSS = 3.5 → 4.4V
0.7
1.0
1.3
s
解除延时
TOCR
VCn - VCn+1 = 3.5V,
VC4-VSS = 4.4 → 3.5V
128
256
384
ms
启动电压
VBAL
VCn - VCn+1 = 3.5V,
VC4-VSS = 3.5 → 4.4V
4.100
4.125
4.150
V
均衡延时
TBAL
VCn - VCn+1 = 3.5V,
VC4-VSS = 3.5 → 4.4V
-
32
-
ms
保护电压
VOD
VCn - VCn+1 = 3.5V,
VC4-VSS = 3.5 → 2.0V
2.650
2.700
2.750
V
解除电压
VODR
VCn - VCn+1 = 3.5V,
VC4-VSS = 2.0 → 3.5V
2.920
3.000
3.080
V
保护延时
TOD
VCn - VCn+1 = 3.5V,
VC4-VSS = 3.5 → 2.0V
0.7
1.0
1.3
s
解除延时
TODR
VCn - VCn+1 = 3.5V,
VC4-VSS = 2.0 → 3.5V
128
256
384
ms
禁充电压
VLV
VCn - VCn+1 = 3.5V,
VC4-VSS = 3.5 → 1.2V
1.20
1.50
1.80
V
解除电压
VLVR
VCn - VCn+1 = 3.5V,
VC4-VSS = 1.2 → 3.5V
1.22
1.52
1.82
V
禁充延时
TLV
VCn - VCn+1 = 3.5V,
VC4-VSS = 3.5 → 1.2V
0.7
1.0
1.3
s
解除延时
TLVR
VCn - VCn+1 = 3.5V,
VC4-VSS = 1.2 → 3.5V
128
256
384
ms
保护电压
VEC1
VCn - VCn+1 = 3.5V, VC4-VSS = 3.5V,
VINI = 0 → 0.18V
0.045
0.050
0.055
V
保护延时
TEC1
VCn - VCn+1 = 3.5V, VC4-VSS = 3.5V,
VINI = 0 → 0.18V, CTEC=0.1μF
0.5
1.0
1.5
s
保护电压
VEC2
VCn - VCn+1 = 3.5V, VC4-VSS = 3.5V,
VINI = 0 → 0.35V,
0.085
0.100
0.115
V
保护延时
TEC2
VCn - VCn+1 = 3.5V, VC4-VSS = 3.5V,
VINI = 0 → 0.35V, CTEC=0.1μF
50
100
150
ms
项目
符号
正常工作电流
IVCC
休眠电流
过
充
电
均衡
过
放
电
低
压
禁
充
放电
过流
1
放电
过流
2
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测试条件 (n=1 ~ 3)
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符号
测试条件 (n=1 ~ 3)
最小值
典型值
最大值
单
位
保护电压
VSHORT
VCn - VCn+1 = 3.5V, VC4-VSS = 3.5V,
VINI = 0 → 0.8V
0.160
0.200
0.240
V
保护延时
TSHORT
VCn - VCn+1 = 3.5V, VC4-VSS = 3.5V,
VINI = 0 → 0.8V
100
300
500
μs
TECR
VCn - VCn+1 = 3.5V, VC4-VSS = 3.5V,
VINI = 0.8 → 0V
22
32
42
ms
保护电压
VCHA
VCn - VCn+1 = 3.5V, VC4-VSS = 3.5V,
VINI = 0 → -1.0V
-0.030
-0.025
-0.020
V
保护延时
TCHA
VCn - VCn+1 = 3.5V, VC4-VSS = 3.5V,
VINI = 0 → -1.0V
180
256
332
ms
解除延时
TCHAR
VCn - VCn+1 = 3.5V, VC4-VSS = 3.5V,
VINI = -1V → 0V
45
64
83
ms
保护电压
VOW
-
-
200
-
mV
解除电压
VOWR
-
-
300
-
mV
保护延时
TOW
CVC1~4=0.1μF
-
-
4
s
解除延时
TOWR
CVC1~4=0.1μF
-
256
-
ms
充电高温
保护温度
TCH
VCn - VCn+1 = 3.5V, VC4-VSS = 3.5V,
RNTC = 100k → 10k
TCH – 3
TCH
TCH + 3
°C
充电高温
解除温度
TCHR
VCn - VCn+1 = 3.5V, VC4-VSS = 3.5V,
RNTC = 10k → 100k
TCHR – 3
TCHR
TCHR + 3
°C
放电高温
保护温度
TDH
VCn - VCn+1 = 3.5V, VC4-VSS = 3.5V,
RNTC = 100k → 10k
TDH – 3
TDH
TDH + 3
°C
放电高温
解除温度
TDHR
VCn - VCn+1 = 3.5V, VC4-VSS = 3.5V,
RNTC = 10k → 100k
TDHR – 3
TDHR
TDHR + 3
°C
充电高温
保护延时
DTCH
VCn - VCn+1 = 3.5V, VC4-VSS = 3.5V,
RNTC = 100k → 10k
0.7
1.0
1.3
s
充电高温
解除延时
DTCHR
VCn - VCn+1 = 3.5V, VC4-VSS = 3.5V,
RNTC = 10k → 100k
90
128
166
ms
放电高温
保护延时
DTDH
VCn - VCn+1 = 3.5V, VC4-VSS = 3.5V,
RNTC = 100k → 10k
0.7
1.0
1.3
s
放电高温
解除延时
DTDHR
VCn - VCn+1 = 3.5V, VC4-VSS = 3.5V,
RNTC = 10k → 100k
90
128
166
ms
充电低温
保护温度
TCL
VCn - VCn+1 = 3.5V, VC4-VSS = 3.5V,
RNTC = 100k → 3M
TCL – 3
TCL
TCL + 3
°C
充电低温
解除温度
TCLR
VCn - VCn+1 = 3.5V, VC4-VSS = 3.5V,
RNTC = 3M → 100k
TCLR – 3
TCLR
TCLR + 3
°C
放电低温
保护温度
TDL
VCn - VCn+1 = 3.5V, VC4-VSS = 3.5V,
RNTC = 100k → 3M
TDL – 3
TDL
TDL + 3
°C
项目
短路
放电过流
解除延时
充
电
过
流
断
线
保
护
充
放
电
高
温
保
护
充
放
电
低
温
保
护
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符号
测试条件 (n=1 ~ 3)
最小值
典型值
最大值
单
位
放电低温
解除温度
TDLR
VCn - VCn+1 = 3.5V, VC4-VSS = 3.5V,
RNTC = 3M → 100k
TDLR – 3
TDLR
TDLR + 3
°C
充电低温
保护延时
DTCL
VCn - VCn+1 = 3.5V, VC4-VSS = 3.5V,
RNTC = 100k → 3M
0.7
1.0
1.3
s
充电低温
解除延时
DTCLR
VCn - VCn+1 = 3.5V, VC4-VSS = 3.5V,
RNTC = 3M → 100k
90
128
166
ms
放电低温
保护延时
DTDL
VCn - VCn+1 = 3.5V, VC4-VSS = 3.5V,
RNTC = 100k → 3M
0.7
1.0
1.3
s
放电低温
解除延时
DTDLR
VCn - VCn+1 = 3.5V, VC4-VSS = 3.5V,
RNTC = 3M → 100k
90
128
166
ms
检测电压
VSTS
VCn - VCn+1 = 3.5V, VC4-VSS = 3.5V,
VINI = 0 → 10mV
1.0
4.0
7.0
mV
检测延时
TSTS
VCn - VCn+1 = 3.5V, VC4-VSS = 3.5V,
VINI = 0 → 10mV
3.0
4.5
6.0
ms
休眠延时
TSLP
VCn - VCn+1 = 3.5V,
VC4-VSS = 3.5 → 1.5V
22
32
42
s
VM-VSS 电阻
RVMS
V1=V2=V3=V4=3.5V,
VINI=0.200V
-
50
-
kΩ
CO、DO 高
输出电平
VCOH
VDOH
VCC>12V
-
10.8
-
V
-
VCC-0.7
-
CO、DO 低
输出电平
VCOL
-
Hi-Z
-
VDOL
-
VSS
-
项目
放电
状态
检测
VCC12V
-
10.8
-
V
-
VCC-0.7
-
CO、DO 低
输出电平
VCOL
-
Hi-Z
-
VDOL
-
VSS
-
项目
放电
状态
检测
VCC 0.1V(典型值),当所有电池电压降低到过充电保护电压 VOC 以下时,过充电状态解
除,恢复为正常状态,此功能称作负载检测功能。
过放电
任意一节电池电压降低到 VOD 以下并持续一段时间超过 TOD,DO 端子的输出就会反转,将放电控制 MOS 管关断,停止
放电,这称为过放电状态。所有电池电压上升到过放电解除电压 VODR 以上,且 VM 电压小于 3.0V(典型值),并持续一段
时间超过 TODR,过放电状态解除,恢复为正常状态。若此时连接充电器 VVM < -0.1V(典型值),当所有电池电压上升到过放
电保护电压(VOD)以上时,过放电状态解除,恢复为正常状态,此功能称作充电器检测功能。
放电过电流
电池处于放电状态时,VINI 端电压随着放电电流的增大而增大,当 VINI 端电压高于 VEC1 并持续一段时间超过 TEC1,芯
片认为出现了放电过流 1;当 VINI 端电压高于 VEC2 并持续一段时间超过 TEC2,芯片认为出现了放电过流 2;当 VINI 端电压
高于 VSHORT 并持续一段时间超过 TSHORT,芯片认为出现了短路。上述 3 种状态任意一种状态出现后,DO 端子的输出就会反
转,将放电控制 MOS 管关断,停止放电。进入放电过流保护状态后,断开负载且 VVM < 3.0V,放电过流保护解除,恢复为
正常状态。
充电过电流
正常工作状态下的电池,在充电过程中,如果 VINI 端子电压低于充电过流保护电压(VCHA),且这种状态持续的时间超过
充电过流保护延迟 TCHA,将充电控制 MOS 管关断,停止充电,这种状态称为充电过流状态。进入充电过流保护状态后,如
果断开充电器且 VVM>VCHA,充电过电流状态被解除,恢复为正常状态。
过温保护
充放电过程中,电芯温度过高或过低都会给电芯带来损坏,因此需要通过热敏电阻 RNTC 用于感知温度变化,当达到设定
的保护温度,且维持一段时间后,即发生温度保护,将充电或放电 MOS 管关断,实现对电芯充放电高低温的保护。
当 VINI 端小于 4mV 时,芯片默认识别为充电状态,若检测到温度高于充电高温保护温度 TCH,且持续时间超过 DTCH,
则关断充电 MOS 管,充电高温保护迟滞温度为 5°C。若检测到温度低于充电低温保护温度 TCL,且持续时间超过 DTCL,则关
断充电 MOS 管,充电低温保护迟滞温度为 5°C。
当 VINI 端大于 4mV 时,芯片识别为放电状态,若检测到温度高于放电高温保护温度 TDH,且持续时间超过 DTDH,则同
时关断充放电 MOS 管,放电高温保护迟滞温度为 10°C。若检测到温度低于放电低温保护温度 TDL,且持续时间超过 DTDL,
则同时关断充放电 MOS 管,放电低温保护迟滞温度为 10°C。
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CM1341-DAT
RTS 连接电阻 RNTC 选用 B 值=3950,常温 100kΩ@25°C 的电阻,RTV 连接电阻 RT 用于设置高温保护温度。RT 电阻大
小为所需 TCH 所对应的 NTC 阻值的 3 倍,放电高温保护温度与充电高温保护具有一一对应关系,具体设置如下:
RT
TCH
TDH
TCL
TDL
160kΩ
40°C
59°C
-8°C
-26°C
133kΩ
45°C
65°C
-4°C
-24°C
110kΩ
50°C
70°C
0°C
-20°C
91kΩ
55°C
76°C
3°C
-18°C
75kΩ
60°C
82°C
7°C
-14°C
表 7
CM1341-DAT 具有 NTC 断线保护功能,若 RTV 连接电阻,NTC 断线后芯片会进入 NTC 断线保护状态,CO、DO 端子
的输出均会反转;如不使用温度保护功能,可将 RNTC 与 RT 各接 100kΩ 电阻即可。
断线保护
正常状态下,若芯片管脚 VC1~VC4 中任意一根或多根与电芯的连线断开,芯片则检测判断为发生断线状态,强制将 CO、
DO 输出电平反转,同时关断充、放电 MOS,禁止充电与放电,此状态称为断线保护状态。若断线前接有负载,当断开的连
线重新正确连接后,需要断开负载且 VVM < 3.0V,芯片退出断线保护状态。
低压禁充功能
CM1341-DAT 提供低压禁充功能可选,具备低压禁充功能的 IC 在检测到任意节电池电压低于 VLV 并持续一段时间超过
TLV,CO 端子的输出就会反转,将充电控制 MOS 管关断,停止充电。所有电池电压回升到 VLVR 以上并持续一段时间超过
TLVR,低压禁充状态解除,恢复为正常状态。
均衡功能
CM1341-DAT 内置电池均衡功能,内部均衡电阻 600Ω,通过外部电压采样电阻调节均衡电流,推荐外部电压采样电阻
100 ~ 1000Ω,如需大电流均衡可外部增加均衡电路扩流,均衡电流由外部均衡电阻决定。正常状态下,任意一节电池电压高
于均衡检测电压(VBAL)
,其余电池电压低于均衡检测电压(VBAL)
,超过均衡启动延迟时间(TBAL)
,CM1341-DAT 开始均衡。
均衡停止条件:
1) 所有电池电压低于均衡检测电压(VBAL);
2) 所有电池电压高于均衡检测电压(VBAL);
3) CM1341-DAT 进入休眠状态,断线保护状态,放电温度保护状态;
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CM1341-DAT 采用奇偶通道分时均衡,均衡功能不影响正常的电池电压采样,当同时开启多路均衡通道,奇数通道会
先进入均衡状态,偶数通道在下一个周期进入均衡状态,具体电池电压采样和均衡开启时序图如下:
8ms
8ms
采样等待
16ms
16ms
电压采样
8ms
采样等待
40ms
奇数通道均衡
16ms
电压采样
8ms
采样等待
40ms
偶数通道均衡
16ms
电压采样
40ms
奇数通道均衡
图 4
放电过流延迟时间设置
CM1341-DAT 放电过流保护延时可通过外置电容调节。放电过流 1 与放电过流 2 保护延时时间比例为 10:1, 延迟时间与
CTEC 可按如下公式进行设置:
TEC1 (ms) = 10*CTEC (nF), TEC2 = TEC1/10,
可参考如下表格设定:
CTEC
TEC1
TEC2
47 nF
470 ms
47 ms
100 nF
1000 ms
100 ms
表 8
电池端子连接顺序
为了保证 CM1341-DAT 工作正确,请按照下述建议的顺序连接各个电池端子,否则需要在上电完成后把芯片 VCC 管脚
短路到 VSS 管脚 1ms 以上进行激活,以确保芯片正常工作。
1)
连接 VSS
2)
3)
连接 VCC
Rev 1.1
连接其他电池端子
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CM1341-DAT
应用电路
带均衡同口方案
P+
RVCC
D1
1
VCC
VM
16
2
VNC
CO
15
3
VNC
DO
14
4
VNC
VINI
13
5
VC1
RTV
12
6
VC2
RTS
11
7
VC3
TEC
10
CVCC
RVM
RDO
RVC1
RB1
RB2
RB3
RB4
QP1 R1
QP2 R2
QP3 R3
CM1341
RVINI
RT
CVC1
RVC2
CVC2
RVC3
CTEC
CVC3
RVC4
VC4
8
VSS
QP8
RNTC
RCO2
CVINI
9
CVC4
QP4 R4
RCO1
RSENSE
P-
RPD
图 5
无均衡同口方案
P+
RVCC
D1
1
VCC
VM
16
2
VNC
CO
15
3
VNC
DO
14
4
VNC
VINI
13
5
VC1
RTV
12
6
VC2
RTS
11
7
VC3
TEC
10
CVCC
RVM
RDO
RVC1
RVC2
RVC3
RVC4
CM1341
RVINI
RT
CVC1
CVC2
CTEC
CVC3
8
VC4
VSS
QP8
RNTC
RCO2
CVINI
9
CVC4
RCO1
RSENSE
RPD
P-
图 6
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BOM 清单
器件标识
典型值
参数范围
单位
RVCC
1
0.1 ~ 1
kΩ
RVC1~RVC4
1
0.1 ~ 1
kΩ
R1~R4
100
47 ~ 100
Ω
RB1~RB4
100
40 ~ 1000
Ω
RNTC
100k @25°C
−
Ω
RT
3*RNTC @TCH
−
Ω
RVINI
1
1 ~ 10
kΩ
RVM
20
10 ~ 100
kΩ
RCO1
10
3.3 ~ 15
MΩ
RCO2
10
3.3 ~ 15
MΩ
RDO
1
1 ~ 10
kΩ
RSENSE
-
可依实际过流值设定
mΩ
RPD
3
0.3 ~ 4.0
MΩ
CVCC
1.0
0.47 ~ 4.7μF, 耐压≥25V
μF
CVC1~CVC4
0.1
0.1 ~ 1μF, 耐压≥25V
μF
CVINI
0.1
0.1 ~ 1μF, 耐压≥10V
μF
CTEC
0.1
0 ~ 1.0
μF
QP1~QP4
-
PNP 三极管,功率>0.5W
-
D1
-
VF<0.4V@1mA,V(BR)≥50V
-
表 9
注意:
1.
如非上述两种典型应用方案应用,请咨询我司FAE。
2.
其它特殊应用电路需要更改部分BOM,例如P充N放方案、超大电流充放电等。
3.
RCO、RDO、RPD等电阻的值需要结合MOSFET的器件参数和系统级功能需求进行调试。
4.
上述参数有可能不经预告而作更改。
5.
上述IC的原理图以及参数并不作为保证电路工作的依据,请在实际的应用电路上进行充分的实测后再设定参数。
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封装信息
TSSOP16 封装尺寸
图 7
符号
尺寸 (mm)
最小值
典型值
最大值
A
---
---
1.20
A1
0.05
---
0.15
A2
0.90
1.00
1.05
A3
0.39
0.44
0.49
b
0.20
---
0.30
b1
0.19
0.22
0.25
c
0.110
0.127
0.145
c1
0.12
0.13
0.14
D
4.90
5.10
5.30
E
6.20
6.40
6.60
E1
4.20
4.40
4.60
e
L
0.65BSC
0.45
0.60
L1
θ
0.75
1.00BSC
0
8°
表 10
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载带信息
图 8
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卷盘信息
图 9
包装信息
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卷盘
PCS/盘
盘/盒
盒/箱
13”×12mm
3000
2
8
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使用注意事项
1.
本说明书中的内容,随着产品的改进,有可能不经过预告而更改。需要更详细的内容,请与本公司市场部门联系。
2.
本规格书中的电路示例、使用方法等仅供参考,并非保证批量生产的设计,因第三方所有权引发的问题,本公司对此概
不承担任何责任。
3.
本规格书在单独应用的情况下,本公司保证它的性能、典型应用和功能符合说明书中的条件。当使用客户的产品或设
备时,以上条件我们不作保证,建议客户做充分的评估和测试。
4.
请注意在规格书记载的条件范围内使用产品,请特别注意输入电压、输出电压、负载电流的使用条件,使IC内的功耗
不超过封装的容许功耗。对于客户在超出规格书中规定额定值使用产品,即使是瞬间的使用,由此造成的损失,本公
司对此概不承担任何责任。
5.
在使用本产品时,请确认使用国家、地区以及用途的法律、法规,测试产品用途的满足能力和安全性能。
6.
本规格书中的产品,未经书面许可,不可用于可能对人体、生命及财产造成损失的设备或装置的高可靠性电路中,例
如:医疗器械、防灾器械、车辆器械、车载器械、航空器械、太空器械、核能器械等,亦不得作为其部件使用。
本公司指定用途以外使用本规格书记载的产品而导致的损害,本公司对此概不承担任何责任。
7.
本公司一直致力于提高产品的质量及可靠性,但所有的半导体产品都有一定的概率发生失效。
为了防止因本产品的概率性失效而导致的人身事故、火灾事故、社会性损害等,请客户对整个系统进行充分的评价,自行
负责进行冗余设计、防止火势蔓延措施、防止误工作等安全设计,可以避免事故的发生。
8.
本产品在一般的使用条件下,不会影响人体健康,但因含有化学物质和重金属,所以请不要将其放入口中。另外,封装和芯片
的破裂面可能比较尖锐,徒手接触时请注意防护,以免受伤等。
9.
废弃本产品时,请遵守使用国家和地区的法令,合理地处理。
10. 本规格书中内容,未经本公司许可,严禁用于其它目的的转载或复制。
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