3T032000VX

3T032000VX

  • 厂商:

    HUAXINELECTRONICS(华昕电子)

  • 封装:

    SMD3225_4P

  • 描述:

    温补晶振TCXO全系列 应用:UWB定位 GNSS导航 通讯等

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3T032000VX 数据手册
深圳市华昕电子有限公司 SHENZHEN HUAXIN ELECTRONICS CO.,LTD. : H X - C 料号 P/N. NO.: Checked 地址: 深圳市龙华区龙胜路融创智汇大厦C座1401-1402室 Office add:Room 1401-1402,Building C,Rongchuang,Longhua District,shenzhen TEL: 0755-21044642 Page:1 深圳市华昕电子有限公司 SHENZHEN HUAXIN ELECTRONICS CO.,LTD. 1 1 首次制定 2022.11.30 万力阳 蔡勤 Page:2 深圳市华昕电子有限公司 SHENZHEN HUAXIN ELECTRONICS CO.,LTD. NO. Content Page 1 石英晶体参数规格 QUARTZ CRYSTAL UNIT SPECIFICATION 4 2 电路测试 CILCUIT TEST 5 3 包装数量 NUMBER OF PACKAGES 5 4 外 形尺 寸 BOUNDARY DIMENSION 6 5 印字内容 MARKING 6 6 包装 PACKING 7 7 回流焊温度曲线 REFLOW PROFILES 8 8 可靠性试验 RELIABILITY SPECIFICATIOND 9 Page:3 深圳市华昕电子有限公司 SHENZHEN HUAXIN ELECTRONICS CO.,LTD. 描述 Description 产品型别 Product Type 测量设备 Measure equipment 电气特性 Electrical Characteristics 项目 Item NO. 1 2 3 符号 Symb ol 标准频率 Nominal Frequency 输出方式 Output mode 频率偏差 Frequency Tolerance FT 5 工作温度 Operating Temperature 6 储存温度范围 Storage Temperature 8 9 电流 current 11 11 占空比 Duty ratio 12 负载变化 Load Variation 相位噪声 Phase noise Cilpped Sinewave - 0.5 ppm -1.5 - 1.5 ppm 85 ℃ 125 ℃ -40 T_stg - -0.5 - -40 - F_age ppm ±1 1.8~3.3±5% Vdd Icc 启动时间 Start-up time 输出电平 Output Level 10 TC 2 To's'c TA=25℃, Vcc=3.3V First year V 1.5 mA 3 ms More then 90%of final amplitude Vp-p Clipped sine wave(DC-coupled) - 0.8 - - TH/T 40 - 60 % - - ±0.2 ppm - 备注 Notes MHZ 32.000 - 4 老化率 Aging rate 供电电压 For the pressure 电气特性规格 Electrical Specification 单位 下限 中心 上限 Min. Typ. Max. Units FL 温度频率稳定性 Temperature frequency stability 7 : TCXO : 3T : S&A 280B -120dBc/Hz -140dBc/Hz -150dBc/Hz 100Hz offset 1KHz offset 10KHz offset 100KHz offset Load_R//C=(10kΩ //10pF)±10% -155dBc/Hz Page:4 深圳市华昕电子有限公司 SHENZHEN HUAXIN ELECTRONICS CO.,LTD. 电路测试 CILCUIT TEST 包装盒 Packaging 包装箱 Packing cases 180*20*180 3000pcs 240*200*200 30000pcs Page:5 深圳市华昕电子有限公司 SHENZHEN HUAXIN ELECTRONICS CO.,LTD. BOUNDARY DIMENSION ( 单位:mm ) Pin Pin Pin Pin 1 2 3 4 NC or GND GND OUTPUT VDD HX-C . 32.0V** HX-C ------- LOGO 32.0 ------- 频率 V ------- 电压 * -------- 周期 . ------- Pin1 Page:6 深圳市华昕电子有限公司 SHENZHEN HUAXIN ELECTRONICS CO.,LTD. BRAID PACKAGING (单位: mm) Page:7 深圳市华昕电子有限公司 SHENZHEN HUAXIN ELECTRONICS CO.,LTD. Preheat/Soak Temperature Min (Ts min) Temperature Max (Ts max) Time (Ts) from (Ts min to Ts max) Ramp-up rate (TL to TP) Liquidous temperature (TL) Time (TL) maintained above TL Peak/Classification Temperature (TP) Time within 5℃ of actual Peak Temperature (TP) Ramp-down rate (TP to TL) Time 25 °C to peak temperature Suggest reflow times 150℃ 200℃ 60-120 seconds 3℃/second max. 217℃ 60-150 seconds 260±5℃ 20~40 seconds 6℃/second max. 8 minutes max. 3 Times max TP TP Ramp Up Rate Ramp Down Rate TL Ts max TL Ts min Ts Preheat Area 25℃ Time 25℃ to Peak Page:8 深圳市华昕电子有限公司 SHENZHEN HUAXIN ELECTRONICS CO.,LTD. NO. 1 2 项目 ITEM 跌落 FREE FALL 振动 VIBRATION 测试条件 CONDITIONS 从150cm位置高度,自由跌落在木板上,连续3次. FREE DROPPING FROM 150 cm HEIGHT 3 TIMES ON A HARD 振动频率: 10~2000 Hz, 振幅: 1.52mm, 时间: 每个方位三面 (X、 Y、 Z) 各振动2小时 判定标准 Criteria FREQUENCY: 10 2000Hz;AMPLITUDE (TOTAL EXCURSION): 1.5mm SWEEP TIME: 2-3MIN, 3 DIRECTION(X, Y, Z) EACH FOR 2 Hrs. 〜 晶体放入试验箱中, 高、低温循环10次 THE CRYSTAL UNIT SHALL BE SUBJECTED TO 10 SUCCESSIVE CHANGE OF TEMPERATURE CYCLE 3 温度循环 TEMPERATURE CYCLE 电器性能 满足规格要求 4 5 6 7 8 冲击 IMOACT THE ELECTRICAL PREFORMAN CE MEET 温度: 245±5℃, 浸锡时间: 3±0.5 秒 THE LEAD IS IMMERSED IN A 245±5℃ SOLDER BATH WITHIN THESPECIFIC ATONN 半正弦波冲击(1000G): 持续时间:0.5ms,X,Y,Z三 轴各三次时间: 2 小时 HELIUM BOMBING:3 T I M E 可焊性 SOLDERABILI 3±0.5 SECONDS. TY 稳态湿热 温度: 8 5 ±3℃, 湿度: 8 5 %, 保持时间: 500个小时 HIGH TEMP. & STORED AT 8 5 ±3℃ AND HUMIDITY 8 5 % FOR 500±12H. HUMIDITY 高温温度: 125±2℃, 时间: 500±12 个小时 高温存储 STORED AT 125±2℃ FOR 500±12H. 如果客户的温度要求是高于标准,则必须根据客户的要求测试 HIGH TEMPERATURE If Customer's temperature request is higher than the standard,Temperature test must be done for customer STORAGE requirements 低温温度: -40±2℃, 时间: 500±12 个小时 低温存储 STORED AT –40±2℃ FOR 500±12H. 如果客户的温度要求是低于标准,则必须根据客户的要求测试 LOW TEMPERATURE If Customer's temperature request is lower than the standard,Temperature test must be done for customer STORAGE requirements Page:9
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