SinOne
SC92F7490
多通信接口 8PIN Flash MCU ,512 bytes SRAM ,16 Kbytes Flash,128 bytes 独立
EEPROM,12 位 ADC,3 个定时器,2 个 SSI 接口 ,Check Sum 校验模块,STOP 电流
8));
//写入 IAP 目标地址高位值
IAPADL = (unsigned char)IAP_Add;
//写入 IAP 目标地址低位值
IAPKEY = 0xF0;
//此值可根据实际调整;需保证本条指令执行后到对 IAPCTL 赋值前,
//时间间隔需小于 240(0xf0)个系统时钟,否则 IAP 功能关闭;
// 开启中断时要特别注意
IAPCTL = 0X0A;
//执行 IAP 写入操作,1ms@16M/8M/4M/1.33M;
_nop_();
//等待(至少需要 8 个_nop_())
_nop_();
_nop_();
_nop_();
_nop_();
_nop_();
_nop_();
_nop_();
_nop_();
IAP 读操作 C 的 Demo 程序:
IAPADE = 0X00;
IAP_Data = *( POINT+IAP_Add);
//选择 Code 区域
//读取 IAP_Add 的值到 IAP_Data
注意:Code 区域内的 IAP 操作有一定的风险,需要用户在软件中做相应的安全处理措施,如果操作不当可能
会造成用户程序被改写!除非用户必需此功能(比如用于远程程序更新等),不建议用户使用。
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V0.2
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SC92F7490
SinOne
多通讯接口 8PIN Flash MCU
16 CHECK SUM 模块
SC92F7490 内建了 1 个 check sum 模块,可用来实时生成程序代码的 16 位 check sum 值,用户可利用此
check sum 和理论值比较,监测程序区的内容是否正确。
注意:check sum 值是整个程序区的数据累加和,即 0000H~3FFDH 地址单元所有的数据。若地址单元中有
用户上次操作后的残留值,会导致 check sum 值与理论值不符。因此,建议用户对整片 code 区域进行擦除或写
0 操作后再烧录代码以保证 check sum 值与理论值一致。
16.1 CHECK SUM 校验操作相关寄存器
CHKSUML (FCH) Check Sum 结果寄存器低位(读/写)
7
6
5
4
3
位编号
CHKSUML[7:0]
符号
读/写
读/写
读/写
读/写
读/写
读/写
0
0
0
0
0
上电初始值
位编号
7~0
位符号
CHKSUML [7:0]
版
本
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位符号
CHKSUMS
读/写
0
读/写
0
读/写
0
2
1
0
读/写
0
读/写
0
读/写
0
览
说明
Check Sum 结果寄存器高位
OPERCON (EFH) 运算控制寄存器(读/写)
7
6
位编号
符号
读/写
x
x
上电初始值
位编号
0
0
Check Sum 结果寄存器低位
预
位符号
CHKSUMH [7:0]
1
说明
CHKSUMH (FDH) Check Sum 结果寄存器高位(读/写)
7
6
5
4
3
位编号
CHKSUMH[7:0]
符号
读/写
读/写
读/写
读/写
读/写
读/写
0
0
0
0
0
上电初始值
位编号
7~0
2
5
x
4
x
3
x
2
x
1
x
0
CHKSUMS
读/写
0
说明
Check sum 运算开始触发控制(Start)
对此 bit 写 “1”, 开始做一次 check sum 计算。此位只可写入 1 有效。
V0.2
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SC92F7490
SinOne
多通讯接口 8PIN Flash MCU
17 电气特性
17.1 极限参数
符号
VDD/VSS
Voltage ON any
Pin
TA
TSTG
参数
直流供电电压
任一管脚输入/输出电压
最小值
-0.3
-0.3
最大值
5.5
VDD+0.3
UNIT
V
V
工作环境温度
-40
85
℃
储存温度
-55
125
℃
17.2 推荐工作条件
符号
VDD
VDD
TA
参数
工作电压
工作电压
工作环境温度
最小值
2.9
2.4
-40
最大值
5.5
5.5
85
系统时钟频率
16MHz
8/4/1.33MHz
-
UNIT
V
V
℃
17.3 直流电气特性
符号
本
(VDD = 5V,TA = +25℃,除非另有说明)
参数
最小值
典型值
最大值
单位
测试条件
-
8.0
5.8
4.7
4.0
0.7
1.0
mA
mA
mA
mA
μA
fSYS=16MHz
fSYS=8MHz
fSYS=4MHz
fSYS=1.33MHz
-
7
-
mA
-
7
10
μA
-
6
10
μA
输入高电压
输入低电压
输入高电压
输入低电压
输出低电流
输出低电流
输出高电流 P1
输出高电流 P1
输出高电流 P0/P2
0.7VDD
-0.3
0.8VDD
-0.2
-
40
75
20
10
20
VDD+0.3
0.3VDD
VDD
0.2VDD
-
V
V
V
V
mA
mA
mA
mA
mA
输出高电流 P0/P2
-
10
-
mA
WDT 电流
IO 口特性
VIH1
VIL1
VIH2
VIL2
IOL1
IOL2
IOH1
IOH2
IOH3
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览
IWDT
IIDL1
预
IBTM
工作电流
工作电流
工作电流
工作电流
待机电流
(Power Down 模式)
待机电流
(IDLE 模式)
Base Timer 工作电流
Iop1
Iop2
Iop3
Iop4
Ipd1
版
电流
BTMFS[3:0]=
0111
每 2.0 秒产生一个
中断
WDTCKS[2:0]=
000
WDT 溢 出 时 间
500ms
施密特触发输入:
RST/tCK/SCK
VPin =0.4V
VPin =0.8V
VPin=4.3V
VPin=4.7V
VPin=4.3V
Pxyz=0,IOH 等级 0
VPin=4.3V
Pxyz=1,IOH 等级 1
V0.2
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SC92F7490
SinOne
输出高电流 P0/P2
-
5.3
-
mA
输出高电流 P0/P2
-
2
-
mA
输出高电流 P0/P2
-
10
-
mA
输出高电流 P0/P2
-
4.7
-
mA
输出高电流 P0/P2
-
2.4
-
mA
输出高电流 P0/P2
-
1
-
mA
-
33
-
k
2.38
2.40
2.42
V
最小值
典型值
最大值
单位
-
5.8
4.3
3.6
3.2
0.6
1
mA
mA
mA
mA
μA
版
IOH4
多通讯接口 8PIN Flash MCU
-
5
-
mA
0.7VDD
-0.3
0.8VDD
-0.2
-
32
54
7
55
VDD+0.3
0.3VDD
VDD
0.2VDD
-
V
V
V
V
mA
mA
mA
k
2.38
2.40
2.42
V
RPH1
上拉电阻
做为 ADC 参考电压的内部基准 2.4V
VDD24
内部基准 2.4V 电压输出
VPin=4.3V
Pxyz=2,IOH 等级 2
VPin=4.3V
Pxyz=3,IOH 等级 3
VPin=4.7V
Pxyz=0,IOH 等级 0
VPin=4.7V
Pxyz=1,IOH 等级 1
VPin=4.7V
Pxyz=2,IOH 等级 2
VPin=4.7V
Pxyz=3,IOH 等级 3
TA=-40~85℃
(VDD = 3.3V,TA = +25℃,除非另有说明)
符号
参数
测试条件
IIDL2
工作电流
工作电流
工作电流
工作电流
待机电流
(Power Down 模式)
待机电流
(IDLE 模式)
fSYS=16MHz
fSYS=8MHz
fSYS=4MHz
fSYS=1.33MHz
览
Iop5
Iop6
Iop7
Iop8
Ipd2
本
电流
预
IO 口特性
VIH3
输入高电压
VIL3
输入低电压
VIH4
输入高电压
VIL4
输入低电压
IOL3
输出低电流
IOL4
输出低电流
IOH5
输出高电流 Pxyz=0
RPH2
上拉电阻
做为 ADC 参考电压的内部基准 2.4V
VDD24
内部基准 2.4V 电压输出
施密特触发输入:
RST/tCK/SCK
VPin =0.4V
VPin =0.8V
VPin =3.0V
TA =-40~85℃
17.4 交流电气特性
(VDD = 2.4V ~ 5.5V,TA = 25℃,除非另有说明)
符号
TPOR
TPDW
TReset
fHRC
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参数
Power On Reset 时间
Power Down 模式唤醒时
间
复位脉冲宽度
RC 振荡稳定性
最小值
-
典型值
1
1
最大值
1.5
1.5
单位
ms
ms
18
15.84
16
16.16
us
MHz
测试条件
低电平有效
VDD=2.9~5.5V
TA =-20~85 ℃
V0.2
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SC92F7490
SinOne
多通讯接口 8PIN Flash MCU
17.5 ADC 电气特性
(TA = 25℃,除非另有说明)
参数
供电电压
精度
ADC 输入电压
ADC 输入电阻
ADC 转换电流 1
最小值
2.9
GND
1
-
典型值
5.0
12
-
最大值
5.5
VDD
2
单位
V
bit
V
M
mA
IADC2
ADC 转换电流 2
-
-
1.8
mA
DNL
INL
EZ
EF
EAD
TADC1
微分非线性误差
积分非线性误差
偏移量误差
满刻度误差
总绝对误差
ADC 转换时间
-
10
±2
±2
±8
±1
±8
-
LSB
LSB
LSB
LSB
LSB
μs
TADC2
ADC 转换时间
-
25
-
μs
测试条件
GND≤VAIN≤VDD
VIN=5V
ADC 模块打开
VDD=5V
ADC 模块打开
VDD=3.3V
VDD=5V
VREF=5V
ADC Clock =
2MHz
ADC Clock =
333kHz
预
览
版
本
符号
VAD
NR
VAIN
RAIN
IADC1
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V0.2
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SC92F7490
SinOne
多通讯接口 8PIN Flash MCU
18 订购信息
封装
SOP8L
包装
管装
预
览
版
本
产品编号
SC92F7490M08U
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V0.2
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SC92F7490
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多通讯接口 8PIN Flash MCU
19 封装信息
SC92F7490M08U
SOP8L(150mil) 外形尺寸
HE
5
E
8
单位:毫米
z
L
1
b
4
L1
D
y
A
A1
e
D
A2
c
Detail F
See Detail F
符号
mm(毫米)
正常
1.600
最大
1.700
0.150
0.200
1.450
-
0.406
0.510
A1
0.100
A2
-
b
0.356
C
0.143
0.203
0.263
D
4.790
4.840
4.950
E
3.810
3.860
3.950
HE
5.850
6.000
6.150
预
览
版
A
最小
1.450
1.270(BSC)
e
Page 61 of 62
本
Seating Plane
L
0.450
0.600
0.750
L1
0.950
1.050
1.150
0
-
10
V0.2
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SC92F7490
SinOne
多通讯接口 8PIN Flash MCU
20 规格更改记录
版本
V0.2
日期
2018 年 10 月
2018 年 04 月
预
览
版
本
V0.1
记录
1. C 语言例程中 83H 改为 0x83
2. 更新 TBIE 的 BIT 位描述
3. 更新 GPIO 章节相关描述
4. 更新 TWI 章节的图文描述
5. 更新 OP_HRCR 的描述
初版
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- 1+3.00240
- 10+2.44080
- 30+2.20320
- 100+1.76040