RX32F103x8
RX32F103xB
32-bit MCU up to 128 KB Flash,20 KB SRAM,
8 timers, 2 ADCs, COMP, Op-Amp, PGA, 8 com. interfaces
Features
• Operating voltage 2.5 to 5.5 V
• Operating temperatures -40 to +105 °C
• 32-bit CPU Core
– 72 MHz maximum frequency
– Single-cycle multiplication and hardware
division
• Memories
– 64 or 128 Kbytes of Flash memory
– 20 Kbytes of SRAM
• Debug mode
– Serial wire debug (SWD) & JTAG interfaces
• Clock, reset and supply management
– 2.0 to 5.5 V application supply and I/Os
– POR, PDR, and programmable voltage
detector (PVD)
– 4-to-16 MHz crystal oscillator
– Internal 8 MHz factory-trimmed RC
– Internal 40 kHz RC
– PLL for CPU clock
– 32 kHz oscillator for RTC with calibration
• 2 x fast rail-to-rail analog comparators with
analog supply from 2.5 to 5.5 V
• 1 x operational amplifiers, all terminals
accessible with analog supply from 2.5 to 5.5 V
• 2 x PGA amplifiers, all terminals accessible
with analog supply from 2.5 to 5.5 V
• Low-power
– Sleep, Stop and Standby modes
– VBAT supply for RTC and backup registers
• 2 x 12-bit, 1 µs A/D converters (up to 16
channels)
– Conversion range: 0 to AVCC
– Dual-sample and hold capability
– Temperature sensor
• DMA
– 7-channel DMA controller
– Peripherals supported: timers, ADC, SPIs,
I2Cs and USARTs
• Up to 51 fast I/O ports
– 26/37/51 I/Os, all mappable on 16
external interrupt vectors and almost all
5 V-tolerant
• 8 timers
– 3 x 16-bit timers, each with up to 4
IC/OC/PWM or pulse counter and
quadrature (incremental) encoder input
– 2 x 16-bit, motor control PWM timer with
dead- time generation and emergency stop
– 2 watchdog timers (Independent and
Window)
– SysTick timer 24-bit downcounter
• Up to 8 communication interfaces
– Up to 2 x I2C interfaces (SMBus/PMBus)
– Up to 3 USARTs (ISO 7816 interface, LIN,
IrDA capability, modem control)
– Up to 2 SPIs (18 Mbit/s)
– CAN interface (2.0B Active)
• CRC calculation unit, 96-bit unique ID
• Packages are RoHS
Device summary
Reference
RX32F103x8
RX32F103xB
Part number
RX32F103C8, RX32F103R8
RX32F103CB,RX32F103RB
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Rev1.8
RX32F103x8
RX32F103xB
版本更新说明
版本号
修改内容
V1.0
初版
V1.1
修改量产封裝型式 LQFP64、LQFP48、QFN36
V1.2
完善功能模块细部资料
V1.3
調整芯片操作溫度 105 度,增加 FLASH 規格
V1.4
移除 QFN36 封裝,整合系統框圖,增加電器特性部分數據
V1.5
TPS 不兼容,增加温度公式说明
V1.6
补充电气模块资料。
V1.7
完善电气模块资料,增加 CMP、OPA、PGA 的电气特性数据。
V1.8
更新电气参数相关描述
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RX32F103x8
RX32F103xB
內容
新增修改项 .......................................................................................................................................................................... 5
1
系統框圖 ...................................................................................................................................................................... 6
2
存储器映像 .................................................................................................................................................................. 7
3
供电系统 ...................................................................................................................................................................... 9
4
RCC ........................................................................................................................................................................... 10
RCC 寄存器 ..........................................................................................................................................................11
时钟控制寄存器(RCC_CR).............................................................................................................................. 11
时钟配置寄存器(RCC_CFGR) ........................................................................................................................ 13
APB2 外设时钟使能寄存器(RCC_APB2ENR) ............................................................................................... 16
备份域控制寄存器(RCC_BDCR) .................................................................................................................... 18
5
管腳定義 .................................................................................................................................................................... 20
6
EXTI ........................................................................................................................................................................... 25
7
ADC ........................................................................................................................................................................... 27
ADC 新增功能 ..................................................................................................................................................... 27
ADC 寄存器 ......................................................................................................................................................... 29
ADC 控制寄存器2(ADC_CR2) ........................................................................................................................ 29
ADC 采样时间寄存器1(ADC_SMPR1) ........................................................................................................... 31
8
TIM1 & TIM8 ........................................................................................................................................................... 32
TIM1 AND TIM8 寄存器...................................................................................................................................... 33
TIM1 和 TIM8 控制寄存器 2(TIMx_CR2) .................................................................................................... 33
TIM1 和 TIM8 DMA/中断使能寄存器(TIMx_DIER) ...................................................................................... 34
TIM1 和 TIM8 状态寄存器(TIMx_SR) ............................................................................................................ 35
TIM1 和 TIM8 事件产生寄存器(TIMx_EGR) ................................................................................................ 37
TIM1 和 TIM8 捕获/比较使能寄存器(TIMx_CCER) ..................................................................................... 38
TIM1 和 TIM8 刹车和死区寄存器(TIMx_BDTR) .......................................................................................... 39
TIM1 和 TIM8 CCR5(TIMx_CCR5)................................................................................................................... 43
TIM1 和 TIM8 CCMR3(TIMx_CCMR3) ............................................................................................................ 43
9
CMP 比较器 ................................................................................................................................................................. 44
CMP 简介 .............................................................................................................................................................. 44
比较器功能描述 .................................................................................................................................................. 44
简介
44
比较器开关控制 ............................................................................................................................................... 45
比较器输入和输出 ........................................................................................................................................... 45
比较器用法 ....................................................................................................................................................... 45
比较器锁定机制 ............................................................................................................................................... 45
迟滞现象 (未测试) ........................................................................................................................................... 45
电流尖峰遮蔽功能 (未测试) ........................................................................................................................... 46
CMP 中断 ......................................................................................................................................................... 47
CMP 寄存器 ........................................................................................................................................................ 47
CMP 控制寄存器 1(CMPx_CR1) .................................................................................................................. 47
CMP 控制寄存器 2(CMPx_CR2) ..................................................................................................................... 48
CMP 调节寄存器(CMPx_CAL)........................................................................................................................ 50
CMP 数据寄存器(CMPx_DAT) ....................................................................................................................... 50
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RX32F103x8
RX32F103xB
CMP 寄存器地址映像 ...................................................................................................................................... 51
10
OPAMP 运算放大器 ................................................................................................................................................. 52
运算放大器简介 .................................................................................................................................................. 52
运算放大器主要特征 .......................................................................................................................................... 52
运算放大器寄存器 .............................................................................................................................................. 52
OPA 控制寄存器(OPA_CR) .............................................................................................................................. 52
OPA 控制寄存器 2(OPA_CR2) ......................................................................................................................... 53
OPA 控制寄存器 3(OPA_CR3) ......................................................................................................................... 54
OPA 寄存器地址映像 ....................................................................................................................................... 54
11
GPIO ............................................................................................................................................................................ 55
GPIO alternate function low register (GPIOx_AFRL) ................................................................................ 55
GPIO alternate function high register (GPIOx_AFRH) .............................................................................. 55
GPIO port pull-up/pull-down register (GPIOx_PUPDR) ............................................................................ 56
AFIO remap & pupd option register (AFIO_OPT) ...................................................................................... 57
12
AC/DC ....................................................................................................................................................................... 59
12.1 ABSOLUTE MAXIMUM RATINGS ...................................................................................................................... 59
12.2 GENERAL OPERATING CONDITIONS ................................................................................................................ 60
12.3 OPERATING CONDITIONS PWR UP_DOW ..................................................................................................... 60
12.4 EMBEDDED RESET AND POWER ...................................................................................................................... 61
12.5 EMBEDDED INTERNAL REFERENCE................................................................................................................. 61
12.6 SUPPLY CURRENT ........................................................................................................................................... 62
12.7 EXTERNAL CLOCK ......................................................................................................................................... 63
12.8 INTERNAL CLOCK SOURCE ............................................................................................................................. 65
12.9 PLL CHARACTERISTICS ................................................................................................................................. 65
12.10 MEMORY CHARACTERISTICS ........................................................................................................................ 66
12.11 EMC CHARACTERISTICS .............................................................................................................................. 66
12.12 ELECTRICAL SENSITIVITY ............................................................................................................................. 67
12.13 IO PORT CHRACTERISTICS ............................................................................................................................ 67
12.14 NRST .......................................................................................................................................................... 69
12.15 TIM TIMER .................................................................................................................................................. 70
12.16 COMMUNICATIONS INTERFACES ................................................................................................................... 70
12.17 CAN ............................................................................................................................................................ 71
12.18 ADC ............................................................................................................................................................ 71
12.19 TEMPERATURE SENSOR ................................................................................................................................ 73
12.20 CMP ............................................................................................................................................................ 73
12.21 OPA/PGA.................................................................................................................................................... 75
13
PACKAGES .............................................................................................................................................................. 77
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RX32F103x8
RX32F103xB
新增修改项
RX32F103 新增修改项适用 F103x8、F103xB,针对新增、移除、修改项目进行说明,其余规格相同将不
再说明。
功能模塊
FLASH
存储器映像
PWR
Power
RCC
EXTI
ADC
System Clock
Clock out
中斷
寄存器
新增
TIM1&TIM8
新增煞車源
USB
COMP
OPA
GPIO
Packages
無此功能
新增模塊
新增模塊
新增AFIO複用
移除封裝
新增修改說明
0x4001 5000 - 0x4001 7FFF
0x4001 4000 - 0x4001 4FFF
工作電壓:2.0 ~ 5.5V
電壓調節器輸出:1.5V
HSI作為PLL時鐘源,系統時鐘最大頻率72MHz
MCO pin add LSI clock
移除USB相關
OPA
COMP
add JEXTSEL2[3:0]
TIM8
CH5
DOE
PVD_OUT
CMP4_OUT
CMP5_OUT
LOCKUP output
PB10、PB11、PB12無5V tolerant
只留下2個封裝 LQFP64、LQFP48
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RX32F103x8
RX32F103xB
1 系統框圖
SW/JTAG
32bit MCU
Fmax = 72Mhz
NVIC
Dbus
System
Bus Matrix
Ibus
Power
LDO
5V to 1.5V
Flash
128K
1.5V
SRAM
20K
RST
POR/PDR
INT
PVD
VDD:2 to 5.5V
VSS
NRST
VDDA
VSSA
DMA
7 channel
CRC
PCLK1
PCLK2
HCLK
FCLK
PLL
XTAL OSC
4-16Mhz
OSC_IN
OSC_OUT
HSI 8 Mhz
LSI 40 Khz
PGA1
PGA2
OPA
AHB2
APB2
IF
IWDG
Standby
interface
AHB2
APB1
Standby interface
EXTI
TIM2
GPIOA
TIM3
GPIOB
TIM4
GPIOC
APB1
APB2
TIM8
Backup
reg
TAMPER-RTC
XTAL OSC
32KHz
OSC32_IN
OSC32_OUT
USART2
GPIOD
TIM1
RTC
AWU
USART3
SPI2
I2C1
SPI1
I2C2
USART1
bxCAN
Compartor4
Compartor5
IF
SRAM
512B
ADC1
IF
WWDG
ADC2
IF
VBAT
Temp.
VDDA
VDD
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RX32F103x8
RX32F103xB
2 存储器映像
寄存器组起始地址
起始地址
0x5000
0x4003
0x4002
0x4002
0x4002
0x4002
0x4002
0x4002
0x4002
0x4002
0x4002
0x4001
0x4001
0x4001
0x4001
0x4001
0x4001
0x4001
0x4001
0x4001
0x4001
0x4001
0x4001
0x4001
0x4001
0x4001
0x4001
0X4001
0x4001
0x4001
0x4001
0x4000
0x4000
0x4000
0x4000
0x4000
0x4000
0x4000
0000
0000
8000
3400
3000
2000
1400
1000
0800
0400
0000
8400
8000
5000
4000
3C00
3800
3400
3000
2C00
2800
2400
2000
2000
1800
1400
1000
0C00
0800
0400
0000
7800
7400
7000
6C00
6800
6400
6000
外设
-
0x5003 FFFF
0x4FFF FFFF
0x4002 9FFF
0x4002 3FFF
0x4002 33FF
0x4002 23FF
0x4002 1FFF
0x4002 13FF
0x4002 0FFF
0x4002 07FF
0x4002 03FF
0x4001 7FFF
0x4001 83FF
0x4001 7FFF
0x4001 4FFF
0x4001 3FFF
0x4001 3BFF
0x4001 37FF
0x4001 33FF
0x4001 2FFF
0x4001 2BFF
0x4001 27FF
0x4001 23FF
0x4001 23FF
0x4001 1BFF
0x4001 17FF
0x4001 13FF
0x4001 0FFF
0x4001 0BFF
0x4001 07FF
0x4001 03FF
0x4000FFFF
0x4000 77FF
0x4000 73FF
0x4000 6FFF
0x4000 6BFF
0x4000 67FF
0x4000 63FF
总线
保留
保留
保留
保留
CRC
闪存存储器接口
保留
复位和时钟控制(RCC)
保留
保留
DMA1
保留
保留
OPA
COMP
保留
USART1
TIM8定时器
SPI1
TIM1定时器
ADC2
ADC1
保留
保留
NA
GPIO端口D
GPIO端口C
GPIO端口B
GPIO端口A
EXTI
AFIO
保留
保留
电源控制(PWR)
后备寄存器(BKP)
保留
bxCAN1
CAN的512字节SRAM
寄存器映像
AHB
AHB
APB2
APB1
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RX32F103x8
RX32F103xB
0x4000
0x4000
0x4000
0x4000
0x4000
0x4000
0x4000
0x4000
0x4000
0x4000
0x4000
0x4000
0x4000
0x4000
0x4000
0x4000
0x4000
0x4000
0x4000
0x4000
0x4000
5C00
5800
5400
5000
4C00
4800
4400
4000
3C00
3800
3400
3000
2C00
2800
1800
1400
1000
0C00
0800
0400
0000
-
0x4000
0x4000
0x4000
0x4000
0x4000
0x4000
0x4000
0x4000
0x4000
0x4000
0x4000
0x4000
0x4000
0x4000
0x4000
0x4000
0x4000
0x4000
0x4000
0x4000
0x4000
5FFF
5BFF
57FF
53FF
4FFF
4BFF
47FF
3FFF
3FFF
3BFF
37FF
33FF
2FFF
2BFF
27FF
17FF
13FF
0FFF
0BFF
07FF
03FF
保留
I2C2
I2C1
保留
保留
USART3
USART2
保留
保留
SPI2
保留
独立看门狗(IWDG)
窗口看门狗(WWDG)
RTC
保留
保留
保留
保留
TIM4定时器
TIM3定时器
TIM2定时器
Flash memory endurance and data retention
Value
Symbol
NEND
tRET
Parameter
Conditions
Unit
Min(1)
Typ
Max
20
-
-
TA = 25 °C
100
-
-
Data retention TA = 85 °C
20
-
-
10
-
-
Endurance
TA = –40 to +105 °C (7 suffix versions)
TA = 125 °C
kcycles
Years
Endurance 10Kcycles 20Kcycles
Add Data retention 10 Years at TA = 125 °C
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RX32F103x8
RX32F103xB
3 供电系统
电源
VDD:2.5V ~ 5.5V
VBAT:1.8V ~ 5.5
Backup 電壓域
(1.8V-5.5V)
VBAT
LSE
32.768K
無法關閉
RTC
Power switch
默認開啟
可選擇關閉
BKP
VDD 電壓域
(2.0V-5.5V)
VREF
HSE
4-16MHz
LDO1P5
CPU
32bit MCU
Stop
Flash
128K
I2C1/2
ANA DIG
SRAM
20K
SPI1/2
Cache
CRC
UART1/2/3
WWDG
TIM1
EXTI
TIM2/3/4
默認關閉
可選擇開啟
ANA電路
DIG電路
FREQ_DET
CAN
GPIO
shut _t op
( 1. 5V)
VDD
IWDG
PWR
Reset
standby
al on_ t op
VDDA
VREF+
POR/PDR
PVD
HSI
8MHz
LSI
40kHz
PLL
CMP4/5
2.5V–5.5V
TPS
ADC
2.4V–5.5V
OPA
2.5V–5.5V
PGA0/1
2.5V–5.5V
VDDA 電壓域
(2.0V–5.5V)
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RX32F103x8
RX32F103xB
4 RCC
系统时钟最高频率 72MHz:可选择 HIS 经过 PLL x 18 倍(新增)
MCO Pin 增加可选 LSI 频率输出
修改 PLLMUL 位,将 1111PLL16 倍频输出,修改为 16 倍/18 倍频输出
增加 CFGR_PLLOPT 位,当 PLLMUL 为 1111 时,选择 PLL 输出 为 16 倍还是 18 倍
增加 HIS 滤波功能
增加 PLL 滤波功能
增加 HSE 滤波功能
寄存器增加 CR_PLL_CTR
寄存器增加 CR_HSI_CTR
寄存器增加 CR_HSE_CTR
将 PLLOPT 位修改成 CMUOPT 位
CMUOPT 位为 1,HIS_CTR/HSE_CTR/PLL_CTR/PLLMUL 寄存器有效
f
8MHZ
HSI RC
最大72MHz
/2
外设时钟使能
/8
PLLSRC
PLLMUL
FCLK Cortex自由运行时钟
SW
…×16,×18
×2,×3,×4,
PLL
HSI
f
PLLCLK
HSE
SYSCLK
最大72MHz
AHB
预分频器
/1,2...512
OSC32_IN
OSC32_OUT
f
4-16MHZ
HSE OSC
LSI RC
40KHz
/128
LSI
/2
MCO
主时钟输出
PCLK1
至APB1外设
至定时器2-4
TIMxCLK
外设时钟使能
/2
LSE OSC
32.786KHz
最大36MHz
如果APB1预分频系数=1
则频率不变,否则频率×2
PLLXTPRE
OSC_IN
APB1
预分频器
/1,2,4,8,16
外设时钟使能
CSS
OSC_OUT
HCLK
至AHB总线、核
心存储器和
DMA
至MCU系统时钟
APB2
预分频器
/1,2,4,8,16
LSE
RTCCLK
RTCSEL[1:0]
最大72MHz
PCLK2
至APB2外设
外设时钟使能
RTC
至独立看门狗(IWDG)
IWDGCLK
如果APB2预分频系数=1
则频率不变,否则频率×2
外设时钟使能
ADC
预分频器
/2,4,6,8
PLLCLK
HSI
HSE
SYSCLK
至定时器1
TIMxCLK
至ADC1或2
ADCCLK最大14MHz
MCO
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RX32F103x8
RX32F103xB
RCC 寄存器
时钟控制寄存器(RCC_CR)
偏移地址: 0x00
复位值: 0x000 XX83,X 代表未定义 访问: 无等待状态, 字, 半字和字节访
31
30
HSE_CTR
29
HSI_CTR
rw
15
28
27
PLL_CTR
rw
14
13
26
rw
12
11
10
25
24
23
PLL PLLON
RDY
r
rw
9
8
22
保留
7
HSICAL[7:0]
r
r
位31:30
位29:28
r
r
r
21
6
20
19
18
17
16
HSE
BIAS
rw
CSS
ON
rw
HSE
BYP
rw
HSE
RDY
r
HSE
ON
rw
3
2
5
4
HSITRIM[4:0]
r
r
r
rw
rw
rw
保留
rw
rw
1
0
HIS HSION
RDY
r
rw
HSE时钟滤波控制位,CMUOPT=1时该寄存器有效
=00,0.0ns(Default)
=01,1.5ns
=10,3.0ns
=11,4.5ns
HRC时钟滤波控制位,CMUOPT=1时该寄存器有效
=00,0.0ns(Default)
=01,1.5ns
=10,3.0ns
=11,4.5ns
位27:26
PLL时钟滤波控制位,CMUOPT=1时该寄存器有效
=00,0.0ns(Default)
=01,1.5ns
=10,1.5ns
=11,1.5ns
位25
PLLRDY:PLL时钟就绪标志(PLL clock ready flag)
PLL锁定后由硬件置’1’。
0:PLL未锁定;
1:PLL锁定。
位24
PLLON:PLL使能(PLL enable)
由软件置’1’或清零。
当进入待机和停止模式时,该位由硬件清零。当PLL时钟被用作或被选择将要作为系统时
钟时,该位不能被清零。
0:PLL关闭;
位23:21
位20
位19
1:PLL使能。
保留,始终读为0。
HSE BIAS 控制位 , CMUOPT=1时该寄存器寫入有效
1:HSE BIAS 電阻連接(default)
0:HSE BIAS 電阻斷開
CSSON:时钟安全系统使能(Clock security system enable)
由软件置’1’或清零以使能时钟监测器。
0:时钟监测器关闭;
1:如果外部4-16MHz振荡器就绪,时钟监测器开启。
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位18
HSEBYP:外部高速时钟旁路(External high-speed clock bypass)
在调试模式下由软件置’1’或清零来旁路外部晶体振荡器。只有在外部4-16MHz振荡器关闭的情
况下,才能写入该位。
0:外部4-16MHz振荡器没有旁路;
位17
1:外部4-16MHz外部晶体振荡器被旁路。
HSERDY:外部高速时钟就绪标志(External high-speed clock ready flag)
由硬件置’1’来指示外部4-16MHz振荡器已经稳定。在HSEON位清零后,该位需要6个外部425MHz振荡器周期清零。
0:外部4-16MHz振荡器没有就绪;
位16
1:外部4-16MHz振荡器就绪。
HSEON:外部高速时钟使能(External high-speed clock enable)
由软件置’1’或清零。
当进入待机和停止模式时,该位由硬件清零,关闭4-16MHz外部振荡器。当外部4-16MHz振荡
器被用作或被选择将要作为系统时钟时,该位不能被清零。
0:HSE振荡器关闭;
1:HSE振荡器开启。
位15:8
HSICAL[7:0]:内部高速时钟校准(Internal high-speed clock calibration)
在系统启动时,这些位被自动初始化
位7:3
HSITRIM[4:0]:内部高速时钟调整(Internal high-speed clock trimming)
由软件写入来调整内部高速时钟,它们被叠加在HSICAL[5:0]数值上。 这些位在HSICAL[7:0]
的基础上,让用户可以输入一个调整数值,根据电压和温度的变化调整内部HSI RC振荡器的
频率。
默认数值为16,可以把HSI调整到8MHz±1%;每步HSICAL的变化调整约40kHz。
位2
保留,始终读为0。
位1
HSIRDY:内部高速时钟就绪标志 (Internal high-speed clock ready flag) 由硬件置’1’来指示内
部8MHz振荡器已经稳定。在HSION位清零后,该位需要6个内部8MHz振 荡器周期清零。
0:内部8MHz振荡器没有就绪;
1:内部8MHz振荡器就绪。
位0
HSION:内部高速时钟使能(Internal high-speed clock enable)
由软件置’1’或清零。
当从待机和停止模式返回或用作系统时钟的外部4-16MHz振荡器发生故障时,该位由硬件置’1’
来启动内部8MHz的RC振荡器。当内部8MHz振荡器被直接或间接地用作或被选择将要作为
系统时钟时,该位不能被清零。
0:内部8MHz振荡器关闭;
1:内部8MHz振荡器开启。
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时钟配置寄存器(RCC_CFGR)
偏移地址: 0x04
复位值: 0x0000 0000
访问: 0 到 2 个等待周期,字,半字和字节访问只有当访问发生在时钟切换时,才会插入 1 或 2 个等待周
期。
31
30
CMU
OPT
rw
15
28
保留
14
ADCPRE[1:0]
rw
29
rw
13
12
27
26
rw
24
MCO
LSI
rw
rw
rw
rw
11
10
9
8
MCO[2:0]
PPRE2[2:0]
rw
25
23
22
保留
USB
PRE
rw
rw
rw
rw
rw
rw
PLL
SRC
rw
6
5
4
3
2
1
0
7
PPRE1[2:0]
rw
rw
rw
21
20
rw
rw
位31
CMU option
0: CMU option disable
1: CMU option enable
位30:28
保留。
位27
MCO腳位輸出LSI
0: MCO輸出由MCO寄存器決定
1: MCO輸出LSI
注意:此位必須同時將CMUOPT設定成1才有效
位26:24
MCO:微控制器时钟输出(Microcontroller clock output)
由软件置’1’或清零。
0xx:没有时钟输出;
100:系统时钟(SYSCLK)输出;
101:内部RC振荡器时钟(HSI)输出;
110:外部振荡器时钟(HSE)输出;
111:PLL时钟2分频后输出。
18
rw
SWS[1:0]
rw
r
17
PLL
XTPRE
PLLMUL[3:0]
HPRE[3:0]
rw
19
r
16
SW[1:0]
rw
rw
注意:- 该时钟输出在启动和切换MCO时钟源时可能会被截断。
- 在系统时钟作为输出至MCO引脚时,请保证输出时钟频率不超过50MHz (I/O口最高频率)。
位22
USBPRE:USB预分频(USB prescaler)
由软件置’1’或清’0’来产生48MHz的USB时钟。在RCC_APB1ENR寄存器中使能USB时钟
之 前,必须保证该位已经有效。如果USB时钟被使能,该位不能被清零。
0:PLL时钟1.5倍分频作为USB时钟
1:PLL时钟直接作为USB时钟
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位21:18
PLLMUL:PLL倍频系数 (PLL multiplication factor) 由软件设置来确定PLL倍频系数。
只有在PLL关闭的情况下才可被写入。 注意:PLL的输出频率不能超过72MHz
0000:PLL 2倍频输出
1000:PLL 10倍频输出
0001:PLL 3倍频输出
1001:PLL 11倍频输出
0010:PLL 4倍频输出
1010:PLL 12倍频输出
0011:PLL 5倍频输出
1011:PLL 13倍频输出
0100:PLL 6倍频输出
1100:PLL 14倍频输出
0101:PLL 7倍频输出
1101:PLL 15倍频输出
0110:PLL 8倍频输出
1110:PLL 16倍频输出
0111:PLL 9倍频输出
1111:PLL 16倍频输出(CMUOPT=0)
1111:PLL 18倍频输出(CMUOPT=1)
位17
PLLXTPRE:HSE分频器作为PLL输入 (HSE divider for PLL entry) 由软件置’1’或清’0’
来分频HSE后作为PLL输入时钟。只能在关闭PLL时才能写入此位。
0:HSE不分频
1:HSE 2分频
位16
PLLSRC:PLL输入时钟源 (PLL entry clock source) 由软件置’1’或清’0’来选
择PLL输入时钟源。只能在关闭PLL时才能写入此位。
0:HSI振荡器时钟经2分频后作为PLL输入时钟
1:HSE时钟作为PLL输入时钟。
位15:14
ADCPRE[1:0]:ADC预分频(ADC prescaler)
由软件置’1’或清’0’来确定ADC时钟频率
00:PCLK2 2分频后作为ADC时钟
01:PCLK2 4分频后作为ADC时钟
10:PCLK2 6分频后作为ADC时钟
11:PCLK2 8分频后作为ADC时钟
位13:11
PPRE2[2:0]:高速APB预分频(APB2) (APB high-speed prescaler (APB2))
由软件置’1’或清’0’来控制高速APB2时钟(PCLK2)的预分频系数。
0xx:HCLK不分频
100:HCLK 2分频
101:HCLK 4分频
110:HCLK 8分频
111:HCLK 16分频
位10:8
PPRE1[2:0]:低速APB预分频(APB1) (APB low-speed prescaler (APB1))
由软件置’1’或清’0’来控制低速APB1时钟(PCLK1)的预分频系数。 警告:
软件必须保证APB1时钟频率不超过36MHz。
0xx:HCLK不分频
100:HCLK 2分频
101:HCLK 4分频
110:HCLK 8分频
111:HCLK 16分频
位7:4
HPRE[3:0]:AHB预分频(AHB Prescaler)
由软件置’1’或清’0’来控制AHB时钟的预分频系数。
0xxx:SYSCLK不分频
1000:SYSCLK 2分频
1100:SYSCLK 64分频
1001:SYSCLK 4分频
1101:SYSCLK 128分频
1010:SYSCLK 8分频
1110:SYSCLK 256分频
1011:SYSCLK 16分频
1111:SYSCLK 512分频
注意:当AHB时钟的预分频系数大于1时,必须开启预取缓冲器。详见闪存读取(第2.3.3节)。
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位3:2
SWS[1:0]:系统时钟切换状态(System clock switch status)
由硬件置’1’或清’0’来指示哪一个时钟源被作为系统时钟。
00:HSI作为系统时钟;
01:HSE作为系统时钟;
10:PLL输出作为系统时钟;
11:不可用。
位1:0
SW[1:0]:系统时钟切换(System clock switch)
由软件置’1’或清’0’来选择系统时钟源。
在从停止或待机模式中返回时或直接或间接作为系统时钟的HSE出现故障时,由硬件强制选择
HSI作为系统时钟(如果时钟安全系统已经启动)
00:HSI作为系统时钟;
01:HSE作为系统时钟;
10:PLL输出作为系统时钟;
11:不可用。
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APB2 外设时钟使能寄存器(RCC_APB2ENR)
偏移地址:0x18
复位值:0x0000 0000 访问:字,半字和字节访问通常无访问等待周期。但在 APB2 总线上的外设被访
问时,将插入等待状态直到 APB2 的外设访问结束。
注:当外设时钟没有启用时,软件不能读出外设寄存器的数值,返回的数值始终是0x0。
31
30
29
28
27
26
保留
15
14
13
ADC3 USART1 TIM8
EN
EN
EN
rw
rw
rw
25
24
CMP
EN
OPA
EN
rw
rw
23
22
21
20
19
18
17
16
保留
12
11
10
9
8
7
6
5
4
3
2
1
0
SPI1
EN
TIM
1
EN
ADC2
EN
ADC1
EN
IOPG
EN
IOPF
EN
IOPE
EN
IOPD
EN
IOPC
EN
IOPB
EN
IOPA
EN
保留
AFI
O
EN
rw
rw
rw
rw
rw
rw
rw
rw
rw
rw
rw
位31:26
保留,始终读为0。
位25
CMPEN:CMP 接口时钟使能 (CMP interface clock enable)
由软件置’1’或清’0’
0:CMP接口时钟关闭;
1:CMP接口时钟开启。
位24
OPAEN:OPA 接口时钟使能 (OPA interface clock enable)
由软件置’1’或清’0’
0:OPA接口时钟关闭;
1:OPA接口时钟开启。
位23:16
保留,始终读为0。
位15
ADC3EN:ADC3接口时钟使能(ADC 3 interface clock enable)
由软件置’1’或清’0’ 0:
ADC3接口时钟关闭;
1:ADC3接口时钟开启。
位14
USART1EN:USART1时钟使能(USART1 clock enable)
由软件置’1’或清’0’ 0:
USART1时钟关闭;
1:USART1时钟开启。
位13
TIM8EN:TIM8定时器时钟使能(TIM8 Timer clock enable)
由软件置’1’或清’0’ 0:
TIM8定时器时钟关闭;
1:TIM8定时器时钟开启。
位12
SPI1EN:SPI1时钟使能(SPI 1 clock enable)
由软件置’1’或清’0’
0:SPI1时钟关闭;
1:SPI1时钟开启。
位11
TIM1EN:TIM1定时器时钟使能(TIM1 Timer clock enable)
由软件置’1’或清’0’ 0:
TIM1定时器时钟关闭;
1:TIM1定时器时钟开启。
rw
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位10
ADC2EN:ADC2接口时钟使能(ADC 2 interface clock enable)
由软件置’1’或清’0’ 0:
ADC2接口时钟关闭;
1:ADC2接口时钟开启。
位9
ADC1EN:ADC1接口时钟使能(ADC 1 interface clock enable)
由软件置’1’或清’0’ 0:
ADC1接口时钟关闭;
1:ADC1接口时钟开启。
位8
IOPGEN:IO端口G时钟使能(I/O port G clock enable)
由软件置’1’或清’0’ 0:
IO端口G时钟关闭;
1:IO端口G时钟开启。
位7
IOPFEN:IO端口F时钟使能(I/O port F clock enable)
由软件置’1’或清’0’ 0:
IO端口F时钟关闭;
1:IO端口F时钟开启。
位6
IOPEEN:IO端口E时钟使能(I/O port E clock enable)
由软件置’1’或清’0’ 0:
IO端口E时钟关闭;
1:IO端口E时钟开启。
位5
IOPDEN:IO端口D时钟使能(I/O port D clock enable)
由软件置’1’或清’0’ 0:
IO端口D时钟关闭;
1:IO端口D时钟开启。
位4
IOPCEN:IO端口C时钟使能(I/O port C clock enable)
由软件置’1’或清’0’ 0:
IO端口C时钟关闭;
1:IO端口C时钟开启。
位3
IOPBEN:IO端口B时钟使能(I/O port B clock enable)
由软件置’1’或清’0’ 0:
IO端口B时钟关闭;
1:IO端口B时钟开启。
位2
IOPAEN:IO端口A时钟使能(I/O port A clock enable)
由软件置’1’或清’0’ 0:
IO端口A时钟关闭;
1:IO端口A时钟开启。
位1
保留,始终读为0。
位0
AFIOEN:辅助功能IO时钟使能(Alternate function I/O clock enable)
由软件置’1’或清’0’ 0:辅
助功能IO时钟关闭;
1:辅助功能IO时钟开启。
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备份域控制寄存器(RCC_BDCR)
偏移地址:0x20
复位值:0x0000 0000,只能由备份域复位有效复位 访问:0 到 3 等待周期,字、半字和字节访问 当
连续对该寄存器进行访问时,将插入等待状态。
注意: 备份域控制寄存器中(RCC_BDCR)的 LSEON、LSEBYP、RTCSEL 和 RTCEN 位处于备份域。
因 此,这些位在复位后处于写保护状态,只有在电源控制寄存器(PWR_CR)中的 DBP 位置’1’后才 能
对这些位进行改动。进一步信息请参考 5.1 节。这些位只能由备份域复位清除(见 6.1.3 节)。任 何内部
或外部复位都不会影响这些位。
31
LSE
BIAS
rw
30
15
14
29
28
27
26
25
24
23
22
21
20
19
18
17
保留
16
BDRST
rw
RTC
EN
rw
13
12
11
保留
10
9
8
7
6
RTCSEL[1:0]
rw
5
保留
rw
4
3
2
1
0
LSE
BYP
rw
LSE
RDY
r
LSEON
位31
LSE BIAS控制位, CMUOPT=1时该寄存器寫入有效
1:LSE BIAS電阻連接(default)
0:LSE BIAS電阻斷開
位30:17
保留,始终读为0。
位16
BDRST:备份域软件复位(Backup domain software reset)
由软件置’1’或清’0’
0:复位未激活;
1:复位整个备份域。
位15
RTCEN:RTC时钟使能(RTC clock enable)
由软件置’1’或清’0’
0:RTC时钟关闭;
1:RTC时钟开启。
位14:10
保留,始终读为0。
位9:8
RTCSEL[1:0]:RTC时钟源选择 (RTC clock source selection) 由软件设置来选择RTC时钟
源。一旦RTC时钟源被选定,直到下次后备域被复位,它不能在被改变。可通过设置BDRST
位来清除。
00:无时钟;
01:LSE振荡器作为RTC时钟;
10:LSI振荡器作为RTC时钟;
11:HSE振荡器在128分频后作为RTC时钟。
位7:3
保留,始终读为0。
位2
LSEBYP:外部低速时钟振荡器旁路 (External low-speed oscillator bypass) 在调试模式下由
软件置’1’或清’0’来旁路LSE。只有在外部32kHz振荡器关闭时,才能写入该位 0:LSE时钟未
被旁路;
1:LSE时钟被旁路。
rw
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位1
LSERDY:外部低速LSE就绪 (External low-speed oscillator ready) 由硬件置’1’或清’0’来指示
是否外部32kHz振荡器就绪。在LSEON被清零后,该位需要6个外部低速振荡器的周期才被清
零。
0:外部32kHz振荡器未就绪;
1:外部32kHz振荡器就绪。
位0
LSEON:外部低速振荡器使能(External low-speed oscillator enable)
由软件置’1’或清’0’ 0:外部
32kHz振荡器关闭;
1:外部32kHz振荡器开启。
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RX32F103xB
5 管腳定義
BOOT0
PB7
PB6
PB5
PB4
PB3
PD2
PC12
PC11
PC10
PA15
PA14
60
59
58
57
56
55
54
53
52
51
50
49
61
VSS_3
62
VDD_3
63
PC9
PC2
10
39
PC8
PC3
11
38
PC7
VSSA
12
37
PC6
VDDA
13
36
PB15
PA0
14
35
PB14
PA1
15
34
PB13
PA2
16
33
PB12
VDD_1
VSS_1
PB11
PB10
PC5
PC4
PA7
32
40
31
9
30
PA8
PC1
29
41
28
8
PB2
PA9
PC0
27
42
PB1
7
26
PA10
NRST
PB0
43
25
6
24
PA11
OSC_OUT
23
44
22
5
PA6
PA12
OSC_IN
21
45
20
4
PA5
PA13
PC15
PA4
46
19
3
VDD_4
VSS_2
PC14
18
VDD_2
47
17
48
2
PA3
1
VSS_4
VBAT
64
LQFP64
BOOT0
PB7
PB6
PB5
PB4
PB3
PA15
PA14
44
43
42
41
40
39
38
37
45
VSS_3
47
46
VDD_3
48
LQFP48
PB15
PA0
10
27
PB14
PA1
11
26
PB13
PA2
12
25
PB12
24
28
VDD_1
9
23
PA8
VDDA
22
29
PB11
8
VSS_1
PA9
VSSA
21
30
PB10
7
20
PA10
NRST
PB2
31
19
6
PB1
PA11
OSC_OUT
18
32
PB0
5
17
PA12
OSC_IN
PA7
33
16
4
15
PA13
PC15
PA5
34
PA6
3
14
VSS_2
PC14
PA4
VDD_2
35
13
36
2
PA3
1
VBAT
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RX32F103xB
Pins
PIN
Name
LQFP64 LQFP48
Type
I/O Main function
Level (after reset)
Analog
1
1
VBAT
S
VBAT
2
2
PC13
I/O
PC13
TAMPER-RTC
3
3
PC14
I/O
PC14
OSC32_IN
4
4
PC15
I/O
PC15
OSC32_OUT
5
5
OSC_IN (PD0)
I/O
OSC_IN
OSC_IN
CMP5_P
6
6
OSC_OUT
OSC_OUT
CMP5_N
7
7
NRST
I/O
NRST
8
-
PC0
I/O
PC0
ADC12_IN10
9
-
PC1
I/O
PC1
ADC12_IN11
10
-
PC2
I/O
PC2
ADC12_IN12
11
-
PC3
I/O
PC3
ADC12_IN13
12
8
VSSA
S
VSSA
13
9
VDDA
S
VDDA
14
10
PA0
I/O
PA0
ADC12_IN0
CMP4_1P
15
11
PA1
I/O
PA1
ADC12_IN1
CMP4_1N
16
12
PA2
I/O
PA2
ADC12_IN2
PGA1_P
17
13
PA3
I/O
PA3
ADC12_IN3
PGA1_N
18
-
VSS_4
S
VSS_4
19
-
VDD_4
S
VDD_4
20
14
PA4
I/O
PA4
ADC12_IN4
PGA0_P
21
15
PA5
I/O
PA5
ADC12_IN5
PGA0_N
22
16
PA6
I/O
PA6
ADC12_IN6
CMP4_0P
23
17
PA7
I/O
PA7
ADC12_IN7
CMP4_0N
24
-
PC4
I/O
PC4
ADC12_IN14
25
-
PC5
I/O
PC5
ADC12_IN15
26
18
PB0
I/O
PB0
ADC12_IN8
CMP4_2P
27
19
PB1
I/O
PB1
ADC12_IN9
CMP4_2N
28
20
PB2
I/O
29
21
PB10
I/O
PB10
OPA3_OUT
30
22
PB11
I/O
PB11
OPA3_N
31
23
VSS_1
S
VSS_1
OSC_OUT (PD1) I/O
FT
PB2/BOOT1
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RX32F103xB
32
24
VDD_1
S
VDD_1
33
25
PB12
I/O
PB12
34
26
PB13
I/O
FT
PB13
35
27
PB14
I/O
FT
PB14
36
28
PB15
I/O
FT
PB15
37
-
PC6
I/O
FT
PC6
38
-
PC7
I/O
FT
PC7
39
-
PC8
I/O
FT
PC8
40
-
PC9
I/O
FT
PC9
41
29
PA8
I/O
FT
PA8
42
30
PA9
I/O
FT
PA9
43
31
PA10
I/O
FT
PA10
44
32
PA11
I/O
FT
PA11
45
33
PA12
I/O
FT
PA12
46
34
PA13
I/O
FT
JTMS/SWDIO
47
35
VSS_2
S
VSS_2
48
36
VDD_2
S
VDD_2
49
37
PA14
I/O
FT
JTCK/SWCLK
50
38
PA15
I/O
FT
JTDI
51
-
PC10
I/O
FT
PC10
52
-
PC11
I/O
FT
PC11
53
-
PC12
I/O
FT
PC12
54
-
PD2
I/O
FT
PD2
55
39
PB3
I/O
FT
JTDO
56
40
PB4
I/O
FT
JNTRST
57
41
PB5
I/O
58
42
PB6
I/O
FT
PB6
59
43
PB7
I/O
FT
PB7
60
44
BOOT0
I
61
45
PB8
I/O
FT
PB8
62
46
PB9
I/O
FT
PB9
63
47
VSS_3
S
VSS_3
64
48
VDD_3
S
VDD_3
OPA3_P
PB5
BOOT0
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RX32F103xB
Pins
PIN
LQFP64 LQFP48 Name
AF0
AF1
AF2
AF3
WKUP
TIM2_CH1_ETR
USART2_CTS
AF4
AF5
AF6
14
10
PA0
15
11
PA1
TIM2_CH2
USART2_RTS
16
12
PA2
TIM2_CH3
USART2_TX
17
13
PA3
TIM2_CH4
USART2_RX
20
14
PA4
USART2_CK SPI1_NSS
21
15
PA5
SPI1_SCK
22
16
PA6
TIM3_CH1
TIM1_BKIN
SPI1_MISO
TIM8_BKIN
23
17
PA7
TIM3_CH2
TIM1_CH1N
SPI1_MOSI
TIM8_CH1N
26
18
PB0
TIM3_CH3
TIM1_CH2N
TIM8_CH2N
27
19
PB1
TIM3_CH4
TIM1_CH3N
TIM8_CH3N
28
20
PB2
29
21
PB10
TIM2_CH3
USART3_TX
I2C2_SCL
30
22
PB11
TIM2_CH4
USART3_RX
I2C2_SDA
33
25
PB12
TIM1_BKIN USART3_CK SPI2_NSS I2C2_SMBAI
34
26
PB13
TIM1_CH1N USART3_CTS SPI2_SCK
35
27
PB14
TIM1_CH2N USART3_RTS SPI2_MISO
36
28
PB15
TIM1_CH3N
37
-
PC6
TIM3_CH1
TIM8_CH1
38
-
PC7
TIM3_CH2
TIM8_CH2
39
-
PC8
TIM3_CH3
TIM8_CH3
40
-
PC9
TIM3_CH4
TIM8_CH4
41
29
PA8
42
30
43
AF7
TIM8_ETR
CMP4_OUT CMP5_OUT
MCO
SPI2_MOSI
TIM1_CH1
USART1_CK
PA9
TIM1_CH2
USART1_TX
31
PA10
TIM1_CH3
USART1_RX
44
32
PA11
TIM1_CH4 USART1_CTS
CANRX
45
33
PA12
TIM1_ETR USART1_RTS
CANTX
46
34
PA13
49
37
PA14
50
38
PA15
51
-
PC10
52
-
PC11
53
-
PC12
54
-
PD2
55
39
PB3
56
40
57
TIM2_CH1_ETR
SPI1_NSS
USART3_TX
TIM1_CH5
TIM8_CH5
USART3_RX
USART3_CK
TIM3_ETR
TRACESWO
TIM2_CH2
SPI1_SCK
PB4
TIM3_CH1
SPI1_MISO
41
PB5
TIM3_CH2
SPI1_MOSI I2C1_SMBAI
58
42
PB6
TIM4_CH1
USART1_TX
I2C1_SCL
59
43
PB7
TIM4_CH2
USART1_RX
I2C1_SDA
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RX32F103xB
60
44
BOOT0
61
45
PB8
TIM4_CH3
I2C1_SCL
CANRX
62
46
PB9
TIM4_CH4
I2C1_SDA
CANTX
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6 EXTI
向量表
位
置
优先
级
优先级
-
-
-3
固定
-2
-1
名称
类型
固定
固定
说明
地址
-
保留
0x0000_0000
Reset
复位
0x0000_0004
不可屏蔽中断
NMI
RCC时钟安全系统(CSS)联接到NMI向量
0x0000_0008
硬件失效(HardFault)
所有类型的失效
0x0000_000C
0
可设置 存储管理(MemManage)
存储器管理
0x0000_0010
1
可设置 总线错误(BusFault)
预取指失败,存储器访问失败
0x0000_0014
2
可设置 错误应用(UsageFault)
未定义的指令或非法状态
0x0000_0018
-
-
-
保留
0x0000_001C
~0x0000_002B
通过SWI指令的系统服务调用
0x0000_002C
3
可设置 SVCall
4
可设置 调试监控(DebugMonitor) 调试监控器
-
-
-
0x0000_0030
保留
0x0000_0034
5
可设置 PendSV
可挂起的系统服务
0x0000_0038
6
可设置 SysTick
系统嘀嗒定时器
0x0000_003C
0
7
可设置 WWDG
窗口定时器中断
0x0000_0040
1
8
可设置 PVD / CMP
EXTI的电源电压检测(PVD) / CMP中断
0x0000_0044
2
9
可设置 TAMPER
侵入检测中断
0x0000_0048
3
10
可设置 RTC
实时时钟(RTC)全局中断
0x0000_004C
4
11
可设置 FLASH
闪存全局中断
0x0000_0050
5
12
可设置 RCC
复位和时钟控制(RCC)中断
0x0000_0054
6
13
可设置 EXTI0
EXTI线0中断
0x0000_0058
7
14
可设置 EXTI1
EXTI线1中断
0x0000_005C
8
15
可设置 EXTI2
EXTI线2中断
0x0000_0060
9
16
可设置 EXTI3
EXTI线3中断
0x0000_0064
10
17
可设置 EXTI4
EXTI线4中断
0x0000_0068
11
18
可设置 DMA1通道1
DMA1通道1全局中断
0x0000_006C
12
19
可设置 DMA1通道2
DMA1通道2全局中断
0x0000_0070
20
可设置 DMA1通道3
DMA1通道3全局中断
0x0000_0074
21
可设置 DMA1通道4
DMA1通道4全局中断
0x0000_0078
15
22
可设置 DMA1通道5
DMA1通道5全局中断
0x0000_007C
16
23
可设置 DMA1通道6
DMA1通道6全局中断
0x0000_0080
17
24
可设置 DMA1通道7
DMA1通道7全局中断
0x0000_0084
18
25
可设置 ADC1_2
ADC1和ADC2的全局中断
0x0000_0088
19
26
可设置 CAN_TX
CAN发送中断
0x0000_008C
20
27
可设置 CAN_RX0
CAN接收0中断
0x0000_0090
21
28
可设置 CAN_RX1
CAN接收1中断
0x0000_0094
13
14
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RX32F103x8
RX32F103xB
22
29
可设置 CAN_SCE
CAN SCE中断
0x0000_0098
23
30
可设置 EXTI9_5
EXTI线[9:5]中断
0x0000_009C
24
31
可设置 TIM1_BRK
TIM1刹车中断
0x0000_00A0
25
32
可设置 TIM1_UP
TIM1更新中断
0x0000_00A4
26
33
可设置 TIM1_TRG_COM
TIM1触发和通信中断
0x0000_00A8
27
34
可设置 TIM1_CC
TIM1捕获比较中断
0x0000_00AC
28
35
可设置 TIM2
TIM2全局中断
0x0000_00B0
29
36
可设置 TIM3
TIM3全局中断
0x0000_00B4
37
可设置 TIM4
TIM4全局中断
0x0000_00B8
38
可设置 I2C1_EV
30
31
32
33
39
40
可设置 I2C1_ER
可设置 I2C2_EV
2
0x0000_00BC
2
0x0000_00C0
2
0x0000_00C4
2
I C1事件中断
I C1错误中断
I C2事件中断
34
41
可设置 I2C2_ER
I C2错误中断
0x0000_00C8
35
42
可设置 SPI1
SPI1全局中断
0x0000_00CC
43
可设置 SPI2
SPI2全局中断
0x0000_00D0
44
可设置 USART1
USART1全局中断
0x0000_00D4
38
45
可设置 USART2
USART2全局中断
0x0000_00D8
39
46
可设置 USART3
USART3全局中断
0x0000_00DC
40
47
可设置 EXTI15_10
EXTI线[15:10]中断
0x0000_00E0
41
48
可设置 RTCAlarm
连到EXTI的RTC闹钟中断
0x0000_00E4
42
49
保留
0x0000_00E8
43
50
可设置 TIM8_BRK
TIM8刹车中断
0x0000_00EC
44
51
可设置 TIM8_UP
TIM8更新中断
0x0000_00F0
45
52
可设置 TIM8_TRG_COM
TIM8触发和通信中断
0x0000_00F4
46
53
可设置 TIM8_CC
TIM8捕获比较中断
0x0000_00F8
36
37
-
-
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7 ADC
ADC 新增功能
ADC 新增寄存器 JEXTSEL2
增加通道 20-PGA0
增加通道 21-PGA1
CR2 寄存器增加 TRGOPT 为选择注入通道触发源
CR2 寄存器增加 JEXTSEL2 为,用来设置新增的触发源模式
新增的触发源为
1000:定时器 1 的 CC5 事件
1001:定时器 1 的 CC4 和 CC5 事件
1010:定时器 8 的 TRGO 事件
1011:定时器 8 的 CC5 事件
1100:定时器 8 的 CC4 和 CC5 事件
1101:EXTI 线 15
1110:定时器 8 的 CC4 事件
ADC 寄存器 JEXTSEL2
触发源
连接类型
JEXTSEL2[3:0]
TIM1_TRGO事件
0000
TIM1_CC4事件
0001
TIM2_TRGO事件
来自片上定时器的内部信号
0010
TIM2_CC1事件
0011
TIM3_CC4事件
0100
TIM4_TRGO事件
0101
EXTI线15
JSWSTART
外部引脚
0110
软件控制位
0111
TIM1_CC5事件
TIM1_CC4/CC5事件
TRGOPT
1
1000
来自片上定时器的内部信号
1001
TIM8_TRGO事件
1010
TIM8_ CC5事件
1011
TIM8_ CC4/CC5事件
1100
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转换结束
注入转换结束
模拟看门狗事件
中断
标志
EOC
中断
使能
EOCIE
JEOC
JEOCIE
AWD
AWDIE
至NVIC的ADC中断
模拟看门狗
比较结果
阈值高限(12位)
阈值低限(12位)
地址 数
/ 据总线
VREF+
注入通道数据寄存器
(4×16位)
VREFVDDA
规则通道数据寄存器
(16位)
VSSA
ADCx_IN0
ADCx_IN1
DMA请求
...
GPIO
端口
最多4
通道
ADCx_IN15
温度传感器
VREFINT
PGA0
PGA1
注入通道
规则通道
ADCCLK
模拟至数
字转换器
最多16
通道
来自ADC预分频器
EXTSEL[2:0]
JEXTSEL[2:0]
TIM1-TRGO
TIM1-CH1
TIM1-CH4
TIM1-CH2
TIM2-TRGO
EXTTRIG
JEXTTRIG
TIM2-CH1
TIM2-CH2
开始触发
(规则组)
TIM3-CH4
TIM4-TRGO
TIM3-TRGO
TIM4-CH4
TIM8-CH4
TIM8-TRGO
EXTI_15
0
JEXTSEL2[3:0]
EXTI_15
TIM1-CH3
TIM1-TRGO
TIM1-CH4
TIM2-TRGO
TIM2-CH1
TIM3-CH4
TIM4-TRGO
TIM8-CH4
1
EXTI_11
开始触发
(注入组)
TRGOPT
TIM1-CH5
TIM1-CH4/5
TIM8-TRGO
TIM8-CH5
TIM8-CH4/5
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ADC 寄存器
ADC 控制寄存器2(ADC_CR2)
地址偏移:0x08
复位值:0x0000 0000
31
30
29
28
27
JEXTSEL2[3:0]
26
25
24
保留
rw
15
JEXT
TRIG
rw
14
13
12
JEXTSEL[2:0]
rw
位31:28
位27:24
位23
位22
位21
rw
11
ALIGN
rw
10
保留
rw
9
8
23
22
21
20
TS
SW
JSW
VREFE START START
EXT
TRIG
rw
rw
rw
rw
7
6
5
4
DMA
rw
保留
19
18
17
EXTSEL[2:0]
16
TRGOPT
rw
rw
rw
rw
1
0
3
2
RST
CAL
CAL
rw
rw
CONT ADON
rw
rw
JEXTSEL2[3:0]: 选择启动注入通道组转换的外部事件 (External event select for injected
group)
这些位选择用于启动注入通道组转换的外部事件。
ADC1和ADC2的触发配置如下
0000:定时器1的TRGO事件
0001:定时器1的CC4事件
0010:定时器2的TRGO事件
0011:定时器2的CC1事件
0100:定时器3的CC4事件
0101:定时器4的TRGO事件
0110:EXTI线15/TIM8_CC4事件
0111:JSWSTART
1000:定时器1的CC5事件
1001:定时器1的CC4和CC5事件
1010:定时器8的TRGO事件
1011:定时器8的CC5事件
1100:定时器8的CC4和CC5事件
保留,硬件强制为0
TSVREFE:温度传感器和VREFINT使能(Temperature sensor and VREFINT enable) 该位由软件
设置和清除,用于开启或禁止温度传感器和VREFINT 通道。在多于1个ADC的器件 中,该位
仅出现在ADC1中。
0:禁止温度传感器和VREFINT;
1:启用温度传感器和VREFINT。
SWSTART:开始转换规则通道 (Start conversion of regular channels) 由软件设置该位以启动
转换,转换开始后硬件马上清除此位。如果在EXTSEL[2:0]位中选择了SWSTART为触发事
件,该位用于启动一组规则通道的转换。
0:复位状态;
1:开始转换规则通道。
JSWSTART:开始转换注入通道(Start conversion of injected channels)
由软件设置该位以启动转换,软件可清除此位或在转换开始后硬件马上清除此位。如
果 在 JEXTSEL[2:0]位中选择了JSWSTART为触发事件,该位用于启动一组注入通道的转换,
0:复位状态;
1:开始转换注入通道。
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位20
EXTTRIG : 规 则 通 道 的 外 部 触 发 转 换 模 式 (External trigger conversion mode
regular channels)
该位由软件设置和清除,用于开启或禁止可以启动规则通道组转换的外部触发事件。
for
0:不用外部事件启动转换;
1:使用外部事件启动转换。
位19:17
EXTSEL[2:0]:选择启动规则通道组转换的外部事件(External event select for regular group)
这些位选择用于启动规则通道组转换的外部事件
ADC1和ADC2的触发配置如下
000:定时器1的CC1事件
001:定时器1的CC2事件
010:定时器1的CC3事件
011:定时器2的CC2事件
ADC3的触发配置如下
000:定时器3的CC1事件
001:定时器2的CC3事件
010:定时器1的CC3事件
011:定时器8的CC1事件
位16
位15
位14:12
100:定时器3的TRGO事件
101:定时器4的CC4事件
110:EXTI线11 / TIM8_TRGO事件
111:SWSTART
100:定时器8的TRGO事件
101:定时器5的CC1事件
110:定时器5的CC3事件
111:SWSTART
TRGOPT: 外部触发源选择
0:外部触发源选择控制为JEXTSEL
1:外部触发源选择控制为JEXTSEL2
JEXTTRIG:注入通道的外部触发转换模式 (External trigger conversion mode for injected
channels) 该位由软件设置和清除,用于开启或禁止可以启动注入通道组转换的外部触发事
件。
0:不用外部事件启动转换;
1:使用外部事件启动转换。
JEXTSEL[2:0] : 选 择 启 动 注 入 通 道 组 转 换 的 外 部 事 件 (External event select for
injected group)
这些位选择用于启动注入通道组转换的外部事件。
ADC1和ADC2的触发配置如下
000:定时器1的TRGO事件
100:定时器3的CC4事件
001:定时器1的CC4事件
101:定时器4的TRGO事件
010:定时器2的TRGO事件
110:EXTI线15 / TIM8_CC4事件
011:定时器2的CC1事件
111:JSWSTART
ADC3的触发配置如下
000:定时器1的TRGO事件
100:定时器8的CC4事件
001:定时器1的CC4事件
101:定时器5的TRGO事件
010:定时器4的CC3事件
110:定时器5的CC4事件
011:定时器8的CC2事件
111:JSWSTART
位11
ALIGN:数据对齐 (Data alignment) 该位由软件设置和清除。
0:右对齐;
1:左对齐。
位10:9
保留。必须保持为0。
位8
DMA:直接存储器访问模式(Direct memory access mode) 该位由软件设置和清除。
0:不使用DMA模式;
1:使用DMA模式。
注:只有ADC1和ADC3能产生DMA请求。
位7:4
保留。必须保持为0。
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RX32F103xB
RSTCAL:复位校准 (Reset calibration) 该位由软件设置并由硬件清除。
在校准寄存器被初始化后该位将被清除。
位3
0:校准寄存器已初始化;
1:初始化校准寄存器。 注:如果正在进行转换时设置RSTCAL,清除校准寄存器需要额外的
周期。
CAL:A/D校准 (A/D Calibration) 该位由软件设置以开始校
准,并在校准结束时由硬件清除。
位2
0:校准完成;
1:开始校准。
CONT:连续转换 (Continuous conversion) 该位由软件设置和清除。如果设置
了此位,则转换将连续进行直到该位被清除。
位1
0:单次转换模式;
1:连续转换模式。
位0
ADON:开/关A/D转换器 (A/D converter ON / OFF) 该位由软件设置和清除。当该位为’0’时,
写入’1’将把ADC从断电模式下唤醒。 当该位为’1’时,写入’1’将启动转换。应用程序需注
意,在转换器上电至转换开始有一个延迟tSTAB。
0:关闭ADC转换/校准,并进入断电模式;
1:开启ADC并启动转换。
注:如果在这个寄存器中与ADON一起还有其他位被改变,则转换不被触发。这是为了防止
触 发错误的转换。
ADC 采样时间寄存器1(ADC_SMPR1)
地址偏移:0x0C
复位值:0x0000 0000
31
30
29
保留
28
15
rw
26
rw
rw
rw
12
11
10
SMP21[2:0]
rw
SMP
15[0]
27
14
13
SMP14[2:0]
rw
rw
25
24
23
rw
rw
rw
9
8
7
SMP20[2:0]
SMP13[2:0]
rw
rw
rw
22
21
20
rw
rw
rw
rw
rw
rw
rw
6
5
4
3
2
1
0
SMP17[2:0]
SMP12[2:0]
rw
rw
rw
19
SMP16[2:0]
SMP11[2:0]
rw
18
rw
rw
位31:30
保留。必须保持为0。
位29:0
SMPx[2:0]:选择通道x的采样时间(Channel x Sample time selection)
17
16
SMP15[2:1]
SMP10[2:0]
rw
rw
rw
rw
这些位用于独立地选择每个通道的采样时间。在采样周期中通道选择位必须保持不变。
000:1.5周期
100:41.5周期
001:7.5周期
101:55.5周期
010:13.5周期
110:71.5周期
011:28.5周期
111:239.5周期
注:ADC1的模拟输入通道16和通道17在芯片内部分别连到了温度传感器和VREFINT。
ADC2的模拟输入通道16和通道17在芯片内部连到了Vss。
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8 TIM1 & TIM8
TIM 新增功能
新增通道 CH5
增加 PulseExcep
新增 DOE
新增煞车源
–
PVD_OUT
–
CMP4_OUT
–
CMP5_OUT
–
LOCKUP(Hardfault)_output
内部时钟CLK
触发控
制器
ETRF
极性选择、边沿 ETRP
检测、预分频器
ETR
ETR
ITR0
ITR1
ITR2
ITR3
输入滤波
ITR
TGI
TRGI
TRC
从模式
控制器
TI1F_ED
复位、使能、向
上/向下、计数
TI1FP1
TI2FP2
编码器
接口
REP寄存器
U
UI
自动重装载寄存器
重复次数
寄存器
停止、清除或向上/向下
CK_PSC
XOR
CH1
CH2
CH3
CH4
BKIN
TI1
TI1FP1
输入滤波器和 TI1FP2
边沿检测器
TRC
输入滤波器和 TI2FP1
边沿检测器 TI2FP2
TRC
TI3FP3
输入滤波器和 TI3FP4
边沿检测器
TRC
TI4FP3
输入滤波器和 TI4FP4
边沿检测器
TRC
PVD_OUT
滤波
BRK
CMP4_OUT
极性
选择
CMP5_OUT
LOCKUP(Hardfault) output
时钟失效事件
来自时钟控制器HSE_Flag
IC1
IC2
IC3
IC4
PSC预分频器
预分频器
预分频器
预分频器
预分频器
CK_CNT
+/-
CC1I
U
IC1PS
CC1I
捕获/比较1寄存器
CC2I
U
IC2PS
U
CNT计数器
OC1REF
DTG寄存器
DTG
输出
控制
CC2I
捕获/比较2寄存器
CC3I
U
IC3PS
OC2REF
DTG
输出
控制
CC3I
捕获/比较3寄存器
CC4I
U
IC4PS
OC3REF
DTG
OC1
OC1N
OC2
OC2N
OC3
CH1
CH1N
CH2
CH2N
CH3
输出
控制
OC3N
CH3N
输出
控制
OC4
CH4
输出
控制
OC5
CH5
CC4I
捕获/比较4寄存器
OC4REF
捕获/比较5寄存器
OC5REF
CC5I
ETRF
BI
DOE
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TIM1 and TIM8 寄存器
TIM1 和 TIM8 控制寄存器 2(TIMx_CR2)
偏移地址:0x04
复位值:0x0000
15
14
OIS5
13
12
11
10
9
8
OIS4 OIS3N OIS3 OIS2N OIS2 OIS1N OIS1
rw
rw
rw
rw
rw
rw
rw
7
6
4
MMS[2:0]
TI1S
rw
5
rw
rw
rw
3
2
1
0
CCDS
CCUS
保留
CCPC
rw
rw
位15
OIS5:输出空闲状态5(OC5输出)。
位14
OIS4:输出空闲状态4(OC4输出)。参见OIS1位。
位13
OIS3N:输出空闲状态3(OC3N输出)。参见OIS1N位。
位12
OIS3:输出空闲状态3(OC3输出)。参见OIS1位。
位11
OIS2N:输出空闲状态2(OC2N输出)。参见OIS1N位。
位10
OIS2:输出空闲状态2(OC2输出)。参见OIS1位。
位9
OIS1N:输出空闲状态1(OC1N输出) (Output Idle state 1)
0:当MOE=0时,死区后OC1N=0;
1:当MOE=0时,死区后OC1N=1。
注:已经设置了LOCK(TIMx_BKR寄存器)级别1、2或3后,该位不能被修改。
位8
OIS1:输出空闲状态1(OC1输出) (Output Idle state 1)
0:当MOE=0时,如果实现了OC1N,则死区后OC1=0;
1:当MOE=0时,如果实现了OC1N,则死区后OC1=1。
注:已经设置了LOCK(TIMx_BKR寄存器)级别1、2或3后,该位不能被修改。
位7
TI1S:TI1选择(TI1 selection)
0:TIMx_CH1引脚连到TI1输入;
1:TIMx_CH1、TIMx_CH2和TIMx_CH3引脚经异或后连到TI1输入。
位6:4
MMS[2:0]:主模式选择(Master mode selection)
rw
这3位用于选择在主模式下送到从定时器的同步信息(TRGO)。可能的组合如下:
000:复位 –
TIMx_EGR寄存器的UG位被用于作为触发输出(TRGO)。如果是触发输入产生的
复位(从模式控制器处于复位模式),则TRGO上的信号相对实际的复位会有一个延迟。
001:使能 – 计数器使能信号CNT_EN被用于作为触发输出(TRGO)。有时需要在同一时间启动
多个定时器或控制在一段时间内使能从定时器。计数器使能信号是通过CEN控制位和门控模式
下的触发输入信号的逻辑或产生。当计数器使能信号受控于触发输入时,TRGO上会有一个延
迟,除非选择了主/从模式(见TIMx_SMCR寄存器中MSM位的描述)。
010:更新 – 更新事件被选为触发输入(TRGO)。例如,一个主定时器的时钟可以被用作一个从
定时器的预分频器。
011:比较脉冲 – 在发生一次捕获或一次比较成功时,当要设置CC1IF标志时(即使它已经
为高),触发输出送出一个正脉冲(TRGO)。
100:比较– OC1REF信号被用于作为触发输出(TRGO)。
101:比较– OC2REF信号被用于作为触发输出(TRGO)。
110:比较– OC3REF信号被用于作为触发输出(TRGO)。
位3
111:比较– OC4REF信号被用于作为触发输出(TRGO)。
CCDS:捕获/比较的DMA选择(Capture/compare DMA selection)
0:当发生CCx事件时,送出CCx的DMA请求;
1:当发生更新事件时,送出CCx的DMA请求。
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位2
CCUS:捕获/比较控制更新选择(Capture/compare control update selection)
0:如果捕获/比较控制位是预装载的(CCPC=1),只能通过设置COM位更新它们;
1:如果捕获/比较控制位是预装载的(CCPC=1),可以通过设置COM位或TRGI上的一个上升沿
更新它们。
注:该位只对具有互补输出的通道起作用。
位1
保留,始终读为0。
位0
CCPC:捕获/比较预装载控制位(Capture/compare preloaded control)
0:CCxE,CCxNE和OCxM位不是预装载的;
1:CCxE,CCxNE和OCxM位是预装载的;设置该位后,它们只在设置了COM位后被更新。
注:该位只对具有互补输出的通道起作用。
TIM1 和 TIM8 DMA/中断使能寄存器(TIMx_DIER)
偏移地址:0x0C
复位值:0x0000
15
14
CC5IE TDE
rw
rw
13
12
11
10
9
COMDE CC4DE CC3DE CC2DE CC1DE
rw
rw
rw
rw
rw
8
7
6
UDE
BIE
TIE
rw
rw
rw
5
4
3
2
1
0
COMIE CC4IE CC3IE CC2IE CC1IE
rw
rw
rw
位15
CC5IE: 允许捕获/比较5中断 (Capture/Compare 5 interrupt enable)
0:禁止捕获/比较5中断;
1:允许捕获/比较5中断。
位14
TDE:允许触发DMA请求(Trigger DMA request enable)
0:禁止触发DMA请求;
1:允许触发DMA请求。
位13
COMDE:允许COM的DMA请求(COM DMA request enable)
0:禁止COM的DMA请求;
1:允许COM的DMA请求。
位12
CC4DE:允许捕获/比较4的DMA请求(Capture/Compare 4 DMA request enable)
0:禁止捕获/比较4的DMA请求;
1:允许捕获/比较4的DMA请求。
位11
CC3DE:允许捕获/比较3的DMA请求(Capture/Compare 3 DMA request enable)
0:禁止捕获/比较3的DMA请求;
1:允许捕获/比较3的DMA请求。
位10
CC2DE:允许捕获/比较2的DMA请求(Capture/Compare 2 DMA request enable)
0:禁止捕获/比较2的DMA请求;
1:允许捕获/比较2的DMA请求。
位9
CC1DE:允许捕获/比较1的DMA请求(Capture/Compare 1 DMA request enable)
0:禁止捕获/比较1的DMA请求;
1:允许捕获/比较1的DMA请求。
位8
UDE:允许更新的DMA请求(Update DMA request enable)
0:禁止更新的DMA请求;
1:允许更新的DMA请求。
rw
rw
UIE
rw
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位7
BIE:允许刹车中断(Break interrupt enable)
0:禁止刹车中断;
1:允许刹车中断。
位6
TIE:触发中断使能(Trigger interrupt enable)
0:禁止触发中断;
1:使能触发中断。
位5
COMIE:允许COM中断(COM interrupt enable)
0:禁止COM中断;
1:允许COM中断。
位4
CC4IE:允许捕获/比较4中断(Capture/Compare 4 interrupt enable)
0:禁止捕获/比较4中断;
1:允许捕获/比较4中断。
位3
CC3IE:允许捕获/比较3中断(Capture/Compare 3 interrupt enable)
0:禁止捕获/比较3中断;
1:允许捕获/比较3中断。
位2
CC2IE:允许捕获/比较2中断(Capture/Compare 2 interrupt enable)
0:禁止捕获/比较2中断;
1:允许捕获/比较2中断。
位1
CC1IE:允许捕获/比较1中断(Capture/Compare 1 interrupt enable)
0:禁止捕获/比较1中断;
1:允许捕获/比较1中断。
位0
UIE:允许更新中断(Update interrupt enable)
0:禁止更新中断;
1:允许更新中断。
TIM1 和 TIM8 状态寄存器(TIMx_SR)
偏移地址:0x10
复位值:0x0000
15
14
保留
13
12
11
10
9
8
CC5IF CC4OF CC3OF CC2OF CC1OF 保留
rw
rw
rw
rw
rw
7
6
BIF
TIF
rw
rw
5
4
3
2
1
0
COMIF CC4IF CC3IF CC2IF CC1IF
rw
rw
rw
位15:14
保留,始终读为0。
位13
CC5IF:捕获/比较5中断标记
位12
CC4OF:捕获/比较4重复捕获标记(Capture/Compare 4 overcapture flag)
参见CC1OF描述。
位11
CC3OF:捕获/比较3重复捕获标记(Capture/Compare 3 overcapture flag)
参见CC1OF描述。
位10
CC2OF:捕获/比较2重复捕获标记(Capture/Compare 2 overcapture flag)
参见CC1OF描述。
rw
rw
UIF
rw
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位9
CC1OF:捕获/比较1重复捕获标记(Capture/Compare 1 overcapture flag) 仅当相应的通道被配
置为输入捕获时,该标记可由硬件置1。写0可清除该位。
0:无重复捕获产生;
1:计数器的值被捕获到TIMx_CCR1寄存器时,CC1IF的状态已经为’1’。
位8
保留,始终读为0。
位7
BIF:刹车中断标记 (Break interrupt flag) 一旦刹车输入有效,由硬件对该位置’1’。
如果刹车输入无效,则该位可由软件清’0’。
0:无刹车事件产生;
1:刹车输入上检测到有效电平。
位6
TIF:触发器中断标记 (Trigger interrupt flag) 当发生触发事件(当从模式控制器处于除门控模式
外的其它模式时,在TRGI输入端检测到有效边沿,或门控模式下的任一边沿)时由硬件对该位
置’1’。它由软件清’0’。
0:无触发器事件产生;
1:触发中断等待响应。
位5
COMIF:COM中断标记 (COM interrupt flag) 一旦产生COM事件(当捕获/比较控制位:CCxE、
CCxNE、OCxM已被更新)该位由硬件置’1’。 它由软件清’0’。
0:无COM事件产生;
1:COM中断等待响应。
位4
CC4IF:捕获/比较4中断标记(Capture/Compare 4 interrupt flag)
参考CC1IF描述。
位3
CC3IF:捕获/比较3中断标记(Capture/Compare 3 interrupt flag)
参考CC1IF描述。
位2
CC2IF:捕获/比较2中断标记(Capture/Compare 2 interrupt flag)
参考CC1IF描述。
位1
CC1IF:捕获/比较1中断标记(Capture/Compare 1 interrupt flag)
如果通道CC1配置为输出模式:
当计数器值与比较值匹配时该位由硬件置1,但在中心对称模式下除外(参考TIMx_CR1寄存器
的CMS位)。它由软件清’0’。
0:无匹配发生;
1:TIMx_CNT的值与TIMx_CCR1的值匹配。
当TIMx_CCR1的内容大于TIMx_APR的内容时,在向上或向上/下计数模式时计数器溢出,或
向下计数模式时的计数器下溢条件下,CC1IF位变高
如果通道CC1配置为输入模式:
当捕获事件发生时该位由硬件置’1’,它由软件清’0’或通过读TIMx_CCR1清’0’。
0:无输入捕获产生;
位0
1:计数器值已被捕获(拷贝)至TIMx_CCR1(在IC1上检测到与所选极性相同的边沿)。
UIF:更新中断标记(Update interrupt flag)
当产生更新事件时该位由硬件置’1’。它由软件清’0’。
0:无更新事件产生;
1:更新中断等待响应。当寄存器被更新时该位由硬件置’1’:
− 若TIMx_CR1寄存器的UDIS=0,当重复计数器数值上溢或下溢时(重复计数器=0时产生更
新事件)。
− 若TIMx_CR1寄存器的URS=0、UDIS=0,当设置TIMx_EGR寄存器的UG=1时产生更新事
件,通过软件对计数器CNT重新初始化时。
− 若TIMx_CR1寄存器的URS=0、UDIS=0,当计数器CNT被触发事件重新初始化时。(参考
13.4.3: TIM1和TIM8从模式控制寄存器(TIMx_SMCR))。
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TIM1 和 TIM8 事件产生寄存器(TIMx_EGR)
偏移地址:0x14
复位值:0x0000
15
14
13
12
11
10
保留
位15:9
位8
9
8
7
6
5
4
3
2
1
0
CC5G
BG
TG
COMG
CC4G
CC3G
CC2G
CC1G
UG
rw
w
w
w
w
w
w
w
w
保留,始终读为0。
CC5G: 产生捕获/比较5事件 (Capture/Compare 5 generation)
参考CC1G描述。
位7
BG:产生刹车事件 (Break generation)
该位由软件置’1’,用于产生一个刹车事件,由硬件自动清’0’。
0:无动作;
1:产生一个刹车事件。此时MOE=0、BIF=1,若开启对应的中断和DMA,则产生相应的中断
和DMA。
位6
TG:产生触发事件 (Trigger generation)
该位由软件置’1’,用于产生一个触发事件,由硬件自动清’0’。
0:无动作;
1:TIMx_SR寄存器的TIF=1,若开启对应的中断和DMA,则产生相应的中断和DMA。
位5
COMG:捕获/比较事件,产生控制更新(Capture/Compare control update generation)
该位由软件置’1’,由硬件自动清’0’。
0:无动作;
1:当CCPC=1,允许更新CCxE、CCxNE、OCxM位。
注:该位只对拥有互补输出的通道有效。
位4
CC4G:产生捕获/比较4事件(Capture/Compare 4 generation)
参考CC1G描述。
位3
CC3G:产生捕获/比较3事件(Capture/Compare 3 generation)
参考CC1G描述。
位2
CC2G:产生捕获/比较2事件(Capture/Compare 2 generation)
参考CC1G描述。
位1
CC1G:产生捕获/比较1事件(Capture/Compare 1 generation)
该位由软件置’1’,用于产生一个捕获/比较事件,由硬件自动清’0’。
0:无动作;
1:在通道CC1上产生一个捕获/比较事件:
若通道CC1配置为输出:
设置CC1IF=1,若开启对应的中断和DMA,则产生相应的中断和DMA。
若通道CC1配置为输入:
当前的计数器值被捕获至TIMx_CCR1寄存器;设置CC1IF=1,若开启对应的中断和DMA,
则产生相应的中断和DMA。若CC1IF已经为1,则设置CC1OF=1。
位0
UG:产生更新事件(Update generation)
该位由软件置’1’,由硬件自动清’0’。
0:无动作;
1:重新初始化计数器,并产生一个更新事件。注意预分频器的计数器也被清’0’(但是预分频系 数
不变)。若在中心对称模式下或DIR=0(向上计数)则计数器被清’0’;若DIR=1(向下计数)则计数器
取TIMx_ARR的值。
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TIM1 和 TIM8 捕获/比较使能寄存器(TIMx_CCER)
偏移地址:0x20
复位值:0x0000
15
14
CC5P CC5E
rw
rw
13
12
CC4P
CC4E
rw
rw
11
10
CC3NP CC3NE
rw
rw
9
8
CC3P
CC3E
rw
rw
7
6
CC2NP CC2NE
rw
rw
5
4
CC2P
CC2E
rw
rw
3
2
CC1NP CC1NE
rw
rw
1
0
CC1P
CC1E
rw
rw
位15
CC5P: 输入/捕获5输出极性
位14
CC5E: 输入/捕获5输出使能
位13
CC4P:输入/捕获4输出极性(Capture/Compare 4 output polarity)
参考CC1P的描述。
位12
CC4E:输入/捕获4输出使能(Capture/Compare 4 output enable)
参考CC1E 的描述。
位11
CC3NP:输入/捕获3互补输出极性(Capture/Compare 3 complementary output polarity)
参考CC1NP的描述。
位10
CC3NE:输入/捕获3互补输出使能(Capture/Compare 3 complementary output enable)
参考CC1NE的描述。
位9
CC3P:输入/捕获3输出极性(Capture/Compare 3 output polarity)
参考CC1P的描述。
位8
CC3E:输入/捕获3输出使能(Capture/Compare 3 output enable)
参考CC1E 的描述。
位7
CC2NP:输入/捕获2互补输出极性(Capture/Compare 2 complementary output polarity)
参考CC1NP的描述。
位6
CC2NE:输入/捕获2互补输出使能(Capture/Compare 2 complementary output enable)
参考CC1NE的描述。
位5
CC2P:输入/捕获2输出极性(Capture/Compare 2 output polarity)
参考CC1P的描述。
位4
CC2E:输入/捕获2输出使能(Capture/Compare 2 output enable)
参考CC1E的描述。
位3
CC1NP:输入/捕获1互补输出极性(Capture/Compare 1 complementary output polarity)
0:OC1N高电平有效;
1:OC1N低电平有效。
注:一旦LOCK级别(TIMx_BDTR寄存器中的LOCK位)设为3或2且CC1S=00(通道配置为输出)
则该位不能被修改。
位2
CC1NE:输入/捕获1互补输出使能(Capture/Compare 1 complementary output enable)
0:关闭- OC1N禁止输出,因此OC1N的电平依赖于MOE、OSSI、OSSR、OIS1、OIS1N和
CC1E位的值。
1:开 启- OC1N信号输出到对应的输出引脚,其输出电平依赖于MOE、OSSI、
OSSR、
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位1
CC1P:输入/捕获1输出极性(Capture/Compare 1 output polarity)
CC1通道配置为输出:
0:OC1高电平有效;
1:OC1低电平有效。
CC1通道配置为输入: 该位选择是IC1还是IC1的反相信号作为触发或捕获信号。
0:不反相:捕获发生在IC1的上升沿;当用作外部触发器时,IC1不反相。
1:反相:捕获发生在IC1的下降沿;当用作外部触发器时,IC1反相。
注:一旦LOCK级别(TIMx_BDTR寄存器中的LOCK位)设为3或2,则该位不能被修改。
位0
CC1E:输入/捕获1输出使能 (Capture/Compare 1 output enable)
CC1通道配置为输出:
0: 关闭- OC1禁止输出,因此OC1的输出电平依赖于MOE、OSSI、OSSR、OIS1、OIS1N
和CC1NE位的值。
1: 开 启 - OC1信 号 输 出 到 对 应 的 输 出 引 脚 , 其 输 出 电 平 依 赖 于 MOE、 OSSI、
OSSR、 OIS1、OIS1N和CC1NE位的值。
CC1通道配置为输入: 该位决定了计数器的值是否能捕获入TIMx_CCR1寄存器。
0:捕获禁止;
0:捕获使能。
TIM1 和 TIM8 刹车和死区寄存器(TIMx_BDTR)
偏移地址:0x44
复位值:0x0000
31
30
29
28
27
26
保留
25
24
23
BKF[3:1]
22
21
20
DOE
PVD
_OE
HF
_OE
19
18
CMP5 CMP5
_OEP _OE
17
16
CMP4 CMP4_
_OEP OE
rw
rw
rw
rw
rw
rw
rw
rw
rw
rw
rw
rw
rw
rw
rw
rw
15
14
13
12
11
10
9
8
7
6
5
4
3
2
1
0
MOE
AOE
BKP
BKE
OSSR
OSSI
rw
rw
rw
rw
rw
rw
rw
rw
rw
注释:
LOCK[1:0]
rw
rw
DTG[7:0]
rw
rw
rw
rw
rw
根据锁定设置,AOE、BKP、BKE、OSSI、OSSR 和 DTG[7:0]位均可被写保护,有必要在第一
次写入 TIMx_BDTR 寄存器时对它们进行配置。
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RX32F103xB
位31:27
位23:26
保留,始终读为0。
BKF[3:0]: 这几位定义了BRK输入的采样频率及数字滤波器长度。数字滤波器由一个事件计数器
组成,它记录到N个事件后会产生一个输出的跳变
0000: No filter, BRK acts asynchronously
0001: fSAMPLING=fCK_INT, N=2
0010: fSAMPLING=fCK_INT, N=4
0011: fSAMPLING=fCK_INT, N=8
0100: fSAMPLING=fDTS/2, N=6
0101: fSAMPLING=fDTS/2, N=8
0110: fSAMPLING=fDTS/4, N=6
0111: fSAMPLING=fDTS/4, N=8
1000: fSAMPLING=fDTS/8, N=6
1001: fSAMPLING=fDTS/8, N=8
1010: fSAMPLING=fDTS/16, N=5
1011: fSAMPLING=fDTS/16, N=6
1100: fSAMPLING=fDTS/16, N=8
1101: fSAMPLING=fDTS/32, N=5
1110: fSAMPLING=fDTS/32, N=6
1111: fSAMPLING=fDTS/32, N=8
位22
DOE: 直接輸出
MOE置0後,有效
1: 立即輸出空閑狀態,不等死區時間
0: 剎車輸入後,等待一個死區時間後輸出空閒狀態
位21
PVD_OE: 刹车功能PVD_OUT使能 (Break enable)
0:禁止刹车输入
1:开启刹车输入
注:当设置了LOCK级别1时(TIMx_BDTR寄存器中的LOCK位),该位不能被修改。
注:任何对该位的写操作都需要一个APB时钟的延迟以后才能起作用。
位20
HF_OE: 刹车功能Hardfault_out使能 (Break enable)
0:禁止刹车输入
1:开启刹车输入
注:当设置了LOCK级别1时(TIMx_BDTR寄存器中的LOCK位),该位不能被修改。
注:任何对该位的写操作都需要一个APB时钟的延迟以后才能起作用。
位19
CMP5_OEP:刹车输入CMP5_out极性 (Break polarity)
0:刹车输入低电平有效;
1:刹车输入高电平有效。
注:一旦LOCK级别(TIMx_BDTR寄存器中的LOCK位)设为’1’,则该位不能被修改。
注:任何对该位的写操作都需要一个APB时钟的延迟以后才能起作用。
位18
CMP5_OE: 刹车功能CMP5_out使能 (Break enable)
0:禁止刹车输入
1:开启刹车输入
注:当设置了LOCK级别1时(TIMx_BDTR寄存器中的LOCK位),该位不能被修改。
注:任何对该位的写操作都需要一个APB时钟的延迟以后才能起作用。
位17
CMP4_OEP: 刹车输入CMP4_out极性 (Break polarity)
0:刹车输入低电平有效;
1:刹车输入高电平有效。
注:一旦LOCK级别(TIMx_BDTR寄存器中的LOCK位)设为’1’,则该位不能被修改。
注:任何对该位的写操作都需要一个APB时钟的延迟以后才能起作用。
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位16
CMP4_OE:刹车功能CMP4_out使能 (Break enable)
0:禁止刹车输入
1:开启刹车输入
注:当设置了LOCK级别1时(TIMx_BDTR寄存器中的LOCK位),该位不能被修改。
注:任何对该位的写操作都需要一个APB时钟的延迟以后才能起作用。
位15
MOE: 主输出使能(Main output enable)
一旦刹车输入有效,该位被硬件异步清’0’。根据AOE位的设置值,该位可以由软件清’0’或被自
动置1。它仅对配置为输出的通道有效。
0:禁止OC和OCN输出或强制为空闲状态;
1:如果设置了相应的使能位(TIMx_CCER寄存器的CCxE、CCxNE位),则开启OC和OCN输
出。
位14
位13
有关OC/OCN使能的细节,参见13.4.9节,TIM1和TIM8捕获/比较使能寄存器(TIMx_CCER)。
AOE: 自动输出使能(Automatic output enable)
0:MOE只能被软件置’1’;
1:MOE能被软件置’1’或在下一个更新事件被自动置’1’(如果刹车输入无效)。 注:
一旦LOCK级别(TIMx_BDTR寄存器中的LOCK位)设为’1’,则该位不能被修改。
BKP: 刹车输入极性(Break polarity)
0:刹车输入低电平有效;
1:刹车输入高电平有效。
注:一旦LOCK级别(TIMx_BDTR寄存器中的LOCK位)设为’1’,则该位不能被修改。
位12
注:任何对该位的写操作都需要一个APB时钟的延迟以后才能起作用。
BKE: 刹车功能使能 (Break enable)
0:禁止刹车输入(BRK及CCS时钟失效事件);
1:开启刹车输入(BRK及CCS时钟失效事件)。
注:当设置了LOCK级别1时(TIMx_BDTR寄存器中的LOCK位),该位不能被修改。
注:任何对该位的写操作都需要一个APB时钟的延迟以后才能起作用。
位11
OSSR: 运行模式下“关闭状态”选择 (Off-state selection for Run mode) 该位用于当MOE=1且
通道为互补输出时。没有互补输出的定时器中不存在OSSR位。 参考OC/OCN使能的详细说
明(13.4.9节,TIM1和TIM8捕获/比较使能寄存器(TIMx_CCER))。
0:当定时器不工作时,禁止OC/OCN输出(OC/OCN使能输出信号=0);
1:当定时器不工作时,一旦CCxE=1或CCxNE=1,首先开启OC/OCN并输出无效电平,然
后置OC/OCN使能输出信号=1。
注:一旦LOCK级别(TIMx_BDTR寄存器中的LOCK位)设为2,则该位不能被修改。
位10
OSSI: 空闲模式下“关闭状态”选择 (Off-state selection for Idle mode) 该位用于当MOE=0且
通道设为输出时。 参考OC/OCN使能的详细说明(13.4.9节,TIM1和TIM8捕获/比较使能寄存
器(TIMx_CCER))。
0:当定时器不工作时,禁止OC/OCN输出(OC/OCN使能输出信号=0);
1 : 当 定 时 器 不 工 作 时 , 一 旦 CCxE=1 或CCxNE=1 ,OC/OCN首 先 输 出 其 空 闲 电 平 ,
然 后 OC/OCN使能输出信号=1。
注:一旦LOCK级别(TIMx_BDTR寄存器中的LOCK位)设为2,则该位不能被修改。
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位9:8
LOOK[1:0]: 锁定设置(Lock configuration) 该位为防止软件错误而提供写保护。
00:锁定关闭,寄存器无写保护;
01:锁定级别1,不能写入TIMx_BDTR寄存器的DTG、BKE、BKP、CMP4_OE、MP4_OEP、
CMP5_OE、CMP5_OEP、PVD_OE、PVD_OEP、Hardfault_OE、AOE位和TIMx_CR2寄存器
的OISx/OISxN位;
10: 锁 定 级 别 2, 不 能 写 入 锁 定 级 别 1中 的 各 位 , 也 不 能 写 入 CC极 性 位 (一 旦 相 关 通 道
通 过 CCxS位设为输出,CC极性位是TIMx_CCER寄存器的CCxP/CCNxP位)以及OSSR/OSSI
位;
11: 锁 定 级 别 3, 不 能 写 入 锁 定 级 别 2中 的 各 位 , 也 不 能 写 入 CC控 制 位 (一 旦 相 关 通 道
通 过 CCxS位设为输出,CC控制位是TIMx_CCMRx寄存器的OCxM/OCxPE位);
位7:0
注:在系统复位后,只能写一次LOCK位,一旦写入TIMx_BDTR寄存器,则其内容冻结直至复
位。
UTG[7:0]: 死区发生器设置 (Dead-time generator setup) 这些位定义了插入互补输出之间
的死区持续时间。
假设DT表示其持续时间:
DTG[7:5]=0xx => DT=DTG[7:0] × Tdtg,Tdtg = TDTS;
DTG[7:5]=10x => DT=(64+DTG[5:0]) ×Tdtg,Tdtg = 2 × TDTS;
DTG[7:5]=110 => DT=(32+DTG[4:0]) ×Tdtg,Tdtg = 8 × TDTS;
DTG[7:5]=111 => DT=(32+DTG[4:0])× Tdtg,Tdtg = 16 ×TDTS;
例:
若TDTS = 125ns(8MHZ),可能的死区时间为:
0到15875ns,若步长时间为125ns;
16us到31750ns,若步长时间为250ns;
32us到63us,若步长时间为1us;
64us到126us,若步长时间为2us;
注:一旦LOCK级别(TIMx_BDTR寄存器中的LOCK位)设为1、2或3,则不能修改这些位。
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TIM1 和 TIM8 CCR5 (TIMx_CCR5)
偏移地址:0x54
复位值:0x0000
31
30
29
28
27
26
25
24
rw
15
rw
14
rw
13
rw
12
rw
11
rw
10
rw
9
rw
8
rw
rw
rw
rw
rw
rw
rw
23
22
21
20
19
18
17
16
rw
7
rw
6
rw
5
rw
4
rw
3
rw
2
rw
1
rw
0
rw
rw
rw
rw
rw
rw
rw
保留
CCR5[15:0]
rw
rw
位31:16
保留,始终读为0。
位15:0
CCR5[15:0]: 捕获/比较通道5的值 (Capture/Compare 5 value)
若CC5通道配置为输出:
CCR5包含了装入当前捕获/比较5寄存器的值(预装载值)。
如果在TIMx_CCMR4寄存器(OC4PE位)中未选择预装载特性,写入的数值会立即传输
至当前寄存器中。否则只有当更新事件发生时,此预装载值才传输至当前捕获/比
较5寄存器中。
当前捕获/比较寄存器参与同计数器TIMx_CNT的比较,并在OC5端口上产生输出信
号。
若CC5通道配置为输入:
CCR5包含了由上一次输入捕获5事件(IC5)传输的计数器值。
TIM1 和 TIM8 CCMR3 (TIMx_CCMR3)
偏移地址:0x58
复位值:0x0000
31
30
29
28
27
26
25
24
rw
15
rw
14
rw
13
rw
12
rw
11
rw
10
rw
9
rw
8
23
22
21
20
19
18
17
16
rw
7
rw
6
rw
5
rw
4
rw
3
rw
2
rw
1
rw
0
OC5
PE
OC5
FE
rw
rw
保留
保留
rw
rw
rw
rw
rw
OC5
CE
rw
rw
rw
位31:8
保留,始终读为0。
位7
OC5CE:输出比较5清0使能
位6:4
OC5M[2:0]:输出比较5模式
位3
OC5PE:输出比较5预装载使能
位2
OC5FE:输出比较5快速使能
位1:0
保留,始终读为0。
rw
OC5M[2:0]
rw
rw
rw
保留
rw
rw
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9 CMP 比较器
CMP 简介
芯片内嵌 2 个通用比较器 CMP4、CMP5 可独立使用,也可与 TIM1 和 OPA 结合使用。
比较器功能描述
简介
下图是比较器框图:
CMP4_IOPSEL[1:0]
CMP4_0P
CMP4_1P
CMP4_2P
00
01
CMP4_INP
INP_SEL[2:0]
10
000
PGA0_out
CRV_SRC
PGA1_out
VREFINT
0
OPA3_out
VREF+
001
010
Polarity
selection
100
RIF
RIE
CMP4
中断
1
CRV_EN
CMP4_0N
CMP4_1N
1111
+
CMP4_IOMSEL[1:0]
CMP4_2N
-
00
FIE
TIM1_ BKIN
MODE
10
POL
1110
FIF
EN
CMP4_INM
01
Noise
Filter
CMP4
OFLT
0
1101
0010
CRV
PAD
CMP4_OUT
1
INM_SEL[1:0]
0001
0000
CRV_SEL[2:0]
CRV_SRC
INP_SEL[2:0]
VREFINT
0
CMP5_P
VREF+
1
CRV_EN
PGA0_out
PGA1_out
OPA3_out
000
001
010
Polarity
selection
100
RIF
RIE
CMP5
中断
1111
1110
+
CMP5_N
0
1101
0010
0001
CRV
-
1
Noise
Filter
CMP5
FIF
FIE
EN
INM_SEL[1:0]
TIM1_ BKIN
MODE
POL
0000
OFLT
PAD
CMP5_OUT
CRV_SEL[2:0]
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比较器开关控制
通过设置CMPx_CR 寄存器的EN 位可给CMP 上电。设置EN 位时,它将CMP 从断电状态唤醒,清除EN 位可停止
比较器工作。
比较器输入和输出
CMP4-5 有 4 個正相輸入和 2 個反向輸入通道可以選擇,正相輸入包含 3 個(CMP5 只有 1 个)外部引腳和
3 個 OPA0-3 的輸出,反相輸入包含 3 個(CMP5 只有 1 个)外部引腳和 CRV 電壓分壓值.
CMP4-5 的輸出可以選擇 TIM1 的煞車輸入
比较器用法
比较器CMP4/5 比较所选择的INP 和INM 端口上的信号,具体流程如下:
1.
配置 CMPx_CR2 寄存器的 INP_SEL 位和 INM_SEL 位,选择所要比较的信号;
2.
配置 CMPx_CR1 寄存器的 EN 位,比较器开始上电工作;
3.
比较的结果存放于 CMPx_CR1 寄存器的 OUT 位。
另外,当CMP4 和CMP5 的INM_SEL 选择CRV 时,需要配置CMP_CR2 寄存器的CRV_SEL 位,然后将CRV_EN
置位。
比较器锁定机制
比较器能用于安全的用途,比如过流或者过热保护。在某些特定的安全需求的应用中,有必要保证比较器
设置不能被无效寄存器访问或者程序计数器破坏所改变。为了这个目的,比较器控制和状态寄存器可以设为
写保护(只读)。一旦设置完成,LOCK 位必须设为 1,这导致整个 CMPx_CR2 寄存器变成只读,包括
LOCK 位在内。写保护只能被MCU 复位所清除。
迟滞现象 (未测试)
比较器的可配置迟滞电压能防止无效的输出变化产生的噪声信号。在不需要强制迟滞电压 的情况下迟滞
现象可以被禁止。
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电流尖峰遮蔽功能 (未测试)
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CMP 中断
CMP 中断功能
CMP 寄存器
CMP 控制寄存器 1(CMPx_CR1)
CMPx_CR1(CMP 控制寄存器 1)
Reset Value:0X00000
31
30
29
28
27
基地址:
0x40014030,0x40014040
偏移地址: 00H
26
25
24
23
22
21
20
7
LOCK
rw
6
OUT
r
5
4
保留
15
FIF
rw
14
RIF
rw
位
31:20
19:18
17:16
15
14
13
12
11
10:8
7
13
FIE
rw
12
RIE
rw
11
保留
10
9
8
OFLT[2:0]
rw
rw
rw
保留
19
18
17
16
FHYST[1:0]
RHYST[1:0]
rw
rw
rw
rw
3
2
1
0
POL
MODE[1:0]
EN
rw
rw
rw
rw
功能描述
保留位,硬件强制为 0
FHYST[1:0]:下降遲滯電壓
00: 0mV
01: 5mV
10: 10mV
11: 20mV
RHYST[1:0]:上升遲滯電壓
00: 0mV
01: 5mV
10: 10mV
11: 20mV
FIF:下降沿中断事件标志位
1:下降沿中断事件发生
0:无下降沿中断事件
RIF:上升沿中断事件标志位
1:上升沿中断事件发生
0:无上升沿中断事件
FIE:下降沿中断使能标志位
1:下降沿中断使能
0:下降沿中断禁止
RIE:上升沿中断使能标志位
1:上升沿中断使能
0:上升沿中断禁止
保留位,硬件强制为 0
OFLT[2:0]:比较器的输出滤波,连续的 PCLK 时钟比较输出不变则认为有效,否则保持不变
000b:1 个时钟周期,无滤波
001b:4 个时钟周期
010b:16 个时钟周期
011b:32 个时钟周期
100b:64 个时钟周期
101b:128 个时钟周期
110b:256 个时钟周期
111b:512 个时钟周期
LOCK:CR2 只读控制位
1:CR2 只能 read
0:CR2能read/write
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6
5:4
3
2:1
0
OUT:比较器的输出,read only
1:高输出
0:低输出
注意: CPU 读取 OUT 值时,OFLT 值必须设为 001b 以上
保留位,硬件强制为0
POL:输出极性
1: 反相输出
0: 同相输出
MODE[1:0]:CMP采样速率控制位
00b:极低功率
01b:低功率
10b:中等速率
11b:高速率
EN:比较器使能控制位
1:比较器使能
0:比较器禁止
CMP 控制寄存器 2(CMPx_CR2)
CMPx_CR2(CMP 控制寄存器 2)
Reset Value:0X00000
31
30
29
28
27
基地址:
0x40014030,0x40014040
偏移地址: 04H
26
25
24
23
22
21
20
19
18
8
7
6
5
4
3
2
CRV_S
RC
CRV_E
N
rw
rw
保留
15
BLANK
ING
[0]
rw
14
13
CMP4_IOMSEL
[1:0]
rw
位
31:18
17:15
14:13
12:11
10:8
rw
12
11
10
CMP4_IOPSEL
[1:0]
rw
rw
9
INP_SEL[2:0]
rw
rw
INM_SEL[1:0]
rw
rw
rw
17
16
BLANKING
[2:1]
rw
rw
1
0
CRV_SEL[3:0]
rw
rw
rw
功能描述
保留位,硬件强制为 0
BLANKING[2:0]: 电流尖峰遮蔽功能信号源选择
000: 不遮蔽
001: TIM1 chanel4 输出作为遮蔽信号源
010: TIM2 chanel 3 输出作为遮蔽信号源
011: TIM3 chanel 3 输出作为遮蔽信号源
100: TIM4 chanel 3 输出作为遮蔽信号源
default: 保留
CMP4_IOMSEL[1:0]: CMP4 输入 N 端 IO 通道选择
该位只在 CMP4 中且 INM_SEL 为 0 时有效
00: CH0_INM
01: CH1_INM
10: CH2_INM
CMP4_IOPSEL[1:0]: CMP4 输入 P 端 IO 通道选择
该位只在 CMP4 中且 INP_SEL 为 0 时有效
00: CH0_INP
01: CH1_INP
10: CH2_INP
INP_SEL[2:0]:P 端输入源选择
000:CMP4_GPIO, CMP5_GPIO
001:PGA0_out
010:PGA1_out
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rw
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RX32F103xB
7:6
5
4
3:0
011:保留
100:OPA3_out
INM_SEL[1:0]:N 端输入源选择
00: CMP4_GPIO, CMP5_GPIO
01: CRV
CRV_SEL:比較器外部考電壓源選擇
1: AVCC
0: VBGP(1.2V)
CRV_EN:比较器外部参考电压使能位
1: 比较器外部参考电压使能
0: 比较器外部参考电压禁止
注意: CMP4 和 CMP5 的 CRV_EN 為相同訊號,當 CMP4 的 CRV_EN 寫入 1,CMP5 的 CRV_EN 也會變成 1
CRV_VREF[3:0]:比较器外部参考电压选择:
0000b: 1/20 AVCC
0001b: 2/20 AVCC
0010b: 3/20 AVCC
0011b: 4/20 AVCC
0100b: 5/20 AVCC
0101b: 6/20 AVCC
0110b: 7/20 AVCC
0111b: 8/20 AVCC
1000b: 9/20 AVCC
1001b: 10/20 AVCC
1010b: 11/20 AVCC
1011b: 12/20 AVCC
1100b: 13/20 AVCC
1101b: 14/20 AVCC
1110b: 15/20 AVCC
1111b: 16/20 AVCC
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RX32F103x8
RX32F103xB
CMP 调节寄存器(CMPx_CAL)
CMPx_CAL(CMP 调节寄存器)
Reset Value:0X0708
31
30
29
28
基地址:
0x40014030,0x40014040
偏移地址: 08H
27
26
25
24
23
22
21
20
19
18
17
16
7
6
5
CAL_N
EN
rw
4
CAL_P
EN
rw
3
2
1
0
保留
15
14
13
12
11
rw
4
3:0
9
8
CAL_NADJ[3:0]
保留
位
31:12
11:8
7:6
5
10
rw
rw
保留
rw
CAL_PADJ[3:0]
rw
rw
rw
rw
功能描述
保留位,硬件强制为 0
CAL_NADJ[3:0]: CMP NMOS offset 调节(default:0111)
保留位,硬件强制为 0
CAL_NEN:CMP NMOS 校正使能位
1:CMP NMOS 校正使能
0:CMP NMOS 校正禁止
CAL_PEN:CMP PMOS 校正使能位
1:CMP PMOS 校正使能
0:CMP PMOS 校正禁止
CAL_PADJ[3:0]:CMP PMOS offset 调节(default:1000)
CMP 数据寄存器(CMPx_DAT)
CMPx_DAT(数据寄存器)
Reset Value:0X0000
31
30
29
28
基地址:
0x40013800,0x40004400,0x40004800
偏移地址: 0CH
27
26
25
24
23
22
21
20
19
18
17
16
7
6
5
4
3
2
OUTP2
r
1
OUTP1
r
0
OUTP0
r
保留
15
14
13
12
11
10
9
8
保留
位
31:3
2
1
0
功能描述
保留位,硬件强制为 0
OUTP3:正向 IO 输入为 CH2_INP(IOPSEL=10)时输出的结果存储位
该位只在 CMP4 中有效
1:高输出
0:低输出
OUTP2:正向 IO 输入为 CH1_INP(IOPSEL=01)时输出的结果存储位
该位只在 CMP4 中有效
1:高输出
0:低输出
OUTP1:正向 IO 输入为 CH0_INP(IOPSEL=00)时输出的结果存储位
该位只在 CMP4 中有效
1:高输出
0:低输出
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RX32F103x8
RX32F103xB
CMP 寄存器地址映像
复位值
0 1 1 1
CMPx_DAT
保留
复位值
EN
MODE
[1:0]
POL
CRV_SRC
CRV_EN
CRV_SEL
[3:0]
LOCK
OUT
INM_SEL
[1:0]
[3:0]
CAL_PADJ
CAL_NEN
CAL_PEN
保留
0 0 1 0 0 0
OUTP2
OUTP1
OUTP0
复位值
[3:0]
CMPx_CAL
保留
0x0c
0 0 0 0
0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0
CAL_NADJ
0x08
保留
INP_SEL
[2:0]
CMPx_CR2
CMP4_IOP
SEL[1:0]
0x04
保留
0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0
CMP4_IOM
SEL[1:0]
复位值
OFLT
[2:0]
保留
FIF
RIF
FIE
RIE
RESV
CMPx_CR1
RHYST
[1:0]
23 22 21 20 19 18 17 16 15 14 13 12 11 10 9 8 7 6 5 4 3 2 1 0
BLANKING
[2:0]
0x00
寄存器
FHYST
[1:0]
偏移
0 0 0
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RX32F103x8
RX32F103xB
10 OPAMP 运算放大器
运算放大器简介
芯片内嵌三个运算放大器,每个运算放大器的输入和 OPA_3 的输出都连接到 I/O ,每个运算放大器的
输出通过共享 I/O 可以 与ADC ,CMP 比较器相连。
PGA0/1_INP
+
CMP4/5
PGA0/1
PGA0/1_INM
ADC
EN
Gain
OPHD
OPA3_INP
PAD OPA3_OUT
+
CMP4/5
OPA3
OPA3_INM
ADC
EN
OPHD
运算放大器主要特征
轨对轨输入/输出
OPA_3 输出连接到 I/O 上
DC offset cancel
运算放大器寄存器
运算放大器包括两个个控制寄存器。
OPA 控制寄存器(OPA_CR)
OPA_CR(OPA 控制寄存器)
Reset Value:0X0000
31
30
29
28
基地址:
0x40015000
偏移地址: 00H
27
26
25
24
23
22
21
20
19
4
PGA1_
EN
rw
3
18
17
16
保留
15
14
保留
13
12
OPA3_
EN
rw
11
10
9
保留
8
7
6
5
PGA1_Gain
[2:0]
rw
rw
rw
2
1
PGA0_Gain
[2:0]
rw
rw
rw
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0
PGA0_
EN
rw
RX32F103x8
RX32F103xB
位
31:13
12
功能描述
保留位,硬件强制为 0
OPA3_EN:OPA3 使能位
1:OPA3 使能
0:OPA3禁止
11:8
保留位,硬件强制为0
7:5
PGA1_Gain[2:0]:PGA1 放大倍率选择
000b:1X
001b:2X
010b:4X
011b:8X
100b:16X
101b:24X
110b:32X
110b:保留
PGA1_EN:PGA1使能位
1:PGA1使能
0:PGA1禁止
PGA0_Gain[2:0]: PGA0 放大倍率选择
000b:1X
001b:2X
010b:4X
011b:8X
100b:16X
101b:24X
110b:32X
110b:保留
PGA0_EN:PGA0使能位
1:PGA0使能
0:PGA0禁止
4
3:1
0
OPA 控制寄存器 2(OPA_CR2)
OPA_CR2(OPA 控制寄存器 2)
Reset Value:0X0000
31
30
29
28
基地址:
0x40015000
偏移地址: 04H
27
26
25
24
23
22
21
20
19
18
17
16
7
6
5
4
3
2
1
0
保留
15
14
13
12
保留
位
31:12
11
10
9
8
7:0
11
OPHD3
rw
10
保留
9
OPHD1
rw
8
OPHD0
rw
保留
功能描述
保留位,硬件强制为 0
OPHD3: OPA3高驱动功能使能位
1: 高驱动功能使能
0: 高驱动功能禁止
保留位,硬件强制为0
OPHD1: PGA1高驱动功能使能位
1: 高驱动功能使能
0: 高驱动功能禁止
OPHD0: PGA0高驱动功能使能位
1: 高驱动功能使能
0: 高驱动功能禁止
保留位,硬件强制为0
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RX32F103x8
RX32F103xB
OPA 控制寄存器 3(OPA_CR3)
OPA_CR3(OPA 控制寄存器 3)
Reset Value:0X0000
31
30
29
28
基地址:
0x40015000
偏移地址: 08H
27
26
25
24
23
22
21
20
19
18
17
16
7
6
5
4
3
2
PGA1_
CAL
rw
1
PGA0_
CAL
rw
0
OPA_C
AL
rw
保留
14
13
12
11
10
9
8
PGA1_Test
保留
rw
位
31:7
6:5
保留位,硬件强制为 0
PGA1_Test: PGA1测试模式
4:3
00: 关闭测试模式
01: 开启
PGA0_Test:PGA0测试模式
2
00: 关闭测试模式
01: 开启
PGA1_CAL:PGA1校正使能
1
0:关闭
1:校正使能
PGA0_CAL:PGA0校正使能
0
0:关闭
1:校正使能
OPA_CAL:OPA校正使能
PGA0_Test
rw
rwr
rw
功能描述
0:关闭
1:校正使能
OPA 寄存器地址映像
OPA_CR
31 30 29 28 27 26 25 24 23 22 21 20 19 18 17 16 15 14 13 12 11 10 9 8 7 6 5 4 3 2 1 0
保留
复位值
004H
OPA_CR2
0
保留
OPA_CR3
保留
复位值
PGA0
_
Gain
[2:0
]
0 0 0 0 0 0 0 0
OP
OP OP
HD 保 HD HD
3 留 1 0
0
0 0
复位值
008H
保留
PGA1
_
Gain
[2:0
]
PGA0_EN
000H
寄存器
PGA1_EN
偏移
OPA3_EN
15
保留
PG PG OP
PGA1 PGA0
A1 A0 A_
_Tes _Tes
_C _C CA
t
t
AL AL L
0 0 0 0 0 0 0
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RX32F103x8
RX32F103xB
11 GPIO
GPIO alternate function low register (GPIOx_AFRL)
(x = A..D)
地址偏移:0x20
复位值:0x0000 0000
31
30
29
28
27
AFR7[3:0]
rw
15
rw
14
rw
13
rw
rw
位31:0
25
24
23
AFR6[3:0]
rw
12
rw
11
AFR3[3:0]
rw
26
rw
10
rw
9
rw
rw
rw
21
20
19
AFR5[3:0]
rw
8
rw
7
AFR2[3:0]
rw
22
rw
6
rw
5
rw
rw
rw
17
16
AFR4[3:0]
rw
4
rw
3
AFR1[3:0]
rw
18
rw
2
rw
1
rw
0
AFR0[3:0]
rw
rw
rw
rw
rw
19
18
17
16
AFRy[3:0]: Alternate function selection for port x pin y (y = 0..7)
These bits are written by software to configure alternate function I/Os
AFRy selection:
0000: AF0
0001: AF1
0010: AF2
0011: AF3
0100: AF4
0101: AF5
0110: AF6
0111: AF7
1xxx: Reserved
GPIO alternate function high register (GPIOx_AFRH)
(x = A..D)
地址偏移:0x24
复位值:0x0000 0000
31
30
29
28
27
AFR15[3:0]
rw
15
rw
14
rw
13
rw
rw
25
24
23
AFR14[3:0]
rw
12
rw
11
AFR11[3:0]
rw
26
rw
10
rw
9
rw
rw
rw
21
20
AFR13[3:0]
rw
8
rw
7
AFR10[3:0]
rw
22
rw
6
rw
5
AFR12[3:0]
rw
4
rw
3
AFR9[3:0]
rw
rw
rw
rw
rw
2
rw
1
rw
0
AFR8[3:0]
rw
rw
rw
rw
rw
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RX32F103x8
RX32F103xB
位31:0
AFRy[3:0]: Alternate function selection for port x pin y (y = 8..15)
These bits are written by software to configure alternate function I/Os
AFRy selection:
0000: AF0
0001: AF1
0010: AF2
0011: AF3
0100: AF4
0101: AF5
0110: AF6
0111: AF7
1xxx: Reserved
GPIO port pull-up/pull-down register (GPIOx_PUPDR)
(x = A..D)
地址偏移:0x28
复位值:0x0000 0000
31
30
PUPDR15
[1:0]
rw
rw
15
14
PUPDR7
[1:0]
rw
rw
位31:0
29
28
PUPDR14
[1:0]
rw
rw
13
12
PUPDR6
[1:0]
rw
rw
27
26
PUPDR13
[1:0]
rw
rw
11
10
PUPDR5
[1:0]
rw
rw
25
24
PUPDR12
[1:0]
rw
rw
9
8
PUPDR4
[1:0]
rw
rw
23
22
PUPDR11
[1:0]
rw
rw
7
6
PUPDR3
[1:0]
rw
rw
21
20
PUPDR10
[1:0]
rw
rw
5
4
PUPDR2
[1:0]
rw
rw
19
18
PUPDR9
[1:0]
rw
rw
3
2
PUPDR1
[1:0]
rw
rw
17
16
PUPDR8
[1:0]
rw
rw
1
0
PUPDR0
[1:0]
rw
rw
PUPDRy[1:0]: Port x configuration bits (y = 0..15)
These bits are written by software to configure the I/O pull-up or pull-down
PUPDRy selection:
00: No pull-up, pull-down
01: Pull-up
10: Pull-down
11: Reserved
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RX32F103x8
RX32F103xB
AFIO remap & pupd option register (AFIO_OPT)
地址偏移:0x18
复位值:0x0000 0000
31
30
29
28
27
26
25
24
23
22
21
20
19
18
7
6
5
4
3
2
17
16
保留
15
14
13
12
11
10
9
8
保留
1
0
PUPD
OPT
rw
位31:2
保留,硬件强制为0
位1
PUPDOPT : PUPD option
MAP
OPT
rw
0:IO pull high or pull down維持F103設置
1:IO pull high/pull down改參考PUPDR
pull high/down不限制在input有效
位0
MAPOPT : Remap option
0: IO復用配置維持F103
1: IO復用配置改參考GPIO的AFRL,AFRH
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RX32F103x8
RX32F103xB
PB10、PB11、PB12 无 5V tolerant
AFIO 复用表
Pin
64
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31
32
33
34
35
36
37
38
39
40
41
42
43
44
45
46
47
48
49
50
51
52
53
54
55
56
57
58
59
60
61
62
63
64
AF0
AF1
AF2
AF3
AF4
AF5
AF6
AF7
Analog
TAMPER-RTC
OSC32_IN
OSC32_OUT
OSC_IN
OSC_OUT
CMP5_P
CMP5_N
ADC12_IN10
ADC12_IN11
ADC12_IN12
ADC12_IN13
WKUP
TIM2_CH1_ETR
TIM2_CH2
TIM2_CH3
TIM2_CH4
USART2_CTS
USART2_RTS
USART2_TX
USART2_RX
USART2_CK
TIM3_CH1
TIM3_CH2
TIM1_BKIN
TIM1_CH1N
TIM3_CH3
TIM3_CH4
TIM1_CH2N
TIM1_CH3N
TIM2_CH3
TIM2_CH4
TIM8_ETR
SPI1_NSS
SPI1_SCK
SPI1_MISO
SPI1_MOSI
TIM8_BKIN
TIM8_CH1N
TIM8_CH2N
TIM8_CH3N
CMP4_OUT CMP5_OUT
USART3_TX
USART3_RX
TIM1_BKIN USART3_CK
TIM1_CH1N USART3_CTS
TIM1_CH2N USART3_RTS
TIM1_CH3N
SPI2_NSS
SPI2_SCK
SPI2_MISO
SPI2_MOSI
CMP4_2P
CMP4_2N
I2C2_SMBAI
OPA3_P
CANRX
CANTX
SPI1_NSS
TIM1_CH5
TIM4_CH3
TIM4_CH4
PGA0_P
PGA0_N
CMP4_0P
CMP4_0N
OPA3_OUT
OPA3_N
TIM1_CH1 USART1_CK
TIM1_CH2 USART1_TX
TIM1_CH3 USART1_RX
TIM1_CH4 USART1_CTS
TIM1_ETR USART1_RTS
TIM3_ETR
TIM2_CH2
TIM3_CH1
TIM3_CH2
TIM4_CH1
TIM4_CH2
ADC12_IN4
ADC12_IN5
ADC12_IN6
ADC12_IN7
ADC12_IN14
ADC12_IN15
ADC12_IN8
ADC12_IN9
TIM8_CH1
TIM8_CH2
TIM8_CH3
TIM8_CH4
TIM2_CH1_ETR
TRACESWO
CMP4_1P
CMP4_1N
PGA1_P
PGA1_N
I2C2_SCL
I2C2_SDA
TIM3_CH1
TIM3_CH2
TIM3_CH3
TIM3_CH4
MCO
ADC12_IN0
ADC12_IN1
ADC12_IN2
ADC12_IN3
USART3_TX
USART3_RX
USART3_CK
TIM8_CH5
SPI1_SCK
SPI1_MISO
SPI1_MOSI
USART1_TX
USART1_RX
I2C1_SMBAI
I2C1_SCL
I2C1_SDA
I2C1_SCL
I2C1_SDA
CANRX
CANTX
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RX32F103x8
RX32F103xB
12 AC/DC
12.1 Absolute maximum ratings
Voltage characteristics
Symbol
Ratings
Min
Max
VDD VSS
External main supply voltage (including VDDA and
VDD)(1)
-0.3
6.5
Variations between different VDD power pins
VSS0.3
VSS0.3
-
Variations between all the different ground pins
-
Input voltage on five volt tolerant pin
VIN
(2)
Input voltage on any other pin
|△VDDx|
|VSSX VSS|
VESD(HBM)
Electrostatic discharge voltage (human body model)
Unit
V
5.5
VDD+0.3
50
mV
50
3
KV
1. All main power (VDD, VDDA) and ground (VSS, VSSA) pins must always be connected to the
external power supply, in the permitted range.
2. VIN maximum must always be respected. Refer to Current characteristics for the maximum
allowed injected current values.
Current characteristics
Symbol
Ratings
IVDD
Total current into VDD/VDDA power lines (source)(1)
IVSS
Total current out of VSS ground lines (sink)(1)
Output current sunk by any I/O and control pin
IIO
Output current source by any I/Os and control pin
IINJ(PIN)(2)
SIINJ(PIN)
Injected current on five volt tolerant pins
(3)
(4)
Injected current on any other pin
Total injected current (sum of all I/O and control
pins)(5)
Condition
Max.
VCC=3.3V
150
VCC=5V
150
VCC=3.3V
150
VCC=5V
150
VCC=3.3V
8
VCC=5V
30
VCC=3.3V
-8
VCC=5V
-25
Unit
mA
-5/+0
±5
±25
1. All main power (VDD, VDDA) and ground (VSS, VSSA) pins must always be connected to the
external power supply, in the permitted range.
2. Negative injection disturbs the analog performance of the device. See note 2. on page 76.
3. Positive injection is not possible on these I/Os. A negative injection is induced by VINVDD while a negative injection is induced by VIN 8 MHz.
Maximum current consumption in Sleep mode, code running from Flash or RAM
Symbol
IDD
Parameter
Supply current
in Sleep mode
Conditions
fHCLK
External clock(2), all peripherals
enabled,VCC=3.3V
External clock(2), all peripherals
disabled,VCC=3.3V
External clock(2), all peripherals
enabled,VCC=5V
External clock(2), all peripherals
disabled,VCC=5V
Max(1)
8 MHz
8 MHz
Unit
TA =
25°C
TA =
105 °C
4096
4007
TA=125
℃
4118
4098
4015
4111
4048.6
4198
4294
4062.5
4229
4286
uA
1. Based on characterization, tested in production at VDD max, fHCLK max with peripherals enabled.
2. External clock is 8 MHz and PLL is on when fHCLK > 8 MHz.
Typical and maximum current consumptions in Stop and Standby modes
Symbol
IDD
Parameter
Supply current
in Stop mode
Supply current
in Standby
mode
Typ(1)
Conditions
Regulator in Run mode, lowspeed and high-speed internal
RC oscillators and high-speed
oscillator OFF (no
independent watchdog)
Regulator in Low-power
mode, lowspeed and highspeed internal RC oscillators
and high-speed oscillator OFF
(no independent watchdog)
Low-speed internal RC
oscillator and independent
watchdog OFF, lowspeed
oscillator and RTC
OFF(VCC=3.3V)
Low-speed internal RC
oscillator and independent
MAX
VCC =
3.3V
VCC =
5.0V
TA =
常温
33
33
11
Unit
TA =
125 °C
-
TA
=105
°C
-
13
-
-
-
-
-
3.25
19.63
52.26
-
-
4.08
26.02
67.51
-
µA
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RX32F103xB
watchdog OFF, lowspeed
oscillator and RTC
OFF(VCC=5V)
1. Typical values are measured at TA = 25 °C.
2. Guaranteed based on test during characterization.
Peripheral current consumption
Peripherals
µA/MHz
APB1 (up to 36 MHz)
DMA1
65.271
TIM2
30.146
TIM3
30.104
TIM4
30.236
SPI2
58.701
USART2
56.806
USART3
56.771
I2C1
60.368
I2C2
60.299
CAN1
107.049
WWDG
21.549
PWR
20.938
BKP
20.813
Peripheral current consumption (continued)
Peripherals
APB2 (up to 72 MHz)
µA/MHz
3.75
13.878
13.330
13.733
14.035
15.507
5.743
24.146
15.757
5.479
5.260
20.795
19.351
APB2-Bridge
GPIOA
GPIOB
GPIOC
GPIOD
SPI1
USART1
TIM1
TIM8
OPA
CMP
ADC1(1)
ADC2(1)
1. Specific conditions for measuring ADC current consumption: f HCLK = 56 MHz, f APB1 = f HCLK /2, f APB2
=f HCLK , f ADCCLK = f APB2/4 , When ADON bit in the ADCx_CR2 register is set to 1, a current consumption
ofanalog part equal to 0.65 mA must be added for each ADC.
12.7 External clock
High-speed external user clock characteristics
Symbol
Parameter
Conditions
Min
Typ
Max
Unit
fHSE_ext
User external clock source
frequency(1)
OSC_IN input pin high level
voltage
OSC_IN input pin low level
VCC=3.3V
1
8
25
MHz
VHSEH
VHSEL
0.7VDD
VDD
VSS
0.3VDD
V
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RX32F103xB
voltage
tw(HSE)
tw(HSE)
OSC_IN high or low time(1)
16
-
-
ns
tr(HSE) tf(HSE)
OSC_IN rise or fall time(1)
-
-
20
Cin(HSE)
OSC_IN input capacitance(1)
-
-
-
55
pF
DuCy(HSE)
Duty cycle
-
45
-
55
%
IL
OSC_IN Input leakage current
VDD=3.3V
-
-
±1
µA
±15
µA
VDD=5V
1. Guaranteed by design.
HSE 4-16 MHz oscillator characteristics(1)(2)
Symbol
Parameter
Conditions
Min
Typ
Max
Unit
fOSC_IN
Oscillator frequency
-
4
8
16
MHz
RF
Feedback resistor
-
-
1000
-
KΩ
C
Recommended load
capacitance versus
equivalent serial resistance
of the crystal (RS)(3)
HSE driving current
RS = 40 Ù
-
15
33
pF
-
-
1
mA
15
-
-
4
i2
gm
Oscillator transconductance
8MHz,VDD = 3.3
V
8MHz,VDD = 5V
Startup
tSU(HSE)(4)
startup time
VDD is stabilized
1.09
-
mA/V
ms
1. Resonator characteristics given by the crystal/ceramic resonator manufacturer.
2. Guaranteed based on test during characterization.
3. The relatively low value of the RF resistor offers a good protection against issues resulting from use in a humid
environment, due to the induced leakage and the bias condition change. However, it is recommended to take this
point into account if the MCU is used in tough humidity conditions.
4. tSU(HSE) is the startup time measured from the moment it is enabled (by software) to a stabilized 8 MHz
oscillation is reached. This value is measured for a standard crystal resonator and it can vary significantly
with the crystal manufacturer
LSE oscillator characteristics (fLSE = 32.768 kHz)(1)(2)
Symbol
Parameter
Conditions
Min
Typ
Max
Unit
RF
Feedback resistor
-
-
10
-
MΩ
C
Rs=30k
-
-
15
pF
I2
Recommended load
capacitance versus equivalent
serial resistance of the crystal
(RS)
LSE driving current
VDD = 3.3 V
-
-
1.4
µA
gm
Oscillator transconductance
-
5
-
-
µA/V
Unit
LSE oscillator characteristics (fLSE = 32.768 kHz)(1) (2) (continued)
Symbol
Parameter
Conditions
-
Min
Typ
Max
tSU(LSE)(3)
Startup time
VDD is
stabilized=3.3V
VDD is stabilized=5V
TA = 25
°C
-
1.5
-
-
1.5
-
s
1. Guaranteed based on test during characterization.
2. tSU(LSE) is the startup time measured from the moment it is enabled (by software) to a stabilized 32.768 kHz
oscillation is reached. This value is measured for a standard crystal and it can vary significantly with the crystal
manufacturer
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12.8 Internal clock source
High-speed internal (HSI) RC oscillator
Symbol
Parameter
Conditions
Min
Typ
Max
Unit
fHSI
Frequency
-
-
8
-
MHz
DuCy(HSI)
Duty cycle
-
41
-
43
ACCHSI
Accuracy of the HSI
oscillator
User-trimmed with the RCC_CR
register(2)
FactoryTA = –40
calibrated(4)(5)
to 125 °C
-
-
-
1(3)
-2
-
1.5
%
-
0.2
-
µs
450
µA
tsu(HSI)(4)
HSI oscillator startup time
IDD(HIS)(4)
HSI oscillator power
consumption
-
LSI oscillator characteristics(1)
Symbol
Parameter
Min
Typ
Max
Unit
-
40
-
kHz
fLSI(2)
Frequency
tsu(LSI)
LSI oscillator startup time
IDD(LSI)(3)
LSI oscillator power consumption
µs
1
µA
Low-power mode wakeup timings
Symbol
Parameter
Voltage
min
max
Unit
tWUSLEEP
Wakeup from Sleep
mode
3.3V
8.22
8.38
µs
5V
8.22
8.34
Wakeup from Stop
mode (regulator in run
mode)
Wakeup from Standby
mode
3.3V
16.19
16.39
5V
16.19
16.39
3.3V
563
569
5V
543
569
tWUST (1)
tWUSTDBY
1. VDD = 3.3 V, TA = –40 to 105 °C unless otherwise specified.
2. Refer to application note AN2868 “STM32F10xxx internal RC oscillator (HSI) calibration”
3. Guaranteed by design.
4. Guaranteed based on test during characterization.
5. The actual frequency of HSI oscillator may be impacted by a reflow, but does not drift out of the specified range.
12.9 PLL characteristics
Symbol
Parameter
Value
Min(1)
Typ
Max(1)
Unit
PLL input clock(2)
1.25
8
25
MHz
PLL input clock duty cycle
40
-
60
%
16
-
72
MHz
tLOCK
PLL multiplier output
clock
PLL lock time
-
-
200
µs
Jitter
Cycle-to-cycle jitter
-
-
400
ps
fPLL_IN
fPLL_OUT
1. Guaranteed based on test during characterization.
2. Take care of using the appropriate multiplier factors so as to have PLL input clock values compatible with the
range defined by f PLL_OUT
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12.10 Memory characteristics
Symbol
Parameter
tprog
Byte programming
time
Sector erase time
tERASE
Chip erase time
Conditions
Min(1)
Typ
Max(1)
6
-
7.5
µs
TA = –40 to +105 °C
4
-
5
ms
TA = –40 to +105 °C
30
-
40
Min(1)
-
Typ
-
Max(1)
3.5
-
-
3.5
-
1.5
0.5
3uA@85 °C
15uA@125 °C
TA
= –40 to +105 °C
Unit
1. Guaranteed by design.
Flash memory characteristics (continued)
Symbol
IDD
Parameter
Supply current
Conditions
Read mode 40 MHz ,
VDD = 1.35 ~ 1.65V
Write / Erase modes VDD =
1.35 ~ 1.65V
Standby Current
Deep Standby Current
Unit
mA
µA
1. Guaranteed by design.
Flash memory endurance and data retention
Symbol
Parameter
Conditions
Value
NEND
tRET
Endurance
Data retention
TA = –40 to +105 °C
TA = 25 °C
TA = 85 °C
TA = 125 °C
Min(1)
20
100
20
10
Typ
-
Unit
Max
-
kcycles
Years
1. Guaranteed based on test during characterization.
12.11 EMC characteristics
EMS characteristics
Symbol
VFESD
Parameter
Voltage limits to be applied on any I/O pin to
induce a functional disturbance
VEFTB
Fast transient voltage burst limits to be applied
through 100 pF on VDD and VSS pins to
induce a functional disturbance
Conditions
VDD = 5 V, TA = +25 °C, fHCLK
= 72 MHz conforms to IEC 610004-2
VDD = 5V, TA = +25 °C, fHCLK
= 72 MHz conforms to IEC
61000-4-4
Level/ Class
IEC3
IEC3
EMI characteristics
Symbol
Parameter
Conditions
Monitored
frequency
band
Max vs.
[fHSI/fHCLK]
72 MHz
Unit
SEMI
Peak level
VDD = 3.3 V, TA = 26
°C,55%RH,LQFP64 package
compliant with IEC 61967-2
0.1 to 30 MHz
12
dBµV
30 to 300 MHz
24
300 MHz to
1GHz
SAE EMI Level
18
L8e
-
0.1 to 30 MHz
18
dBµV
30 to 300 MHz
30
300 MHz to
1GHz
24
VDD = 5 V, TA = 26
°C,55%RH,LQFP64 package
compliant with IEC 61967-2
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SAE EMI Level
I6c
-
12.12 electrical sensitivity
Symbol
Ratings
Conditions
Class
VESD(HBM)
Electrostatic discharge voltage
(human body model)
Class 2
VESD(CDM)
Electrostatic discharge voltage
(charge device model)
TA = +25 °C
conforming to JESD22A114
TA = +25 °C
conforming to ANSI/ESD
STM5.3.1
Maximum
value(1)
3000
Class C5
1200
Unit
V
1. Guaranteed based on test during characterization
Electrical sensitivities
Symbol
Parameter
Conditions
Class
Maximum
value(1)
Unit
LU
Static latch-up class
TA = +105 °C conforming
to JESD78A
Level A
±200
mA
12.13 IO port chracteristics
Symbol
VIL
VIH
Vhys
Ilkg
Parameter
Low level input
voltage
High level input
voltage
All IO Schmitt
trigger voltage
hysteresis(4)
Input leakage
current(6)
Conditions
All I/Os
except
BOOT0,
DESIGN
All I/Os
except
BOOT0,
VDD=3.3V
All I/Os
except
BOOT0,
VDD=5V
All I/Os
except
BOOT0,
DESIGN
All I/Os
except
BOOT0,
VDD=3.3V
All I/Os
except
BOOT0,
VDD=5V
-
VIN=VDD
VIN = 0
Min
-
Typ
-
Max
0.455×(VDD-2)+1.134(1)
-
-
1.55
Unit
V
2.27
0.413×(VDD2)+0.922
1.57
-
-
100
-
-
mV
-
-
±1
±1
µA
2.31
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RPU
RPD
CIO
Weak pull-up
equivalent
resistor(7)
Weak pull-down
equivalent
resistor(7)
I/O pin capacitance
VDD=3.3V
-
46
VDD=5V
46
VDD=3.3V
VDD=5V
46
46
-
-
7
-
kΩ
-
pF
1. Data based on design simulation.
2. Tested in production.
3. FT = Five-volt tolerant. In order to sustain a voltage higher than V DD +0.3 the internal pull-up/pull-down
resistors must be disabled.
4. Hysteresis voltage between Schmitt trigger switching levels. Guaranteed based on test during characterization.
5. With a minimum of 100 mV.
6. Leakage could be higher than max. if negative current is injected on adjacent pins.
7. Pull-up and pull-down resistors are designed with a true resistance in series with a switchable PMOS/NMOS.
This' PMOS/NMOS contribution to the series resistance is minimum (~10% order) .
Output voltage characteristics
Symbol
VOL(1)
VOH(3)
VOL(1)(4)
VOH(3)(4)
Parameter
Output low level voltage for
an I/O pin when 1 pins are
sunk at same time
Output high level voltage
for an I/O pin when1 pins
are sourced at same time
Output low level voltage for
an I/O pin when 1 pins are
sunk at same time
Output high level voltage
for an I/O pin when 1 pins
are sourced at same time
Conditions
VDD=3.3V,IIO = -8 mA
Min
-
Max
0.1
Unit
V
0.2
VDD=5V,IIO = -8 mA
VDD=3.3V,Iio = +8 mA
2.8
VDD=5V,Iio = +8 mA
4.5
VDD=3.3V Iio = -20 Ma
-
-
0.8
0.6
VDD=5V,IIO = -20 mA
VDD=3.3V,IIO = +20
mA
2.2
VDD=5V,IIO = +20 mA
4
-
I/O AC characteristics(1)
MODEx[1:0]
bit value(1)
10
Symbol
Parameter
Conditions
Min
Max
Unit
fmax(IO)out
Maximum
frequency(2)
CL = 50pF,
VDD = 3.3V
CL = 50pF,
VDD =5V
CL = 50 pF,
VDD = 3.3V
CL = 50 pF,
VDD =5V
CL = 50 pF,
VDD = 3.3V
CL = 50 pF,
VDD = 5V
CL = 50 pF,
VDD = 3.3V
CL = 50 pF,
VDD = 5V
CL = 50 pF,
VDD = 3.3V
CL = 50 pF,
VDD = 5V
CL = 50 pF,
-
2
MHz
-
2
-
15
tf(IO)out
tr(IO)out
01
fmax(IO)out
tf(IO)out
tr(IO)out
Output high to low
level fall time
Output low to high
level rise time
Maximum
frequency(2)
Output high to low
level fall time
Output low to high
ns
10
20
-
10
-
10
-
10
-
8
MHz
ns
6
-
9
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level rise time
11
Fmax(IO)out
Maximum
frequency(2)
tf(IO)out
Output high to low
level fall time
tr(IO)out
-
tEXTIpw
Output low to high
level rise time
Pulse width of
external signals
detected by the EXTI
controller
VDD = 3.3V
CL = 50 pF,
VDD = 5V
CL =30 pF,
VDD = 3.3V
CL =30 pF,
VDD =5V
CL = 50 pF,
VDD = 3.3 V
CL = 50 pF,
VDD =5V
CL =30 pF,
VDD = 3.3V
CL =30 pF,
VDD =5V
CL = 50 pF,
VDD = 3.3 V
CL = 50 pF,
VDD =5V
CL =30 pF,
VDD = 3.3V
CL =30 pF,
VDD =5V
CL = 50 pF,
VDD = 3.3 V
CL = 50 pF,
VDD =5V
-
6
-
30
MHz
50
-
30
-
30
4
-
4
-
5
-
4
6
-
4
-
6
-
5
10
-
ns
ns
ns
12.14 NRST
Symbol
Parameter
Conditions
Min
Typ
Max
Unit
VIL(NRST)(1)
NRST Input low level
voltage
VDD=5V
-0.5
-
2.27
V
VDD=3.3V
–0.5
-
1.5
VIH(NRST) (1)
NRST Input high level
voltage
VDD=5V
2.46
-
VDD+0.5
VDD=3.3V
1.72
VDD=5V
-
0.19
-
VDD=3.3V
-
0.22
-
Vhys(NRST)
RPU
VF(NRST)(1)
VNF(NRST)
NRST Schmitt trigger
voltage hysteresis
Weak pull-up equivalent
resistor(2)
NRST Input filtered pulse
NRST Input not filtered
pulse
V
kΩ
46
-
-
-
100
ns
-
200
-
-
ns
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12.15 TIM Timer
Symbol
Parameter
Conditions
Min
Max
Unit
tres(TIM)
Timer resolution time
-
1
-
tTIMxCLK
fTIMxCLK =
72 MHz
-
13.9
-
ns
0
fTIMxCLK/2
MHz
fTIMxCLK =
72 MHz
-
0
36
MHz
-
16
bit
-
1
65536
tTIMxCLK
fTIMxCLK =
72 MHz
-
0.0139
910
µs
-
65536 × 65536
tTIMxCLK
fTIMxCLK =
72 MHz
-
59.6
s
fEXT
Timer external clock
frequency on CH1 to CH4
ResTIM
Timer resolution
tCOUNTER
16-bit counter clock period
when internal clock is
selected
tMAX_COUNT
Maximum possible count
12.16 Communications interfaces
I2C characteristics
Standard mode I2C(1)
Min
Max
4.7
4
250
3450(3)
1000
Fast mode I2C(1)
Min
Max
1.3
0.6
100
900(3)
300
Symbol
Parameter
tw(SCLL)
tw(SCLH)
tsu(SDA)
th(SDA)
tr(SDA) tr(SCL)
SCL clock low time
SCL clock high time
SDA setup time
SDA data hold time
SDA and SCL rise time
tf(SDA) tf(SCL)
th(STA)
SDA and SCL fall time
Start condition hold time
4
300
-
0.6
300
-
ns
tsu(STA)
Repeated Start condition
setup time
Stop condition setup time
Stop to Start condition time
(bus free)
Capacitive load for each bus
line
Pulse width of spikes that
are suppressed by the analog
filter
4.7
-
0.6
-
µs
4
4.7
-
0.6
1.3
-
ms
ms
-
400
-
400
pF
0
50
0
50
ns
tsu(STO)
tw(STO:STA)
Cb
tSP
Unit
µs
1.Deaign Guarantee
SCL frequency (fPCLK1= 36 MHz.,VDD_I2C = 3.3 V、5V)(1)(2)
fSCL (kHz)
I2C_CCR value
RP = 4.7 kΩ
400
0x801E
300
0x8028
200
0x803C
100
0x00B4
50
0x0168
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20
0x0384
1. RP = External pull-up resistance, fSCL = I2C speed,
2. For speeds around 200 kHz, the tolerance on the achieved speed is of ±5%. For other speed ranges, the tolerance
on the achieved speed ±2%. These variations depend on the accuracy of the external components used to design the
application.
SPI characteristics
Symbol
fSCK
1/tc(SCK)
tr(SCK)
tf(SCK)
Min SCK H/L
tsu(NSS)(1)
th(NSS)(1)
tw(SCKH)(1)
tw(SCKL)(1)
tsu(MI)(1)
tsu(SI)(1)
th(MI)(1)
th(SI)(1)
ta(SO)(1)
Parameter
SPI clock frequency
Conditions
Master mode
Slave mode
Capacitive load: C =
30 pF
Master / Slave mode
Slave mode
Slave mode
Master mode, fPCLK
= 36 MHz, presc = 4
SPI clock rise and fall time
Mini SCK High / Low width
NSS setup time
NSS hold time
SCK high and low time
Data input setup time
Master mode
Slave mode
Master mode
Slave mode
Slave mode, fPCLK =
20 MHz
Slave mode
Slave mode (after
enable edge)
Master mode (after
enable edge)
Slave mode (after
enable edge)
Master mode (after
enable edge)
Data input hold time
Data output access time
tdis(SO)(1)
tv(SO) (1)
Data output disable time
Data output valid time
tv(MO)(1)
Data output valid time
th(SO)(1)
Data output hold time
th(MO)(1)
Min
-
Max
9
9
4
46
4tPCLK
2tPCLK
50
60
5
5
17
6
0
3tPCLK
3tPCLK
-
4tPCLK
25
-
5
4
-
-1
-
Unit
MHz
ns
ns
ns
1.Deaign Guarantee
USART Maximum Running Baud Rate
Interface
USART1
USART2 / USART3
Maximum Baud Rate
4.5 MHz
2.25 MHz
12.17 CAN
Refer to I/O current injection characteristics for more details on the input/output alternate function
characteristics (CAN_TX and CAN_RX)
Symbol
Parameter
Min
Max
Unit
Condition
fB
Bit timing
-
1
MHz
PCLK=8M,t(BS1)=4tq,t(BS2)=3tq,
tq=tPCLK
12.18 ADC
ADC Chracteristics
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RX32F103x8
RX32F103xB
Parameter
Conditions
Min
Typ
Max
VDDA
Power supply
-
2.4
-
5.5
VREF+
Positive reference
voltage
Current on the VREF
input pin
ADC clock
frequency
Sampling rate
-
External trigger
frequency
IVREF
fADC
fs(2)
fTRIG(2)
VAIN (3)
Conversion voltage
range
RAIN(2)
External input
impedance
Sampling switch
resistance
Internal sample and
hold capacitor
Calibration time
RADC
CADC(2)
t CAL(2)
tlat(2)
tlatr (2)
t s(2)
VDDA
Unit
V
V
-
-
160(1)
220(1)
-
0.5
-
12
MHz
-
0.036
-
0.857
MHz
fADC = 12MHz
-
-
706
kHz
-
-
17
1/fADC
0 (VSSA or
VREF -tied to
ground)
-
-
VREF+
V
-
50
kΩ
-
-
1
kΩ
-
-
8.7
pF
See Equation 1 and
Table 47 for details
fADC = 12 MHz
6.92
-
83
µA
µs
1/fADC
Injection trigger
conversion latency
fADC = 12 MHz
-
-
0.25
µs
-
-
-
3(4)
1/fADC
Regular trigger
conversion latency
fADC = 12 MHz
-
-
0.17
µs
-
-
-
2
Sampling time
fADC = 12 MHz
0.125
-
19.96
µs
-
1.5
-
239.5
1/fADC
1/fADC
tSTAB(2)
Power-up time
-
0
0
1
µs
tCONV(2)
Total conversion
time (including
sampling time)
fADC = 12 MHz
1.17
-
21
µs
-
14 to 252 (tS for sampling +12.5 for successive
approximation)
1. Guaranteed based on test during characterization.
2. Guaranteed by design.
RAIN max for fADC = 12 MHz(1)
Ts (cycles)
tS (µs)
RAIN max (kΩ)
1.5
0.13
0.4
7.5
0.63
5.9
13.5
1.13
11.4
28.5
2.38
25.2
41.5
3.46
37.2
55.5
4.63
50
71.5
5.96
NA
239.5
19.96
NA
1/fADC
ADC accuracy - limited test conditions(1)(2)
Symbol
Parameter
Test conditions
Typ
Max(3)
Unit
ET
Total unadjusted error
fPCLK2 = 72 MHz,
±7
±8
LSB
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RX32F103xB
EO
Offset error
fADC = 12 MHz,
RAIN < 10 kΩ,
VDDA = 3 V to 5 V
±6
±7
EG
Gain error
TA = 25 °C
±5
±6
ED
Differential linearity
error
Integral linearity error
Measurements made
after
ADC calibration
±0.7
±1.5
±1.5
±2.5
EL
12.19 Temperature sensor
VCC=3.3V
Symbol
TL
Avg_Slope
V25
Tstart
TS_temp
VCC=5V
Symbol
Parameter
VSENSE linearity with temperature
Average slope
Voltage at 25 °C
Startup time
ADC sampling time when reading the
temperature
Parameter
Min
1.4
4
-
Min
Typ
±2
3.5
1.47
5
Max
±5
1.53
10
17.1
Unit
°C
mV/°C
V
µs
µs
Typ
Max
Unit
±10
°C
TL
VSENSE linearity with temperature
±5
Avg_Slope
Average slope
3.4
V25
Voltage at 25 °C
1.4
1.43
Tstart
Startup time
4
-
TS_temp
ADC sampling time when reading
the temperature
-
mV/°C
1.46
V
10
µs
17.1
µs
TPS 不兼容, 公式说明如下:
读温度为使用传感器:
利用下列公式得出温度
温度(°C) = {(𝐶𝐶𝐶𝐶𝐶𝐶𝐶𝐶𝐵𝐵 - 𝐶𝐶𝐶𝐶𝐶𝐶𝐶𝐶𝐴𝐴𝐴𝐴𝐴𝐴 ) / Avg_Slope} + 25
备注: VDD=3.3V: 𝐶𝐶𝐶𝐶𝐶𝐶𝐶𝐶𝐵𝐵 = 1813.6
VDD=5V: 𝐶𝐶𝐶𝐶𝐶𝐶𝐶𝐶𝐵𝐵 = 1175.7
𝐶𝐶𝐶𝐶𝐶𝐶𝐶𝐶𝐵𝐵 :Offset 数值
Avg_Slope=4.412
Avg_Slope=2.849
𝐶𝐶𝐶𝐶𝐶𝐶𝐶𝐶𝐴𝐴𝐴𝐴𝐴𝐴 :在不同温度下,ADC 转换的数值
。
Avg_Slope :温度与𝐶𝐶𝐶𝐶𝐶𝐶𝐶𝐶𝐴𝐴𝐴𝐴𝐴𝐴 曲线的平均斜率(单位为 code/ °C )
12.20 CMP
Symbol
Parameter
CONDITIONS
VDD5
ICC
Operating
VDD=3.3V,0
MIN
TYP
MAX
2.5
3.3
5.5
UNIT
S
V
22.4
26
46.5
uA
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RX32F103xB
current
ICC
Operating
current
VTH
阈值电压
VOS
Input offset
voltage
VCM=VDD
/2;
响应时
间
VHY(rise)
VHY(fall)
Signal low
to high
hysteresis
Signal high
VDD=3.3V,1
27.5
38
48.5
VDD=3.3V,10
22
60
57.4
VDD=3.3V,11
17.5
100
51
VDD=5V,0
21.8
26
61.9
VDD=5V,1
19.2
38
61.3
VDD=5V,10
19.7
60
66.5
VDD=5V,11
22.3
100
67
VTH[3:0]
VDD/
2
-10
V
10
ICC=100u,
191
V(INP)V(INN)=100m
V
ICC=100u,
188
V(INP)V(INN)=100mV
ICC=60u,
230
V(INP)V(INN)=100m
V
ICC=60u,
220
V(INP)V(INN)=100mV
ICC=38u,
290
V(INP)V(INN)=100m
V
ICC=38u,
279
V(INP)V(INN)=100mV
ICC=26u,
412
V(INP)V(INN)=100m
V
ICC=26u,
430
uA
mV
ns
V(INP)V(INN)=100mV
0
0.5
0
4.5
1
1.5
5
6.5
10
5
10
12.5
11
9
20
24.5
0
0.5
0
4.5
mV
mV
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RX32F103x8
RX32F103xB
to low
hysteresis
1
1.5
5
6.5
10
5
10
12.5
11
9
20
24.5
12.21 OPA/PGA
OPA
Symbol
Parameter
VDD5
电源电压
ICC
Operating current
CONDITIONS
MIN
TYP
2.5
MAX
UNITS
5.5
V
UINT GAIN,VCC=3.3V
330
uA
UINT GAIN,VCC=5V
390
uA
CMIR
共模輸入电压
VOS(IN)
输入失调电压
VCC=3.3V
AV
开环增益(条
CLOAD=25pF
84
85
15
0
VDD
32
VCC=5V
V
mV
37
mV
100
dB
件)
GBW
单位增益带宽
CLOAD=25pF/ RLOAD=4K
10
PM
相位裕度
CLOAD=25pF/ RLOAD=4K
70
SR
压摆率
CLOAD=25pF
TWAKEUP
唤醒时间 0.1%
VCC=3.3V,CLOAD=25pF
Current source wakeup
VCC=3.3V,RLOAD=4K
Current source wakeup
精度
MHz
degree
8
10
V/usec
0.18
0.24
us
24.2
26.2
(Unity gain)
VCC=3.3V,CLOAD=25pF
OPA wake up Current source
ready