74HC164N

74HC164 8-Bit Serial-Input/ Parallel-Output Shift Register High–Performance Silicon–Gate CMOS The 74HC164A is identical in pinout to the LS164. The device inputs are compatible with standard CMOS outputs; with pullup resistors, they are compatible with LSTTL outputs. The MC74HC164A is an 8–bit, serial–input to parallel–output shift register. Two serial data inputs, A1 and A2, are provided so that one input may be used as a data enable. Data is entered on each rising edge of the clock. The active–low asynchronous Reset overrides the Clock and Serial Data inputs. • • • • • • • DIP–14 N SUFFIX CASE 646 SOP–14 D SUFFIX CASE 751A Output Drive Capability: 10 LSTTL Loads Outputs Directly Interface to CMOS, NMOS, and TTL Operating Voltage Range: 2 to 6 V Low Input Current: 1 µA High Noise Immunity Characteristic of CMOS Devices In Compliance with the Requirements Defined by JEDEC Standard No. 7A Chip Complexity: 244 FETs or 61 Equivalent Gates LOGIC DIAGRAM PIN ASSIGNMENT SERIAL DATA INPUTS A1 A2 3 1 4 DATA 2 CLOCK RESET QA QB 5 QC 6 QD 10 QE 11 QF 12 QG 13 QH 8 9 PARALLEL DATA OUTPUTS A1 1 14 VCC A2 2 13 QH QA 3 12 QG QB 4 11 QF QC 5 10 QE QD 6 9 RESET GND 7 8 CLOCK PIN 14 = VCC PIN 7 = GND FUNCTION TABLE Inputs Reset Clock A1 A2 QA QB L H H H X ORDERING INFORMATION Outputs X X H D X X D H … QH Device L … L No Change D QAn … QGn D QAn … QGn L Package Shipping 74HC164N DIP–14 2000 / Box 74HC164M/TR SOP–14 2500 / Reel D = data input QAn – QGn = data shifted from the preceding stage on a rising edge at the clock input. http://www.hgsemi.com.cn 1 2018 AUG 74HC164 ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎ ÎÎÎ MAXIMUM RATINGS* Symbol VCC Parameter DC Supply Voltage (Referenced to GND) Value Unit – 0.5 to + 7.0 V Vin DC Input Voltage (Referenced to GND) – 0.5 to VCC + 0.5 V Vout DC Output Voltage (Referenced to GND) – 0.5 to VCC + 0.5 V DC Input Current, per Pin ± 20 mA Iin Iout DC Output Current, per Pin ± 25 mA ICC DC Supply Current, VCC and GND Pins ± 50 mA PD Power Dissipation in Still Air, 750 500 450 mW Tstg Storage Temperature – 65 to + 150 _C TL Plastic DIP† SOIC Package† TSSOP Package† This device contains protection circuitry to guard against damage due to high static voltages or electric fields. However, precautions must be taken to avoid applications of any voltage higher than maximum rated voltages to this high–impedance circuit. For proper operation, Vin and Vout should be constrained to the range GND (Vin or Vout) VCC. Unused inputs must always be tied to an appropriate logic voltage level (e.g., either GND or VCC). Unused outputs must be left open. v v _C Lead Temperature, 1 mm from Case for 10 Seconds (Plastic DIP, SOIC or TSSOP Package) 260 *Maximum Ratings are those values beyond which damage to the device may occur. Functional operation should be restricted to the Recommended Operating Conditions. †Derating — Plastic DIP: – 10 mW/_C from 65_ to 125_C SOIC Package: – 7 mW/_C from 65_ to 125_C TSSOP Package: – 6.1 mW/_C from 65_ to 125_C For high frequency or heavy load considerations, see Chapter 2 of the ON Semiconductor High–Speed CMOS Data Book (DL129/D). ÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ v ÎÎÎÎ v ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ v ÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ v ÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ v ÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ v ÎÎÎÎ v ÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ v ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ RECOMMENDED OPERATING CONDITIONS Symbol VCC Vin, Vout Parameter Min Max Unit 2.0 6.0 V DC Supply Voltage (Referenced to GND) DC Input Voltage, Output Voltage (Referenced to GND) TA Operating Temperature, All Package Types tr, tf Input Rise and Fall Time (Figure 1) 0 VCC V – 55 + 125 _C 0 0 0 1000 500 400 ns VCC = 2.0 V VCC = 4.5 V VCC = 6.0 V DC ELECTRICAL CHARACTERISTICS (Voltages Referenced to GND) Guaranteed Limit Symbol Parameter Test Conditions VCC V –55_C to 25_C 85_C 125_C Unit VIH Minimum High–Level Input Voltage Vout = 0.1 V or VCC – 0.1 V |Iout| 20 µA 2.0 3.0 4.5 6.0 1.5 2.1 3.15 4.2 1.5 2.1 3.15 4.2 1.5 2.1 3.15 4.2 V VIL Maximum Low–Level Input Voltage Vout = 0.1 V or VCC – 0.1 V |Iout| 20 µA 2.0 3.0 4.5 6.0 0.5 0.9 1.35 1.8 0.5 0.9 1.35 1.8 0.5 0.9 1.35 1.8 V Minimum High–Level Output Voltage Vin = VIH or VIL |Iout| 20 µA 2.0 4.5 6.0 1.9 4.4 5.9 1.9 4.4 5.9 1.9 4.4 5.9 V 3.0 4.5 6.0 2.48 3.98 5.48 2.34 3.84 5.34 2.20 3.70 5.20 VOH Vin = VIH or VIL |Iout| |Iout| |Iout| http://www.hgsemi.com.cn 2 2.4 mA 4.0 mA 5.2 mA 2018 AUG 74HC164 ÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ v v ÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ v ÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ v ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ v ÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ v ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ DC ELECTRICAL CHARACTERISTICS (Voltages Referenced to GND) Guaranteed Limit Symbol VOL Parameter Test Conditions Maximum Low–Level Output Voltage Vin = VIH or VIL |Iout| 20 µA Vin = VIH or VIL |Iout| |Iout| |Iout| Iin ICC 2.4 mA 4.0 mA 5.2 mA VCC V –55_C to 25_C 2.0 4.5 6.0 85_C 125_C 0.1 0.1 0.1 0.1 0.1 0.1 0.1 0.1 0.1 3.0 4.5 6.0 0.26 0.26 0.26 0.33 0.33 0.33 0.40 0.40 0.40 Unit V Maximum Input Leakage Current Vin = VCC or GND 6.0 ± 0.1 ± 1.0 ± 1.0 µA Maximum Quiescent Supply Current (per Package) Vin = VCC or GND Iout = 0 µA 6.0 4 40 160 µA NOTE: Information on typical parametric values can be found in Chapter 2 of the ON Semiconductor High–Speed CMOS Data Book (DL129/D). ÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ v ÎÎÎÎ v ÎÎÎ ÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ AC ELECTRICAL CHARACTERISTICS (CL = 50 pF, Input tr = tf = 6 ns) Guaranteed Limit VCC V –55_C to 25_C 85_C 125_C Unit fmax Maximum Clock Frequency (50% Duty Cycle) (Figures 1 and 4) 2.0 3.0 4.5 6.0 10 20 40 50 10 20 35 45 10 20 30 40 MHz tPLH, tPHL Maximum Propagation Delay, Clock to Q (Figures 1 and 4) 2.0 3.0 4.5 6.0 160 100 32 27 200 150 40 34 250 200 48 42 ns tPHL Maximum Propagation Delay, Reset to Q (Figures 2 and 4) 2.0 3.0 4.5 6.0 175 100 35 30 220 150 44 37 260 200 53 45 ns tTLH, tTHL Maximum Output Transition Time, Any Output (Figures 1 and 4) 2.0 3.0 4.5 6.0 75 27 15 13 95 32 19 16 110 36 22 19 ns Maximum Input Capacitance — 10 10 10 pF Symbol Cin Parameter NOTES: 1. For propagation delays with loads other than 50 pF, see Chapter 2 of the ON Semiconductor High–Speed CMOS Data Book (DL129/D). 2. Information on typical parametric values can be found in Chapter 2 of the ON Semiconductor High–Speed CMOS Data Book (DL129/D). Typical @ 25°C, VCC = 5.0 V CPD Power Dissipation Capacitance (Per Package)* 180 pF * Used to determine the no–load dynamic power consumption: P D = C PD V CC 2 f + I CC V CC . For load considerations, see Chapter 2 of the ON Semiconductor High–Speed CMOS Data Book (DL129/D). http://www.hgsemi.com.cn 3 2018 AUG 74HC164 ÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎ v ÎÎÎÎ v ÎÎÎ ÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ ÎÎÎÎ ÎÎÎ TIMING REQUIREMENTS (Input tr = tf = 6 ns) Guaranteed Limit Symbol Parameter VCC V –55_C to 25_C 85_C 125_C Unit tsu Minimum Setup Time, A1 or A2 to Clock (Figure 3) 2.0 3.0 4.5 6.0 25 15 7 5 35 20 8 6 40 25 9 6 ns th Minimum Hold Time, Clock to A1 or A2 (Figure 3) 2.0 3.0 4.5 6.0 3 3 3 3 3 3 3 3 3 3 3 3 ns Minimum Recovery Time, Reset Inactive to Clock (Figure 2) 2.0 3.0 4.5 6.0 3 3 3 3 3 3 3 3 3 3 3 3 ns tw Minimum Pulse Width, Clock (Figure 1) 2.0 3.0 4.5 6.0 50 26 12 10 60 35 15 12 75 45 20 15 ns tw Minimum Pulse Width, Reset (Figure 2) 2.0 3.0 4.5 6.0 50 26 12 10 60 35 15 12 75 45 20 15 ns Maximum Input Rise and Fall Times (Figure 1) 2.0 3.0 4.5 6.0 1000 800 500 400 1000 800 500 400 1000 800 500 400 ns trec tr, tf NOTE: Information on typical parametric values can be found in Chapter 2 of the ON Semiconductor High–Speed CMOS Data Book (DL129/D). http://www.hgsemi.com.cn 4 2018 AUG 74HC164 PIN DESCRIPTIONS INPUTS register is completely static, allowing clock rates down to DC in a continuous or intermittent mode. A1, A2 (Pins 1, 2) Serial Data Inputs. Data at these inputs determine the data to be entered into the first stage of the shift register. For a high level to be entered into the shift register, both A1 and A2 inputs must be high, thereby allowing one input to be used as a data–enable input. When only one serial input is used, the other must be connected to VCC. OUTPUTS QA – QH (Pins 3, 4, 5, 6, 10, 11, 12, 13) Parallel Shift Register Outputs. The shifted data is presented at these outputs in true, or noninverted, form. CONTROL INPUT Clock (Pin 8) Reset (Pin 9) Shift Register Clock. A positive–going transition on this pin shifts the data at each stage to the next stage. The shift Active–Low, Asynchronous Reset Input. A low voltage applied to this input resets all internal flip–flops and sets Outputs QA – QH to the low level state. SWITCHING WAVEFORMS tr tw tf VCC 90% 50% 10% CLOCK 50% GND GND tPHL tw 1/fmax tPLH Q VCC RESET Q 50% tPHL 90% 50% 10% trec VCC CLOCK tTLH 50% GND tTHL Figure 2. Figure 1. TEST POINT OUTPUT VALID VCC A1 OR A2 50% GND tsu DEVICE UNDER TEST CL* th VCC CLOCK 50% GND *Includes all probe and jig capacitance Figure 3. http://www.hgsemi.com.cn Figure 4. Test Circuit 5 2018 AUG 74HC164 EXPANDED LOGIC DIAGRAM CLOCK A1 8 1 2 D D Q Q D Q D Q D Q D Q D Q D Q A2 R R RESET R R R R R R 9 3 QA 4 5 QB 6 QC QD 10 QE 11 QF 12 QG 13 QH TIMING DIAGRAM CLOCK A1 A2 RESET QA QB QC QD QE QF QG QH http://www.hgsemi.com.cn 6 2018 AUG