深圳市富满电子集团股份有限公司
SHEN ZHEN FINE MAD ELECTRONICS GROUP CO., LTD.
2302B(文件编号:S&CIC1604)
30V N 沟道增强型 MOS 场效应管
VDS= 30V,VGS=±20V
RDS(ON), Vgs@4.5V, Ids@2.0A = 75mΩ@TYP
RDS(ON), Vgs@10.0V, Ids@3.0A =58mΩ@TYP
1
特点
G
D
高级的加工技术
极低的导通电阻高密度的单元设计
SOT-23
S
D
内部结构示意图
Drain
Gate
Source
最大额定值和热特性
(TA=25℃,除非另有说明)
参数
符号
C
值
漏源电压
VDS
30
栅源电压
VGS
±20
漏极电流
ID
2.4
漏极脉冲电流
IDM
5
最大功耗
TA=25℃
PD
TA=75℃
工作结温和存储温度范围
结环热阻(PCB 安装)
1.25
0.8
单位
V
A
W
TJ, Tstg
-55 to 150
℃
RθJA
140
℃/W
B
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30V N 沟道增强型 MOS 场效应管
电特性(TA=25℃,除非另有说明)
参数
符号
测试条件
最小
典型
最大
单位
BVDSS
VGS = 0V, ID = 250uA
30
--
--
V
VGS = 4.5V, ID = 2.0A
--
75.0
90.0
VGS =10.0V, ID = 3.0A
--
58.0
70.0
静电
漏源击穿电压
漏源电阻
RDS(on)
mΩ
栅极阈值电压
VGS(th)
VDS = VGS, ID = 250uA
1.0
1.7
3.0
V
栅源短路时,漏极电流
IDSS
VDS = 24V, VGS = 0V
--
--
1
uA
漏极短路时截止栅电流
IGSS
VGS = ±20V, IDS=0uA
--
--
±100
nA
VSD
ISD = 1A, VGS = 0V
--
--
1.3
V
漏源二极管
二极管正向电压
开关时间测试电路及波形:
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30V N 沟道增强型 MOS 场效应管
封装信息
SOT-23
符号
毫米
英寸
最小
最大
最小
最大
A
0.900
1.150
0.035
0.045
A1
0.000
0.100
0.000
0.004
A2
0.900
1.050
0.035
0.041
b
0.300
0.500
0.012
0.020
c
0.080
0.150
0.003
0.006
D
2.800
3.000
0.110
0.118
E
1.200
1.400
0.047
0.055
E1
2.250
2.550
0.089
0.100
e
e1
0.950 TYP.
1.800
L
0.037 TYP.
2.000
0.071
0.550 REF.
0.079
0.022 REF.
L1
0.300
0.500
0.012
0.020
θ
0°
8°
0°
8°
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